METHOD AND SYSTEM FOR CONTROLLING RESISTIVITY IN INGOTS MADE OF COMPENSATED FEEDSTOCK SILICON
    1.
    发明申请
    METHOD AND SYSTEM FOR CONTROLLING RESISTIVITY IN INGOTS MADE OF COMPENSATED FEEDSTOCK SILICON 审中-公开
    用于控制补偿馈电硅的功率的方法和系统

    公开(公告)号:WO2009003183A1

    公开(公告)日:2008-12-31

    申请号:PCT/US2008/068644

    申请日:2008-06-27

    CPC classification number: C30B29/06 C30B11/006 Y10T117/1024

    Abstract: Techniques for controlling resistivity in the formation of a silicon ingot from compensated feedstock silicon material prepares a compensated, upgraded metallurgical silicon feedstock for being melted to form a silicon melt. The compensated, upgraded metallurgical silicon feedstock provides a predominantly p-type semiconductor for which the process assesses the concentrations of boron and phosphorus and adds a predetermined amount of aluminum or/and gallium. The process further melts the silicon feedstock together with a predetermined amount of aluminum or/and gallium to form a molten silicon solution from which to perform directional solidification and, by virtue of adding aluminum or/and gallium, maintains the homogeneity the resistivity of the silicon ingot throughout the silicon ingot. In the case of feedstock silicon leading to low resistivity in respective ingots, typically below 0.4 Ωcm, a balanced amount of phosphorus can be optionally added to aluminum or/and gallium. Adding phosphorus becomes mandatory at very low resistivity, typically close to 0.2 Ωcm and slightly below.

    Abstract translation: 用于控制从补偿的原料硅材料形成硅锭中的电阻率的技术准备补偿的升级冶金硅原料以便熔化以形成硅熔体。 补偿的,升级的冶金硅原料提供主要为p型半导体,其中该方法评估硼和磷的浓度并加入预定量的铝或/和镓。 该方法进一步将硅原料与预定量的铝或/和镓一起熔化以形成熔融硅溶液,从而进行定向凝固,并且通过加入铝或/和镓,保持硅的电阻率的均匀性 锭遍及整个硅锭。 在原料硅的情况下,导致相应晶锭中的低电阻率,通常低于0.4Ocm,可以任选地将平衡量的磷加入到铝或/和镓中。 在非常低的电阻率下,添加磷是强制性的,通常接近0.2Ocm且略低于磷。

    OBERFLÄCHENEMITTIERENDE HALBLEITER-LEUCHTDIODE
    2.
    发明申请
    OBERFLÄCHENEMITTIERENDE HALBLEITER-LEUCHTDIODE 审中-公开
    表面半导体发光二极管

    公开(公告)号:WO2011120513A1

    公开(公告)日:2011-10-06

    申请号:PCT/DE2011/050009

    申请日:2011-03-31

    CPC classification number: H01L33/14 H01L27/156 H01L33/0095

    Abstract: Die Erfindung betrifft eine oberflächenemittierende Halbleiter-Leuchtdiode (LED), die dadurch gekennzeichnet ist, dass zwischen einem Substrat (2) und einer ersten Barriereschicht (5) eine Reflektorschicht (4) des ersten Leitfähigkeitstyps vorhanden ist, dass die erste Kontaktschicht (9) mindestens eine emittierende Oberfläche (13) aufweist, über die von einer aktiven Schicht (6) emittierte Strahlung aus der LED austritt und die emittierenden Oberflächen (13) gegeneinander durch mit elektrischen Ladungsträgern bestrahlten, oberflächenimplantierten Bereichen (11) in der ersten Kontaktschicht (9) elektrisch und optisch voneinander isoliert sind und dass die unter der emittierenden Oberfläche (13) befindlichen Bereiche der Schichten, ausgehend von der ersten Kontaktschicht (9) bis mindestens durch die aktive Schicht (6) hindurch, durch mit elektrischen Ladungsträgern bestrahlten, ersten tiefenimplantierten Bereichen (12.1) elektrisch und optisch gegen nicht unter der emittierenden Oberfläche (13) befindliche Bereiche der Schichten isoliert sind.

    Abstract translation: 本发明涉及一种表面发光半导体的发光二极管(LED),其特征在于,衬底(2)和第一阻挡层之间的反射层(5)(4)提供第一导电类型的,所述第一接触层(9)至少 具有发光表面(13),露出发射在由彼此通过电荷载流子的有源层(6)从LED辐射,并发射表面(13)在第一接触层照射oberflächenimplantierten区域(11)(9),其电 和彼此光学隔离和发射表面(13)的照射的层的位置的部分,从第一接触层开始(9),以至少通过有源层(6)通过与电荷载流子,所述第一tiefenimplantierten区域(12.1 )电连接及光学针对的非发光 层的n的范围位于表面(13)是分离的。

    METHOD AND SYSTEM FOR FORMING A SILICON INGOT USING A LOW-GRADE SILICON FEEDSTOCK
    5.
    发明申请
    METHOD AND SYSTEM FOR FORMING A SILICON INGOT USING A LOW-GRADE SILICON FEEDSTOCK 审中-公开
    使用低等级硅胶进料形成硅胶的方法和系统

    公开(公告)号:WO2009015356A1

    公开(公告)日:2009-01-29

    申请号:PCT/US2008/071234

    申请日:2008-07-25

    CPC classification number: H01L31/1804 Y02E10/547 Y02P70/521 Y10T117/1024

    Abstract: Techniques for the formation of a silicon ingot using a low-grade silicon feedstock include forming within a crucible device a molten silicon from a low-grade silicon feedstock and performing a directional solidification of the molten silicon to form a silicon ingot within the crucible device. The directional solidification forms a generally solidified quantity of silicon and a generally molten quantity of silicon. The method and system include removing from the crucible device at least a portion of the generally molten quantity of silicon while retaining within the crucible device the generally solidified quantity of silicon. Controlling the directional solidification of the generally solidified quantity of silicon, while removing the more contaminated molten silicon, results in a silicon ingot possessing a generally higher grade of silicon than the low-grade silicon feedstock.

    Abstract translation: 使用低等级硅原料形成硅锭的技术包括在坩埚装置内形成来自低品位硅原料的熔融硅,并执行熔融硅的定向凝固,以在坩埚装置内形成硅锭。 定向凝固形成通常固化的硅和一般熔融量的硅。 该方法和系统包括从坩埚装置移除至少一部分一般熔融的硅,同时在坩埚装置内保持大致固化的硅量。 控制一般固化的硅的定向凝固,同时去除更多污染的熔融硅,导致硅锭具有比低等级的硅原料具有更高等级的硅。

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