観察システム、光学部品、及び観察方法
    131.
    发明申请
    観察システム、光学部品、及び観察方法 审中-公开
    观察系统,光学部件和观察方法

    公开(公告)号:WO2016092674A1

    公开(公告)日:2016-06-16

    申请号:PCT/JP2014/082875

    申请日:2014-12-11

    Inventor: 金子 善興

    Abstract:  試料の所望の部分における3次元的な画像情報を精度良く取得することができる観察システム等を提供する。観察システム1は、対物レンズ14の光軸と直交する面に配列された複数のホールであって、励起光を上記光軸と平行な方向に沿って通過させる複数のホール134が設けられたホールユニット13と、複数のホール134の少なくとも1つ及び対物レンズ14を通過した励起光が試料SPに照射されることにより発生した蛍光を、対物レンズ14及び複数のホール134の少なくとも1つを介して受光し、画像信号を出力する撮像部16とを備え、複数のホール134は、各ホールを通過する励起光のビーム径が上記光軸方向において最小となる位置であるピンホール位置が互いに異なる複数種類のホールを含み、撮像部16は、受光した蛍光を、該蛍光が通過したホール134のXY平面における配置に応じて分離し、分離した蛍光ごとに画像信号を出力する。

    Abstract translation: 提供了能够从样本的期望部分精确地获取三维图像信息的观察系统。 观察系统1包括:孔单元13,设置有多个孔134,其排列在与物镜14的光轴正交的平面上,并且允许激发光沿着平行于光轴的方向通过; 以及成像单元16,其经由物镜14和多个孔134中的至少一个接收荧光,并输出图像信号,通过用通过至少一个的激发光照射样品SP而产生的荧光 多个孔134和物镜14.多个孔134包括具有彼此不同的针孔位置的多个类型的孔,其中通过每个孔的激发光的光束直径在光轴方向上最小化。 成像单元16根据荧光通过的孔134的布置在X-Y平面上分离所接收的荧光,并输出用于每个分离的荧光的图像信号。

    結像光学系、照明装置および顕微鏡装置
    132.
    发明申请
    結像光学系、照明装置および顕微鏡装置 审中-公开
    成像光学系统,照明装置和显微镜装置

    公开(公告)号:WO2016056651A1

    公开(公告)日:2016-04-14

    申请号:PCT/JP2015/078760

    申请日:2015-10-09

    Inventor: 福山 宏也

    Abstract:  中間像が光学素子に一致する位置で結像されても、中間像に光学素子の傷、異物および欠陥等が重なることを防止することを目的として、本発明の顕微鏡装置は、光源と、照明光を観察対象物に照射する照明光学系と、観察対象物からの光を集光する結像光学系と、集光された光を撮影する撮像素子(光検出器)とを備え、結像光学系が、最終像(I)および1つ以上の中間像(II)を形成する複数の結像レンズ(2),(3)と、いずれかの中間像(II)よりも物体(O)側に配置され、物体(O)からの光の波面に空間的な乱れを付与する第1の位相変調素子(5)と、第1の位相変調素子(5)との間に1つ以上の中間像(II)を挟む位置に配され、第1の位相変調素子(5)により物体(O)からの光の波面に付与された空間的な乱れを打ち消す第2の位相変調素子(6)とを備える結像光学系(1)を備え、結像レンズがハーシェルの条件を満たすように構成されている。

    Abstract translation: 本发明的目的是防止光学元件的划痕,异物等缺陷重叠在中间图像上,即使中间图像形成在与光学元件相匹配的位置。 该显微镜装置配备有:光源; 照明光学系统,用照明光照射被观察物品; 成像光学系统,其将来自待观察物品的光凝结; 以及对聚光进行成像的图像捕获元件(光检测器)。 图像形成光学系统配备有成像光学系统(1),其配备有多个成像透镜(2),(3),其形成最终图像(I)和一个或多个中间体 图像(II); 第一相位调制元件(5),其被设置成比任何中间图像(II)更靠近物体(O),并且对来自物体(O)的光的波前施加空间失真; 以及第二相位调制元件(6),其设置在将所述一个或多个中间图像(II)与所述第一相位调制元件(5)夹在一起的位置,并抵消由所述第一相位调制元件(5)施加的空间失真, 到来自物体(O)的光的波前。 图像形成透镜以满足赫歇尔条件的方式配置。

