公开(公告)号：WO2007036503A1

公开(公告)日：2007-04-05

申请号：PCT/EP2006/066685

申请日：2006-09-25

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS CMS GMBH ,  SEIFERT, Roland

Inventor： SEIFERT, Roland

IPC: G02B21/24

CPC classification number: G02B21/26 ,  G02B21/241

Abstract: Es ist eine Vorrichtung zur Mikroskoptischverstellung offenbart, wobei der Mikroskoptisch (6) eine Ebene (6a) definiert, auf der ein zu untersuchendes Objekt (6b) aufgelegt ist. Der Mikroskoptisch (6) ist zwischen zwei in ihrer Drehbewegung gekoppelten Achsen (11, 12) geführt, wobei die Drehbewegung (18) der Achsen (11, 12) direkt mit den Mikroskoptisch (6) in Kontakt ist.

Abstract translation: 它公开了一种用于显微镜阶段调整放置的装置，其中，所述显微镜载物台（6）限定的平面（图6a），其上待检查的对象（图6b）。 显微镜载物台（6）在它们的旋转运动轴（11，12）时，其特征在于，所述轴（11，12）直接与显微镜载物台（6）的旋转运动（18）是在接触的两个之间耦合。

公开(公告)号：WO2019034751A1

公开(公告)日：2019-02-21

申请号：PCT/EP2018/072270

申请日：2018-08-16

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS CMS GMBH

Inventor： KNEBEL, Werner ,  LEIMBACH, Volker ,  SEIFERT, Roland

IPC: G02B21/24 ,  G02B21/26 ,  G02B21/06

Abstract: Die Erfindung betrifft eine Mikroskopieanordnung (10) mit einem Mikroskopsystem und einer Haltevorrichtung (12), wobei das Mikroskopsystem umfasst ein Mikroskop (14), eine Beleuchtungseinrichtung (16) mit zumindest zwei Lasern (16a, 16b) und Einkoppelelementen (40, 42, 50, 52) zur Einkopplung eines jeden der von den zumindest zwei Lasern (16a, 16b) erzeugten Laserstrahlen (116a, 116b) in das Mikroskop (14), wobei die Haltevorrichtung (12) umfasst eine Instrumentenplattform (22), auf der die zumindest zwei Laser (16a, 16b) der Beleuchtungseinrichtung (16) angeordnet sind, ein Halteelement (24), welches starr einerseits mit der Instrumentenplattform (22), andererseits mit dem Mikroskop (14) verbunden ist, und zumindest ein Stützelement (20), welches dazu ausgelegt ist, die Instrumentenplattform (22) auf einer Basisplattform (18) und beabstandet zu dieser abzustützen, wobei das zumindest eine Stützelement (20) eine veränderliche Höhe aufweist, um die Instrumentenplattform (22) in einem veränderlichen vertikalen Abstand zur Basisplattform (18) anzuordnen, und/oder das Mikroskopsystem einen höhenveränderlichen Mikroskoptisch (34) aufweist, um eine durch den Mikroskoptisch (34) definierte Objektebene (36) in einem veränderlichen vertikalen Abstand zur Basisplattform (18) anzuordnen, sodass die vertikale Erstreckung des Objektbereichs (26) bei unveränderter räumlicher und/oder zeitlicher Beziehung zwischen den Laserstrahlen (116a, 116b) veränderbar ist.

公开(公告)号：WO2011066936A1

公开(公告)日：2011-06-09

申请号：PCT/EP2010/007236

申请日：2010-11-30

Applicant: Leica Microsystems CMS GmbH ,  GUGEL, Hilmar ,  GISKE, Arnold ,  DYBA, Marcus ,  SEIFERT, Roland ,  WIDZGOWSKI, Bernd

Inventor： GUGEL, Hilmar ,  GISKE, Arnold ,  DYBA, Marcus ,  SEIFERT, Roland ,  WIDZGOWSKI, Bernd

