Abstract:
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur scannenden Abstandsermittlung eines Objekts, mit einer Lichtquelle (110, 210, 310, 610) zum Aussenden eines optischen Signals (111, 211, 311) mit zeitlich variierender Frequenz, einer Auswerteeinrichtung zur Ermittlung eines Abstandes des Objekts (140, 240, 340) auf Basis eines aus dem Signal hervorgegangenen, an dem Objekt reflektierten Messsignals (121, 221, 321) und eines nicht an dem Objekt reflektierten Referenzsignals (122, 222, 322), und einem dispersiven Element (131, 231, 331, 620), welches eine frequenzselektive Winkelverteilung des Messsignals (121, 221, 321) bewirkt, wobei hierdurch erzeugte Teilsignale unter voneinander verschiedenen Winkeln zu dem Objekt (140, 240, 340) gelenkt werden.
Abstract:
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung und ein Verfahren zum Ermitteln eines Abstandes eines bewegten Objekts, sowie eine Lichtquelle zum Aussenden eines optischen Signals mit zeitlich variierender Frequenz, insbesondere zur Verwendung in einer solchen Vorrichtung. Eine erfindungsgemäße Vorrichtung weist auf: eine Lichtquelle (110) zum Aussenden eines optischen Signals mit zeitlich variierender Frequenz, wobei die Lichtquelle einen Laser (201, 251), einen ersten WGM-Resonator (210, 260), welcher an den Laser optisch gekoppelt ist, und einen zweiten WGM-Resonator (220, 270), welcher an den Laser optisch gekoppelt ist, aufweist, einen Detektor (160) zur Erzeugung eines Detektorsignals aus einer Überlagerung eines ersten Teilsignals (111) und eines zweiten Teilsignals (121), wobei das erste Teilsignal und das zweite Teilsignal durch Zerlegung des von der Lichtquelle (110) ausgesandten optischen Signals hervorgegangen sind, wobei das erste Teilsignal ohne vorherige Reflexion an dem Objekt zum Detektor gelangt und wobei das zweite Teilsignal nach Reflexion an dem Objekt zum Detektor (160) gelangt, wobei das Detektorsignal für die Differenzfrequenz zwischen der Frequenz des zweiten Teilsignals und der Frequenz des ersten Teilsignals charakteristisch ist, und eine Auswerteeinrichtung zur Ermittlung eines Abstandes des Objekts auf Basis dieser Differenzfrequenz.
Abstract:
Ein Beleuchtungssystem einer lithographischen Projektionsbelichtungsanlage (12) umfasst eine Lichtquelle (LS; LS 1, LS 2), die zur Erzeugung einer Abfolge von Lichtpulsen (42-1 bis 42-3; 42-1, 42-2, 52-1, 52-2) eingerichtet ist. Ferner umfasst das Beleuchtungssystem ein Array (28) von optischen Elementen (32), die zwischen zwei Schaltstellungen digital umschaltbar sind. Eine Steuereinrichtung (34) steuert die optischen Elemente (32) so an, dass sie nur zwischen zwei aufeinander folgenden Lichtpulsen ihre Schaltstellung ändern und während der Lichtpulse ihre Schaltstellung beibehalten.
Abstract translation:光刻投射曝光设备(12)的一种照明系统,包括光源(LS; LS 1,LS 2)(用于产生光脉冲的42-1到42-3的序列; 52-1 42-1,42-2,52 -2)被设置。 此外,该照明系统包括光学元件(32),其被两个切换位置之间切换的数字的阵列(28)。 控制器(34)控制所述光学元件(32)以这样的方式使得它们仅改变两个连续的光脉冲和光脉冲之间它们的开关位置,同时保持他们的切换位置。
Abstract:
An illumination system of a microlithographic apparatus has an optical axis (OA) and comprises an optical integrator (52) and a scattering structure (51). The scattering structure is arranged, along a light propagation direction of the system, in front of the optical integrator and comprises a first array of first optical raster elements (76a) and a second array of second optical raster elements (76b). The first array and the second array are spaced apart from each other along the optical axis (OA). This ensures that the light impinging on the optical integrator has an optimum divergence irrespective of the angular distribution of the light impinging on the scattering structure.
Abstract:
Ein Beleuchtungssystem einer mikrolithographischen Projektionsanlage (10) hat eine Bildebene (66), in der eine Maske (14) anordenbar ist, und eine erste Objektebene (OP1 ), die zu der Bildebene (66) optisch konjugiert ist. Eine erste Beleuchtungsoptik (42, 50, 52, 58) beleuchtet die erste Objektebene so mit erstem Projektionslicht (301 ), dass das erste Projektionslicht in der Bildebene eine erste Beleuchtungswinkelverteilung hat. Eine zweite Beleuchtungsoptik (42', 51, 70, 72) beleuchtet eine zweite Objektebene, die ebenfalls zu der Bildebene (66) optisch konjugiert ist, so mit zweitem Projektionslicht (302), dass das zweite Projektionslicht in der Bildebene eine zweite Beleuchtungswinkelverteilung hat, die sich von der ersten Beleuchtungswinkelverteilung unterscheidet. Ein optischer Integrator (52), ist ausschließlich im Lichtweg des ersten Projektionslichts (301 ) angeordnet.