    結像光学系、照明装置および顕微鏡装置
    133.
    发明申请
    結像光学系、照明装置および顕微鏡装置 审中-公开
    成像光学系统,照明装置和显微镜装置

    公开(公告)号:WO2016056465A1

    公开(公告)日:2016-04-14

    申请号:PCT/JP2015/077973

    申请日:2015-10-01

    Inventor: 福山 宏也

    Abstract:  中間像が光学素子に一致する位置で結像されても、中間像に光学素子の傷、異物および欠陥等が重なることを防止し、且つリレー光学系における製造誤差が有っても鮮明な最終像を安定に取得することができる結像光学系を提供することを目的として、本発明の結像光学系は、光源(11)と、光源(11)からの照明光を観察対象物(A)に照射する照明光学系(12)と、観察対象物(A)からの光を集光する結像光学系(13)と、該結像光学系(13)により集光された光を撮影して画像を取得する撮像素子(光検出器)(14)とを備え、結像光学系(13)が、最終像(I)および少なくとも1つの中間像(II)を形成する複数の結像レンズ(2),(3)と、該結像レンズ(2),(3)により形成されるいずれかの中間像(II)よりも物体(O)側に配置され、物体(O)からの光の波面に空間的な乱れを付与する第1の位相変調素子(5)と、該第1の位相変調素子(5)との間に少なくとも1つの中間像(II)を挟む位置に配置され、第1の位相変調素子(5)により物体(O)からの光の波面に付与された空間的な乱れを打ち消す第2の位相変調素子(6)とを備え、前記第1および第2の位相変調素子の間の結像関係における光学倍率を調整するための光学倍率調整部(81)を有する。

    Abstract translation: 本发明的目的是提供一种图像形成光学系统,其防止光学元件的划痕,异物等缺陷叠加在中间图像上,即使中间图像形成在 位置匹配光学元件; 并且即使在中继光学系统中存在制造误差,也能够稳定地获得清晰的最终图像。 该图像形成光学系统配备有:光源(11); 照明光学系统(12),其利用来自光源(11)的照明光照射待观察的物品(A); 成像光学系统(13),其将来自待观察的制品(A)的光凝聚; 以及通过对由图像形成光学系统(13)聚光的光进行成像而获取图像的图像捕获元件(光检测器)(14)。 图像形成光学系统(13)配备有:形成最终图像(I)和至少一个中间图像(II)的多个图像形成透镜(2),(3) 第三相调制元件(5),其进一步朝着物体(O)设置,比由图像形成透镜(2),(3)形成的中间图像(II)中的任一个都赋予光的波前 从对象(O); 以及第二相位调制元件(6),其设置在与所述第一相位调制元件(5)一起夹入所述中间图像(II)中的至少一个的位置,并且抵消由所述第一相位调制元件(... 5)到来自物体(O)的光的波前。 图像形成光学系统(13)具有用于相对于第一和第二相位调制元件之间的图像形成关系调整光学倍率的光学倍率调节单元(81)。

    結像光学系、照明装置および観察装置
    134.
    发明申请
    結像光学系、照明装置および観察装置 审中-公开
    成像光学系统,照明装置和观察装置

    公开(公告)号:WO2016056148A1

    公开(公告)日:2016-04-14

    申请号:PCT/JP2014/084655

    申请日:2014-12-26

    Inventor: 福山 宏也

    Abstract:  中間像が光学素子に一致する位置で結像しても光学素子の傷、異物および欠陥等が中間像に重なることなく鮮明な最終像を取得する。最終像(I)および中間像(II)を形成する結像レンズ(2,3)と、結像レンズ(2,3)により形成される中間像(II)よりも物体(O)側に配置され、物体(O)からの光の波面に空間的な乱れを生じさせる位相変調を付与する波面錯乱素子(8)と、波面錯乱素子(8)との間に中間像(II)を挟む位置に配置され、中間像(II)を結像した光の波面に波面錯乱素子(8)により付与された空間的な乱れを打ち消す位相変調を付与する波面回復素子(9)とを備え、これら波面錯乱素子(8)および波面回復素子(9)が屈折率が異なる光学媒質および光学媒質からなり、これら光学媒質および光学媒質の界面形状により位相変調を付与可能な結像光学系(1)を提供する。

