MÉMOIRE COMPRENANT UN CIRCUIT POUR DÉTECTER UNE IMPULSION TRANSITOIRE SUR UNE LIGNE DE LA MÉMOIRE
    91.
    发明申请
    MÉMOIRE COMPRENANT UN CIRCUIT POUR DÉTECTER UNE IMPULSION TRANSITOIRE SUR UNE LIGNE DE LA MÉMOIRE 审中-公开
    包含用于检测存储器线上的瞬态脉冲的电路的存储器

    公开(公告)号:WO2014135758A1

    公开(公告)日:2014-09-12

    申请号:PCT/FR2014/050336

    申请日:2014-02-18

    Applicant: INSIDE SECURE

    Abstract: L'invention concerne une mémoire comprenant au moins une ligne (WLm) à laquelle sont reliées des cellules mémoire. Un circuit de commande est configuré pour émettre un signal de fin d'opération transitoire (OPm) à la fin de l'exécution d'une opération sur au moins une cellule mémoire, et un circuit de détection d'une impulsion transitoire (DC1) relié à la ligne (WLm) de la mémoire est configuré pour fournir un signal de détection d'une impulsion transitoire lorsqu'un front descendant de l'amplitude d'un signal en tension (Csm) apparaît sur la ligne de la mémoire en l'absence du signal de fin d'opération.

    Abstract translation: 本发明涉及包含存储器单元连接到的至少一条线(WLm)的存储器。 控制电路被配置为在执行至少一个存储单元中的操作结束时发出瞬态操作结束信号(OPm),以及用于检测连接到线路(WLm)的瞬态脉冲(DC1)的电路 存储器被配置为当在没有操作结束信号的情况下在存储器的行上出现电压信号(Csm)的幅度的下降沿时,指示已经检测到瞬态脉冲的信号。

    SEMICONDUCTOR DEVICE IDENTIFIER GENERATION METHOD AND SEMICONDUCTOR DEVICE
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    发明申请
    SEMICONDUCTOR DEVICE IDENTIFIER GENERATION METHOD AND SEMICONDUCTOR DEVICE 审中-公开
    半导体器件识别器生成方法和半导体器件

    公开(公告)号:WO2007119190A2

    公开(公告)日:2007-10-25

    申请号:PCT/IB2007/051213

    申请日:2007-04-04

    Abstract: A method (100) is disclosed of generating an identifier from a semiconductor device (600) comprising a volatile memory (610) having a plurality of memory cells. The method comprises causing (110) the memory cells to assume a plurality of pseudo-random bit values inherent to variations in the microstructure of the memory cells; retrieving (120) the bit values from at least a subset of the plurality of memory cells; and generating the identifier from the retrieved bit values. The method (100) is based on the realization that a substantial amount of the cells of a volatile memory can assume a bit value that is governed by underlying variations in manufacturing process parameters; this for instance occurs at power-up for an SRAM or after a time period without refresh for a DRAM. This can be used for several identification purposes, such as identifying a semiconductor device (600) comprising the volatile memory (610), or for secure key generation by mapping error- correcting code words onto the identifier bit locations. The present invention further includes a semiconductor device (600, 1000) configured to be subjectable to the method (100) of the present invention.

    Abstract translation: 公开了一种从包括具有多个存储单元的易失性存储器(610)的半导体器件(600)生成标识符的方法(100)。 该方法包括使(110)存储器单元呈现存储器单元的微结构变化所固有的多个伪随机位值; 从所述多个存储器单元的至少一个子集中检索(120)所述位值; 以及从所检索的位值生成所述标识符。 方法(100)基于以下认识:易失性存储器的大量单元可以采用受制造工艺参数的潜在变化控制的位值; 这例如在SRAM的上电时或者在不刷新DRAM的时间段之后发生。 这可以用于多个识别目的,例如识别包括易失性存储器(610)的半导体器件(600),或者通过将纠错码字映射到标识符位置上来进行安全密钥生成。 本发明还包括被配置为可受本发明的方法(100)的半导体器件(600,1000)。

