公开(公告)号：US20050089210A1

公开(公告)日：2005-04-28

申请号：US10677880

申请日：2003-10-02

申请人： Ulrich Muller ,  Gustav Peuker ,  Detlef Sonnenschein ,  Detlef Winter ,  Michael Degner ,  Gerd Thiemann

发明人： Ulrich Muller ,  Gustav Peuker ,  Detlef Sonnenschein ,  Detlef Winter ,  Michael Degner ,  Gerd Thiemann

IPC分类号： B21B37/42 ,  B21B37/44 ,  B21B37/54 ,  B21B37/76 ,  B21B38/00 ,  B21B38/02 ,  B21B38/04 ,  B21B45/02 ,  B21C51/00 ,  G01B11/30 ,  G06K9/00

CPC分类号： G01B11/306 ,  B21B37/42 ,  B21B37/44 ,  B21B37/54 ,  B21B37/76 ,  B21B38/006 ,  B21B38/02 ,  B21B38/04 ,  B21B45/0218

摘要： The invention relates to a flatness measurement and control system for metal strip, which makes it possible to obtain improved strip or coil quality by a simple and effective measurement of departures from flatness and to control the finishing parameters through the evaluation of a line pattern on the strip surface or on the end face of a coil as it is coiled.

摘要翻译： 本发明涉及一种用于金属带的平坦度测量和控制系统，其通过简单而有效地测量平直度而获得改善的带状或线圈质量，并且通过评估线形图案来控制整理参数 带状表面或线圈在其盘绕时的端面上。

公开(公告)号：US06286349B1

公开(公告)日：2001-09-11

申请号：US09441007

申请日：1999-11-16

申请人： Ulrich Müller ,  Gustav Peuker ,  Detlef Sonnenschein ,  Detlef Winter ,  Michael Degner ,  Gerd Thiemann

发明人： Ulrich Müller ,  Gustav Peuker ,  Detlef Sonnenschein ,  Detlef Winter ,  Michael Degner ,  Gerd Thiemann

IPC分类号： B21B3728

CPC分类号： G01B11/306 ,  B21B37/42 ,  B21B37/44 ,  B21B37/54 ,  B21B37/76 ,  B21B38/006 ,  B21B38/02 ,  B21B38/04 ,  B21B45/0218

摘要： The invention relates to a flatness measurement and control system for metal strip, which makes it possible to obtain improved strip or coil quality by a simple and effective measurement of departures from flatness and to control the finishing parameters through the evaluation of a line pattern on the strip surface or on the end face of a coil as it is coiled.

摘要翻译： 本发明涉及一种用于金属带的平坦度测量和控制系统，其通过简单而有效地测量平直度而获得改善的带状或线圈质量，并且通过评估线形图案来控制整理参数 带状表面或线圈在其盘绕时的端面上。

公开(公告)号：US07489820B1

公开(公告)日：2009-02-10

申请号：US09787172

申请日：1999-09-07

申请人： Ulrich Muller ,  Detlef Winter ,  Detlef Sonnenschein ,  Rudolf Stockmeyer ,  Gustav Peuker

发明人： Ulrich Muller ,  Detlef Winter ,  Detlef Sonnenschein ,  Rudolf Stockmeyer ,  Gustav Peuker

IPC分类号： G06K9/48

CPC分类号： G01B11/306

摘要： The invention relates to a device for producing a pattern on a surface for measuring, using a projector and a slide. The invention also relates to various advantageous embodiments of the measuring system.

摘要翻译： 本发明涉及一种用于在表面上生产图案的装置，用于使用投影仪和幻灯片进行测量。 本发明还涉及测量系统的各种有利实施例。

公开(公告)号：US20050157302A1

公开(公告)日：2005-07-21

申请号：US10503665

申请日：2003-02-06

申请人： Hagen Krambeer ,  Ulrich Muller ,  Gustav Peuker ,  Harald Peters ,  Detlef Sonnenschein

发明人： Hagen Krambeer ,  Ulrich Muller ,  Gustav Peuker ,  Harald Peters ,  Detlef Sonnenschein

IPC分类号： B21B38/00 ,  B21B38/02 ,  G01B11/25 ,  G01B11/30 ,  G01N21/89 ,  G01N21/84 ,  G01N21/88

CPC分类号： G01B11/25 ,  B21B38/00 ,  B21B38/02 ,  G01B11/306 ,  G01N21/8903

摘要： The invention relates to a method and a device for optically measuring the surface shape and for the optical surface inspection of moving elongated bodies, according to which surface shape measurement and surface inspection are integrated. A projector applies a line pattern to the object to be measured. A camera registers the surface of the object to be measured and compares the image information with a reference pattern. Two high-resolution cameras additionally detect surface defects on the object to be measured. The inventive measuring technique is especially suitable for a combined planarity and surface measurement of metal strips in rolling installations.

摘要翻译： 本发明涉及一种用于光学测量表面形状和移动细长体的光学表面检查的方法和装置，根据该方法和装置将表面形状测量和表面检查结合在一起。 投影机将线条图案应用于要测量的对象。 相机注册要测量的对象的表面，并将图像信息与参考图案进行比较。 两个高分辨率摄像机还可以检测待测物体上的表面缺陷。 本发明的测量技术特别适用于轧制设备中金属条的组合平面度和表面测量。

公开(公告)号：US07317542B2

公开(公告)日：2008-01-08

申请号：US10503665

申请日：2003-02-06

申请人： Hagen Krambeer ,  Ulrich Müller ,  Gustav Peuker ,  Harald Peters ,  Detlef Sonnenschein

发明人： Hagen Krambeer ,  Ulrich Müller ,  Gustav Peuker ,  Harald Peters ,  Detlef Sonnenschein

IPC分类号： G01B11/24

CPC分类号： G01B11/25 ,  B21B38/00 ,  B21B38/02 ,  G01B11/306 ,  G01N21/8903

摘要： The invention relates to a method and a device for optically measuring the surface shape and for the optical surface inspection of moving elongated bodies, according to which surface shape measurement and surface inspection are integrated. A projector applies a line pattern to the object to be measured. A camera registers the surface of the object to be measured and compares the image information with a reference pattern. Two high-resolution cameras additionally detect surface defects on the object to be measured. The inventive measuring technique is especially suitable for a combined planarity and surface measurement of metal strips in rolling installations.

摘要翻译： 本发明涉及一种用于光学测量表面形状和移动细长体的光学表面检查的方法和装置，根据该方法和装置将表面形状测量和表面检查结合在一起。 投影机将线条图案应用于要测量的对象。 相机注册要测量的对象的表面，并将图像信息与参考图案进行比较。 两个高分辨率摄像机还可以检测待测物体上的表面缺陷。 本发明的测量技术特别适用于轧制设备中金属条的组合平面度和表面测量。