    Abstract translation: 即使中间图像形成在与光学元件相匹配的位置,本发明也可以获得清晰的最终图像,而不会产生重叠在中间图像上的光学元件的划痕,异物,缺陷等。 提供了一种成像光学系统(1),其配备有形成最终图像(I)和中间图像(II)的图像形成透镜(2,3)。 相对于由图像形成透镜(2,3)形成的中间图像(II)进一步朝向物体(O)设置的波前混淆元件(8),并且产生相位调制,所述相位调制引起来自光的波前面的空间失真 对象(O); 和波前恢复元件(9),其配置在与波前混淆元件(8)一起夹在中间图像(II)的位置,并将其施加到形成有中间图像(II)的光的波前, 相位调制抵消由波前混淆元件(8)所赋予的空间失真。 波前混淆元件(8)和波前恢复元件(9)包括光学介质和具有不同折射率的光学介质。 图像形成光学系统(1)能够作为光学介质和光学介质的界面形状的结果进行相位调制。

    RESOLUTION ENHANCEMENT FOR LIGHT SHEET MICROSCOPY SYSTEMS AND METHODS
    135.
    发明申请
    RESOLUTION ENHANCEMENT FOR LIGHT SHEET MICROSCOPY SYSTEMS AND METHODS 审中-公开
    光学显微镜系统和方法的分辨率增强

    公开(公告)号:WO2016049368A1

    公开(公告)日:2016-03-31

    申请号:PCT/US2015/052047

    申请日:2015-09-24

    Abstract: Embodiments of a resolution enhancement technique for a light sheet microscopy system having a three objective lens arrangement in which one objective lens illuminates a sample and the second and third objective lenses collect the fluorescence emissions emitted by the sample are disclosed. The second objective lens focuses a first portion of the fluorescence emissions for detection by a second detection component, while the third objective lens focuses a second portion of the fluorescence emissions through a diffractive or refractive optic component for detection by a first detector component. A processor combines the images resulting from the first and second portions of the fluorescence emissions for generating composite images with increased axial and lateral resolution.

    Abstract translation: 公开了一种用于具有三个物镜布置的光学薄片显微镜系统的分辨率增强技术的实施例,其中一个物镜照射样品,第二和第三物镜收集由样品发射的荧光发射。 第二物镜将用于第二检测部件的荧光发射的第一部分聚焦以进行检测,而第三物镜将第二部分荧光发射通过衍射或折射光学部件聚焦,以由第一检测器部件进行检测。 处理器将由荧光发射的第一和第二部分产生的图像组合以产生具有增加的轴向和横向分辨率的复合图像。

    位相変調デバイス及びレーザ顕微鏡
    136.
    发明申请
    位相変調デバイス及びレーザ顕微鏡 审中-公开
    相位调制装置和激光显微镜

    公开(公告)号:WO2016047225A1

    公开(公告)日:2016-03-31

    申请号:PCT/JP2015/067914

    申请日:2015-06-22

    Inventor: 田辺 綾乃

    Abstract:  位相変調デバイス3は、対物レンズ4を含む光学系により生じる波面収差の第1の収差成分に対する第2の収差成分の第1の比に応じた位相分布の逆極性を有する位相変調量を光束に与えるように形成された複数の第1の電極のそれぞれに印加された電圧に応じて光束の位相を変調する第1の位相変調素子11と、第1の収差成分に対する第2の収差成分の第2の比に応じた位相分布の逆極性を有する位相変調量を光束に与えるように形成された複数の第2の電極のそれぞれに印加された電圧に応じて光束の位相を変調する第2の位相変調素子12と、複数の第1の電極及び複数の第2の電極に印加する電圧を、対物レンズから光束の集光位置までの距離に応じて制御する制御回路13とを有する。

    Abstract translation: 相位调制装置3具有第一相位调制元件11,该第一相位调制元件11根据施加到形成为向光束施加的多个第一电极中的每一个的电压来调制光束的相位, 根据由包括物镜4的光学系统产生的第二像差分量与波前像差的第一像差分量的相位分布的反相极性,第二相位调制元件12,其调制光束的相位, 施加到多个第二电极中的每一个上的电压,所述电压形成为向所述光束施加根据所述第二像差分量与所述第一像差分量的第二比率的相位分布的反相极性的相位调制量 以及控制电路13,其控制施加到多个第一电极和多个第二电极的电压 g到从物镜到光束的聚光位置的距离。