    SYSTEMS AND METHODS FOR WRITE PROTECTION OF NON-VOLATILE MEMORY DEVICES
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    发明申请
    SYSTEMS AND METHODS FOR WRITE PROTECTION OF NON-VOLATILE MEMORY DEVICES 审中-公开
    用于非易失性存储器件的写保护的系统和方法

    公开(公告)号:WO2005114668A3

    公开(公告)日:2006-09-14

    申请号:PCT/US2005017407

    申请日:2005-05-18

    Inventor: NEWELL RUSSELL D

    Abstract: A write protection mechanism may be implemented that is external to a non-volatile memory device (210) and/or that is external to controller/s (220, 230) that interface with the non-volatile memory device (210), thus providing increased security over unauthorized and/or undesirable write cycles to the memory device (210). Write protection security may be further enhanced by providing a write protection control signal (272) that is external to the non-volatile memory and attached memory controller/s (220, 230), thus preventing accidental or intentional override.

    Abstract translation: 可以实现在非易失性存储器设备(210)外部和/或与非易失性存储器设备(210)接口的控制器(220,230)外部的写保护机制,从而提供 增加了对存储设备(210)的未授权和/或不期望的写入周期的安全性。 通过提供非易失性存储器和附加的存储器控​​制器(220,230)外部的写保护控制信号(272),可以进一步增强写保护安全性,从而防止意外或有意的覆盖。

    MEMORY BLOCK LOCKING APPARATUS AND METHODS
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    发明申请
    MEMORY BLOCK LOCKING APPARATUS AND METHODS 审中-公开
    存储器锁定装置和方法

    公开(公告)号:WO2006081105A1

    公开(公告)日:2006-08-03

    申请号:PCT/US2006/001625

    申请日:2006-01-18

    CPC classification number: G11C16/22

    Abstract: Memory block locking apparatus and methods are provided. A method of operating a memory device includes preventing programming of upper and lower bound regions of a memory array of the memory device and any regions of the memory array having addresses between addresses of the upper and lower bound regions or preventing programming of any regions of the memory array having addresses greater than the address of the upper bound region and/or addresses less than the address of the lower bound region.

    Abstract translation: 提供了内存块锁定装置和方法。 一种操作存储器件的方法包括防止对存储器件的存储器阵列的上限区域和下限区域进行编程,并且存储器阵列的任何区域在上限区域和下限区域的地址之间具有地址,或者阻止对该区域的编程 存储器阵列具有大于上限区域的地址的地址和/或小于下限区域的地址的地址。

    SECURED PHASE-CHANGE DEVICES
    98.
    发明申请
    SECURED PHASE-CHANGE DEVICES 审中-公开
    安全相变设备

    公开(公告)号:WO2005077025A3

    公开(公告)日:2006-03-23

    申请号:PCT/US2005003925

    申请日:2005-02-08

    Abstract: An electronic device for securing the contents of data storage and processing elements. The device includes a security element and a phase-change element connected in a parallel arrangement. The security element is a three-terminal device, such as a conventional transistor or three-terminal phase-change device, having an ON state and an OFF state which differ with respect to resistance and regulate electronic access to the phase-change element by controlling the flow of electrical current applied to the parallel combination. In the ON state, the resistance of the security element is less than that of the phase-change element, thereby preventing, inhibiting or confusion a determination of the resistance of the phase-change element. In this PROTECT mode, the contents of the phase-change element are secured. In the OFF state, the resistance of the security element is greater than that of the phase-change material so that the resistance of the parallel combination approaches that of the phase-change element. In this READ mode, the resistance and information content of the phase-change element can be determined. The phase-change element includes a phase-change material and is preferably a chalcogenide based element. The phase-change element may perform a storage or processing function and includes registers and weighting devices as preferred embodiments.