Abstract:
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung und ein Verfahren zum Ermitteln eines Abstandes eines bewegten Objekts. Eine erfindungsgemäße Vorrichtung weist einen Sender (110) zum Aussenden eines optischen Sendersignals (111), wobei das Sendersignal eine zeitlich variierende Frequenz (ω s (t)) aufweist, einen Detektor (150) zur Erzeugung eines Detektorsignals aus einer Überlagerung eines ersten Teilsignals (121) und eines zweiten Teilsignals (122), wobei das erste Teilsignal (121) und das zweite Teilsignal (122) durch Zerlegung des Sendersignals (111) hervorgegangen sind, wobei das erste Teilsignal (121) ohne vorherige Reflexion an dem Objekt (105) zum Detektor (150) gelangt und wobei das zweite Teilsignal (122) nach Reflexion an dem Objekt (105) zum Detektor (150) gelangt, wobei das Detektorsignal für die Differenzfrequenz (Δω) zwischen der Frequenz des zweiten Teilsignals (122) und der Frequenz des ersten Teilsignals (121) charakteristisch ist, und eine Auswerteeinrichtung (160) auf, welche dazu ausgelegt ist, aus dem zeitlichen Verlauf der Differenzfrequenz (Δω(t)) sowie dem zeitlichen Verlauf der Frequenz (ω s (t)) des Sendersignals selbstkonsistent den zeitlichen Verlauf von Abstand d(t) und Geschwindigkeit v(t) des Objektes zu bestimmen.
Abstract:
An illumination system of a microlithographic projection apparatus (10) comprises an irradiance adjustment unit (52) that adjusts an irradiance distribution of projection light on a surface (S). The irradiance adjustment unit (52) comprises a spatial light modulator (54a, 54b; 154) having an array of light deflection elements (55) and a light splitter (56a, 56b; 56; 156a) that splits the projection light into modulated light (58a, 58b; 158) that propagates along a modulation light path (59a, 59b; 159) and non-modulated light (60a, 60b; 160a, 160c, 160d) that propagates along a non-modulation light path (63; 163a, 163c, 163d). The spatial light modulator (54a, 54b; 154) is only arranged in the modulation light path (59a, 59b; 159), but not in the non- modulation light path (63; 163a, 163c, 163d). The modulated light (58a, 58b; 158) and the non-modulated light (60a, 60b; 160a, 160c, 160d) superimpose on the surface.
Abstract:
Ein Beleuchtungssystem einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage (10) weist eine Lichtquelle (LS) auf, die zur Erzeugung einer Abfolge von Lichtpulsen eingerichtet ist. Im Lichtweg zwischen der Lichtquelle (LS) und einer Zielfläche (38) ist ein Array (28) von optischen Elementen (30) angeordnet, die zwischen zwei Schaltstellungen digital umschaltbar sind. Eine im Lichtweg zwischen dem Array (28) und der Zielfläche (38) angeordnete verstellbare Lichtablenkungsoptik (32) ist dazu eingerichtet, auftreffendes Licht mit unterschiedlichen Ablenkwinkeln abzulenken. Eine Steuereinrichtung (52) steuert die Lichtablenkungsoptik (32) so an, dass eine Änderung der Ablenkwinkel zwischen zwei aufeinander folgenden Lichtpulsen erfolgt.
Abstract:
Eine erfindungsgemäße Vorrichtung weist eine Lichtquelle (110, 210) zum simultanen Aussenden einer Mehrzahl von optischen Signalen mit jeweils zeitlich variierender Frequenz, wobei sich diese Signale hinsichtlich des Frequenzbereichs, innerhalb dessen diese zeitliche Variation stattfindet, voneinander unterscheiden, eine Auswerteeinrichtung zur Ermittlung eines Abstandes des Objekts (140, 240) auf Basis von aus den optischen Signalen jeweils hervorgegangenen, an dem Objekt (140, 240) reflektierten Messsignalen (121, 221) und nicht an dem Objekt (140, 240) reflektierten Referenzsignalen (122, 222), und ein dispersives Element (130, 230) auf, welches eine vom jeweiligen Frequenzbereich abhängige Winkelverteilung der zu dem Objekt (140, 240) gelenkten Messsignale (121, 221) bewirkt.
Abstract:
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung und ein Verfahren zur scannenden Abstandsermittlung eines Objekts. Eine erfindungsgemäße Vorrichtung weist eine Lichtquelle (210, 310) zum Aussenden eines optischen Signals mit zeitlich variierender Frequenz, eine Auswerteeinrichtung zur Ermittlung eines Abstandes des Objekts auf Basis eines aus dem Signal hervorgegangenen, an dem Objekt reflektierten Messsignals und eines nicht an dem Objekt reflektierten Referenzsignals, und ein dispersives Element (230, 334), welches eine frequenzselektive Winkelverteilung des Messsignals bewirkt, wobei hierdurch erzeugte Teilsignale unter voneinander verschiedenen Winkeln zu dem Objekt gelenkt werden auf, wobei die Auswerteeinrichtung weiter zur Ermittlung einer Geschwindigkeit des Objekts auf Basis von jeweils zwei Differenzfrequenz- Bestimmungen zwischen jeweils einem an dem Objekt reflektierten Messsignal und einem nicht an dem Objekt reflektierten Referenzsignal ausgelegt ist, wobei die für diese beiden Differenzfrequenz-Bestimmungen herangezogenen Messsignale sich hinsichtlich der die jeweilige Zeitabhängigkeit ihrer Frequenz beschreibenden Funktion voneinander unterscheiden.