    PULSED LIGHT SYNCHRONIZER AND MICROSCOPE SYSTEM
    137.
    发明申请
    PULSED LIGHT SYNCHRONIZER AND MICROSCOPE SYSTEM 审中-公开
    脉冲光同步和微波系统

    公开(公告)号:WO2016027444A1

    公开(公告)日:2016-02-25

    申请号:PCT/JP2015/004045

    申请日:2015-08-13

    Inventor: KOHARA, Naoki

    Abstract: A pulsed light synchronizer synchronizes a first pulsed light having a first period and a second pulsed light and having a second period equal to the first period with each other. A third pulsed light is acquired by providing a first delay time between two pulsed lights acquired by dividing the first pulsed light, and by multiplexing the pulsed lights acquired from the first pulsed light. A fourth pulsed light is acquired by providing a second delay time between two pulsed lights acquired by dividing the second pulsed light, and by multiplexing the pulsed lights acquired from the second pulsed light. The pulsed light synchronizer detects, through a detector, a pulsed light acquired by multiplexing the third and fourth pulsed lights, and adjusts at least one of the first and second periods based on a timing difference between the third and fourth pulsed lights acquired from the detector.

    Abstract translation: 脉冲光同步器使具有第一周期和第二脉冲光的第一脉冲光与第一周期彼此相等。 通过在通过划分第一脉冲光获得的两个脉冲光之间提供第一延迟时间,并且通过对从第一脉冲光获取的脉冲光进行多路复用来获得第三脉冲光。 通过在通过划分第二脉冲光获得的两个脉冲光之间提供第二延迟时间,并且通过多路复用从第二脉冲光获取的脉冲光获得第四脉冲光。 脉冲光同步器通过检测器检测通过多路复用第三和第四脉冲光获得的脉冲光,并且基于从检测器获取的第三和第四脉冲光之间的定时差来调节第一和第二周期中的至少一个 。

    顕微鏡および顕微鏡観察方法
    139.
    发明申请
    顕微鏡および顕微鏡観察方法 审中-公开
    显微镜和微观观察方法

    公开(公告)号:WO2015163261A1

    公开(公告)日:2015-10-29

    申请号:PCT/JP2015/061905

    申请日:2015-04-17

    Abstract:  焦点蛍光から焦点外蛍光を除去して鮮明な蛍光画像を取得する。 光源2からの励起光を走査するスキャナ(7)と、走査される励起光を試料Aに集光する一方、各走査位置で試料Aにおいて発生した蛍光を集光する対物光学系(8)と、集光された蛍光を検出する検出器(12)と、該検出器12と対物光学系8との間に配置され該対物光学系(8)により集光された蛍光を部分的に遮断する遮光部材(11)と、該遮光部材(11)と試料Aにおける励起光の集光点との位置関係を、該集光点から発せられる焦点蛍光が遮光部材(11)を通過する光学的に共役な位置関係と焦点蛍光が遮光部材(11)によって遮断される非共役な位置関係とに切り替える切替部(8)と、2種類の位置関係において検出器(12)により取得された蛍光信号の差分を演算する演算部(5)とを備える顕微鏡(1)を提供する。

    Abstract translation: 本发明的目的是消除来自局部荧光的局部外荧光并获得尖锐的荧光图像。 本发明提供一种显微镜(1),其配备有用于扫描来自光源(2)的激发光的扫描仪(7); 用于将扫描的激发光聚焦到测试样品(A)上的物镜光学系统(8),同时在每个扫描位置聚焦在测试样品(A)中产生的荧光; 用于检测聚焦荧光的检测器(12); 位于检测器(12)和物镜光学系统(8)之间的用于选择性地阻挡由物镜光学系统(8)聚焦的荧光的遮光件(11); 切换单元(3),用于在从焦点发出的聚焦荧光通过的光耦合位置关系之间切换遮光构件(11)的位置关系和激发光的焦点在测试样品(A)上 通过遮光部件(11),以及非耦合位置关系,其中聚焦荧光被遮光部件(11)阻挡; 以及计算单元(5),用于计算由所述检测器(12)在两个不同位置关系处获取的荧光信号的差异。