IPC: G02B21/24 ,  G02B21/00

CPC classification number: G02B21/0076 ,  G02B21/0032 ,  G02B21/248

Abstract: Eine optische Vorrichtung für ein Rastermikroskop wird beschrieben, mit der eine weitgehende wellenlängenunabhängige Fokusformung eines Lichtstrahls ermöglicht wird und somit hochauflösende Mikroskopie, insbesondere STED-Mikroskopie, in einem größeren Wellenlängenspektrum erleichtert wird. Dabei sind zumindest zwei Phasenfilter auf einem Träger angeordnet sind. Vorteilhafterweise handelt es sich bei dem Träger um ein Filterrad oder einen Filterschieber, der in den Strahlengang des Lichtstrahls einbringbar ist, wobei es sich vorzugsweise dabei um den Strahlengang des Stimulationslichtstrahles in einem STED-Mikroskop handelt. Vorzugsweise sind mehrere Phasenfilter matrixförmig auf dem Träger angeordnet. Der Träger ist als Glassubstrat ausgebildet, auf das die jeweiligen Phasenfilter aufgebracht sind. Zweckmäßigerweise befindet sich zu Justagezwecken auf dem Träger zusätzlich noch eine Position, bei deren Durchgang die Wellenfront des Lichts nicht beeinflusst wird, d.h. es handelt sich hierbei um eine Leerstelle, an der sich kein Phasenfilter befindet.

Abstract translation: 用于与一个宽的波长独立聚焦形成的光束成为可能，因此高分辨率显微镜扫描显微镜的光学器件，特别是STED显微镜，便于在更大波长谱进行说明。 在这种情况下，至少两个相位滤波器被布置在载体上。 有利地，载体是一个过滤器或过滤器滑动，其可被引入到光束的光路中，其中，优选地，该对刺激光束在STED显微镜光路中。 优选地，多个相位滤波器被布置在所述载体上的基质。 该载体被设计为在其上施加的各相位滤波器的玻璃基板。 便利的载体除了调整的目的上，一个位置处的波前的光的的通道不会受到影响，即 是，这是在没有相位滤波器是一个空间。

公开(公告)号：WO2016062798A1

公开(公告)日：2016-04-28

申请号：PCT/EP2015/074454

申请日：2015-10-22

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS CMS GMBH

Inventor： MRAWEK, Patric ,  SCHREIBER, Frank ,  SEIFERT, Roland

IPC: G01J1/04 ,  G01J1/02

CPC classification number: G02B21/28 ,  G01J1/0252 ,  G01J1/0271 ,  G01J1/0403 ,  G01J1/0448 ,  G02B21/0032 ,  G02B21/008 ,  G02B21/0096

Abstract: Die Erfindung betrifft eine Detektorvorrichtung (1), die dazu ausgebildet ist, Licht zu empfangen und elektrische Signale zu erzeugen, mit einem Detektor (3) und mit einem Gehäuse (4) für den Detektor (3). Die Detektorvorrichtung (1) zeichnet sich dadurch aus, dass der Detektor (3) wenigstens teilweise in dem Gehäuse (4) und relativ zu dem Gehäuse (4) beweglich angeordnet ist.

Abstract translation: 本发明涉及一种检测器装置（1），其适于接收光并产生电信号，检测器（3）和具有一壳体（4）对于检测器（3）。 所述检测器装置（1），其特征在于所述检测器（3）在外壳（4）至少部分地，并且相对于所述壳体（4）可移动地布置。

公开(公告)号：WO2009030757A1

公开(公告)日：2009-03-12

申请号：PCT/EP2008/061788

申请日：2008-09-05

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS CMS GMBH ,  SEIFERT, Roland

Inventor： SEIFERT, Roland

IPC: G02B21/24

CPC classification number: G02B21/248 ,  G02B21/18

Abstract: Ein Objektivwechsler für ein Mikroskop mit einer Wechseleinrichtung (1) für mindestens zwei Objektive (2, 3) ist im Hinblick auf einen einfachen Objektivwechsel bei geringem Raumbedarf für den Objektivwechsel derart ausgestaltet und weitergebildet, dass die Objektive (2, 3) über die Wechseleinrichtung (1) jeweils pendelartig in ihre Arbeitsposition nahe der Fokuslage schwenkbar sind. Des Weiteren ist ein Mikroskop mit einem derartigen Objektivwechsler angegeben.

Abstract translation: 对于具有至少两个透镜的变化的装置（1）的显微镜的物镜转换器（2,3）被设计对于一个简单的透镜与透镜变化最小的空间要求，例如和进一步发展中改变所述透镜（2,3）经由切换装置（ 1）分别是钟摆状摆动至接近焦点位置其工作位置。 此外，提供了具有这样一个客观的变换器的显微镜。