    Abstract translation: 一种用于保护数据存储和处理元件的内容的电子设备。 该装置包括以并联装置连接的安全元件和相变元件。 安全元件是诸如常规晶体管或三端子相变装置的三端子装置,其具有关于电阻而不同的导通状态和断开状态,并通过控制来调节对相变元件的电子接入 施加到并联组合的电流流动。 在ON状态下,安全元件的电阻小于相变元件的电阻,由此防止或混淆确定相变元件的电阻。 在该PROTECT模式下,确保相变元件的内容。 在OFF状态下,安全元件的电阻大于相变材料的电阻,使得并联组合的电阻接近相变元件的电阻。 在该READ模式中,可以确定相变元件的电阻和信息内容。 相变元件包括相变材料,优选为基于硫族化物的元件。 相变元件可以执行存储或处理功能,并且包括作为优​​选实施例的寄存器和加权设备。

    不揮発性半導体記憶装置用セクタ保護回路、セクタ保護方法、および不揮発性半導体記憶装置
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    发明申请
    不揮発性半導体記憶装置用セクタ保護回路、セクタ保護方法、および不揮発性半導体記憶装置 审中-公开
    用于非挥发性半导体存储器件和不挥发性半导体存储器件的部件保护电路和部件保护方法

    公开(公告)号:WO2005101423A1

    公开(公告)日:2005-10-27

    申请号:PCT/JP2004/005268

    申请日:2004-04-13

    Inventor: 黒崎 一秀

    CPC classification number: G11C16/22 G11C16/3477

    Abstract: 本発明のセクタ保護回路は、セクタ毎またはセクタグループ毎にセクタの保護状態の有無を意味するデータを格納する不揮発性格納部と、セクタ毎またはセクタグループ毎にセクタの保護状態の有無を意味するデータを格納する揮発性格納部とを有する。通常は、前記不揮発性格納部と前記揮発性格納部の少なくとも一方にセクタまたはセクタグループの保護を示すデータが格納されている場合には当該セクタまたはセクタグループを保護する。この状態において、所定のコマンドを受けると、前記揮発性格納部のデータのみを有効とする。

    Abstract translation: 扇区保护电路包括:非易失性存储部分,用于存储指示每个扇区或每个扇区组的扇区保护状态的有无的数据; 以及易失性存储部分,用于存储指示每个扇区或每个扇区组的扇区保护状态的存在/不存在的数据。 当指示扇区或扇区组的保护的数据被存储在非易失性存储部分和易失性存储部分中的至少一个中时,扇区或扇区组被保护。 如果在该状态下接收到预定命令,则只有易失性存储部中的数据被验证。

    NONVOLATILE MEMORY
    100.
    发明申请
    NONVOLATILE MEMORY 审中-公开
    非诺基亚内存

    公开(公告)号:WO2005076281A1

    公开(公告)日:2005-08-18

    申请号:PCT/JP2005/002108

    申请日:2005-02-04

    Inventor: KATO, Kiyoshi

    CPC classification number: G11C16/22 G11C29/702

    Abstract: A memory cell for storing 1-bit data is formed by using at least two memory elements in the OTP type nonvolatile memory using a memory element that have two states and can transit only in one direction. In the OTP type nonvolatile memory using a memory element that has two states of an H state (a first state) and an L ( a second state) state (hereinafter simply referred to as H and L) and can electrically transit only in one direction from L to H, a memory cell for storing 1-bit data is formed by using two or more memory elements.

    Abstract translation: 用于存储1位数据的存储单元通过使用具有两种状态的存储器元件的OTP型非易失性存储器中的至少两个存储元件来形成,并且只能在一个方向上传送。 在使用具有H状态(第一状态)和L(第二状态)状态(以下简称为H和L)的两个状态的存储元件的OTP型非易失性存储器中,并且只能在一个方向 从L到H,通过使用两个或更多个存储元件形成用于存储1位数据的存储单元。

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