Abstract:
Embodiments of a resolution enhancement technique for a light sheet microscopy system having a three objective lens arrangement in which one objective lens illuminates a sample and the second and third objective lenses collect the fluorescence emissions emitted by the sample are disclosed. The second objective lens focuses a first portion of the fluorescence emissions for detection by a second detection component, while the third objective lens focuses a second portion of the fluorescence emissions through a diffractive or refractive optic component for detection by a first detector component. A processor combines the images resulting from the first and second portions of the fluorescence emissions for generating composite images with increased axial and lateral resolution.
Abstract:
A pulsed light synchronizer synchronizes a first pulsed light having a first period and a second pulsed light and having a second period equal to the first period with each other. A third pulsed light is acquired by providing a first delay time between two pulsed lights acquired by dividing the first pulsed light, and by multiplexing the pulsed lights acquired from the first pulsed light. A fourth pulsed light is acquired by providing a second delay time between two pulsed lights acquired by dividing the second pulsed light, and by multiplexing the pulsed lights acquired from the second pulsed light. The pulsed light synchronizer detects, through a detector, a pulsed light acquired by multiplexing the third and fourth pulsed lights, and adjusts at least one of the first and second periods based on a timing difference between the third and fourth pulsed lights acquired from the detector.
Abstract:
An optical system for generating an Airy beam light sheet comprising an optical arrangement for generating a Gaussian beam, and an optical element for converting the Gaussian beam into an Airy beam light sheet, wherein a single optical element is provided for converting the Gaussian beam into an Airy beam light sheet.
Abstract:
Die Erfindung betrifft eine Anordnung zur Lichtblattmikroskopie. Diese Anordnung umfasst eine Beleuchtungsoptik mit einem Beleuchtungsobjektiv (5) zur Beleuchtung einer auf einem Probenträger in einem Medium (2) befindlichen Probe (3) über einen Beleuchtungsstrahlengang mit einem Lichtblatt. Die optische Achse (6) des Beleuchtungsobjektivs und das Lichtblatt liegen in einer Ebene, die mit der Normalen einer ebenen Bezugsfläche (4), hinsichtlich welcher der Probenträger ausgerichtet ist, einen von Null verschiedenen Beleuchtungswinkel (b) einschließt. Die Anordnung umfasst außerdem eine Detektionsoptik mit einem Detektionsobjektiv (7) in einem Detektionsstrahlengang, dessen optische Achse (8) mit der Normalen der Bezugsfläche (4) einen von Null verschiedenen Detektionswinkel (d) einschließt. Die Anordnung umfasst schließlich ein Trennschichtsystem mit mindestens einer Schicht aus einem vorgegebenen Material mit vorgegebener Dicke, welche das Medium (2) von dem Beleuchtungsobjektiv (5) und dem Detektionsobjektiv (7) trennt, wobei das Trennschichtsystem mit einer parallel zur Bezugsfläche (4) ausgerichteten Grundfläche zumindest in dem für das Beleuchtungsobjektiv (5) und das Detektionsobjektiv (7) für Beleuchtung bzw. Detektion zugänglichen Bereich mit dem Medium (2) in Kontakt steht. Bei einer solchen Anordnung umfasst das Detektionsobjektiv (7) ein im Strahlengang angeordnetes oder in diesen einbringbares erstes adaptives optisches Detektionskorrekturelement. Alternativ oder ergänzend umfasst das Beleuchtungsobjektiv (5) ein im Strahlengang angeordnetes oder in diesen einbringbares erstes adaptives optisches Beleuchtungskorrekturelement. Mit den beiden Korrekturelementen sind Aberrationen, die aufgrund des schrägen Durchtritts von zu detektierendem Licht bzw. von Licht zur Beleuchtung der Probe (3) durch Grenzflächen des Trennschichtsystems entstehen, für einen vorgegebenen Bereich von Detektionswinkeln (δ) bzw. von Beleuchtungswinkeln (β) und/oder für einen vorgegebenen Bereich von der Dicke der mindestens einen Schicht des Trennschichtsystems verringerbar.