    ANORDNUNG ZUR LICHTBLATTMIKROSKOPIE
    140.
    发明申请
    ANORDNUNG ZUR LICHTBLATTMIKROSKOPIE 审中-公开
    安排LIGHT观察表

    公开(公告)号:WO2015155027A1

    公开(公告)日:2015-10-15

    申请号:PCT/EP2015/056689

    申请日:2015-03-27

    Inventor: PRETORIUS, Marco

    Abstract: Die Erfindung betrifft eine Anordnung zur Lichtblattmikroskopie. Diese Anordnung umfasst eine Beleuchtungsoptik mit einem Beleuchtungsobjektiv (5) zur Beleuchtung einer auf einem Probenträger in einem Medium (2) befindlichen Probe (3) über einen Beleuchtungsstrahlengang mit einem Lichtblatt. Die optische Achse (6) des Beleuchtungsobjektivs und das Lichtblatt liegen in einer Ebene, die mit der Normalen einer ebenen Bezugsfläche (4), hinsichtlich welcher der Probenträger ausgerichtet ist, einen von Null verschiedenen Beleuchtungswinkel (b) einschließt. Die Anordnung umfasst außerdem eine Detektionsoptik mit einem Detektionsobjektiv (7) in einem Detektionsstrahlengang, dessen optische Achse (8) mit der Normalen der Bezugsfläche (4) einen von Null verschiedenen Detektionswinkel (d) einschließt. Die Anordnung umfasst schließlich ein Trennschichtsystem mit mindestens einer Schicht aus einem vorgegebenen Material mit vorgegebener Dicke, welche das Medium (2) von dem Beleuchtungsobjektiv (5) und dem Detektionsobjektiv (7) trennt, wobei das Trennschichtsystem mit einer parallel zur Bezugsfläche (4) ausgerichteten Grundfläche zumindest in dem für das Beleuchtungsobjektiv (5) und das Detektionsobjektiv (7) für Beleuchtung bzw. Detektion zugänglichen Bereich mit dem Medium (2) in Kontakt steht. Bei einer solchen Anordnung umfasst das Detektionsobjektiv (7) ein im Strahlengang angeordnetes oder in diesen einbringbares erstes adaptives optisches Detektionskorrekturelement. Alternativ oder ergänzend umfasst das Beleuchtungsobjektiv (5) ein im Strahlengang angeordnetes oder in diesen einbringbares erstes adaptives optisches Beleuchtungskorrekturelement. Mit den beiden Korrekturelementen sind Aberrationen, die aufgrund des schrägen Durchtritts von zu detektierendem Licht bzw. von Licht zur Beleuchtung der Probe (3) durch Grenzflächen des Trennschichtsystems entstehen, für einen vorgegebenen Bereich von Detektionswinkeln (δ) bzw. von Beleuchtungswinkeln (β) und/oder für einen vorgegebenen Bereich von der Dicke der mindestens einen Schicht des Trennschichtsystems verringerbar.

    Abstract translation: 本发明涉及一种用于片材的光显微术的装置。 此装置包括具有一个照明透镜(5)的照明光学部件,用于经由具有光片的照明光束的路径(3)在介质(2)定位的样品在载体上照射样本。 照明透镜的光轴(6)和光片位于一个平面与正常的平面参考面(4),相对于该样本托盘对准与包括非零照明角度(b)中。 该装置还包括与检测光束路径检测透镜(7),包括光轴(8)与所述垂直于所述参考表面(4)的非零检测角度(d)中的光学检测系统。 该装置最后还包括具有至少一个层的预定材料的具有从所述照明透镜的预定厚度,其中介质(2)(5)和所述检测目标(7),分离层系统,其中,具有平行于基准表面的平面对齐的分离层系统(4) 至少在照明的透镜(5)和所述检测目标(7),用于照明或检测可访问区域与介质(2)表面积在接触。 在这样的布置中,检测透镜(7)包括布置在所述光路中的阀或光可以在该第一自适应检测校正元件被引入。 或者或另外,照明透镜(5)包括设置在所述光路或光阀可在该第一自适应照明校正元件被引入。 与两个校正元件是光或光的被检测为通过分离层系统的接口照射样本(3),用于检测角度(δ)或照射角度(β)的预定范围内的倾斜通道的出现是由于与像差 /或减少用于释放层系统的至少一个层的厚度的预定范围内。

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