辐射检查系统和辐射检查方法
    2.
    发明申请

    公开(公告)号:WO2019128697A1

    公开(公告)日:2019-07-04

    申请号:PCT/CN2018/120289

    申请日:2018-12-11

    CPC classification number: G01V5/0008 G21K1/04

    Abstract: 一种辐射检查系统(100)和辐射检查方法。辐射检查系统(100)包括辐射源和射束调制装置,射束调制装置包括设置于辐射源的射束出射侧的第一准直结构(114)和设置于第一准直结构的射束出射侧的第二准直结构(130),第二准直结构(130)与第一准直结构(114)相对可动地设置以改变第一准直结构(114)的第一准直口和第二准直结构的第二准直口的相对位置,使射束调制装置在第一工作状态和第二工作状态之间切换,其中,在第一工作状态,射束调制装置将初始射束调制为扇形束,在第二工作状态,射束调制装置将初始射束调制为位置可变的笔形束。辐射检查系统和辐射检查方法兼顾检查效率和检查精度。

    辐射检查设备
    6.
    发明申请
    辐射检查设备 审中-公开

    公开(公告)号:WO2020140981A1

    公开(公告)日:2020-07-09

    申请号:PCT/CN2020/070314

    申请日:2020-01-03

    Abstract: 一种辐射检查设备,具有检查状态和运输状态,包括辐射探测装置和防护墙(3)。辐射探测装置包括射线源和与射线源配合的探测器,在检查状态,辐射探测装置具有用于被检物通过的检查通道(5)。防护墙(3)包括位置可变的多个墙体以使防护墙(3)可变形,在检查状态,防护墙(3)位于检查通道(5)的两侧以防止射线泄漏,在运输状态,防护墙(3)的至少部分墙体在检查通道(5)的方向上比在检查状态更靠近辐射探测装置。辐射检查设备,在检查状态辐射检查设备进行辐射检查时的安全性较高,在运输状态方便辐射检查设备的整体运输。

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