公开(公告)号：WO2017129924A1

公开(公告)日：2017-08-03

申请号：PCT/FR2017/050198

申请日：2017-01-27

Applicant: SAFRAN AIRCRAFT ENGINES

Inventor： ARQUIE, Fabien, Jean-Guillaume

IPC: G06T7/00 ,  G01B11/16 ,  G01B11/24 ,  G01N21/95 ,  G01B11/06

CPC classification number: G06T7/001 ,  G01B11/0616 ,  G01B11/16 ,  G01B11/24 ,  G01N21/8806 ,  G01N21/9515 ,  G01N2021/8829 ,  G06T2207/10028 ,  G06T2207/30164

Abstract: L'invention concerne une méthode de contrôle de l'usure d'une pièce de turbomachine, la méthode comprenant des étapes où, par l'intermédiaire d'un calculateur : - on dispose d'un plan de référence; - on acquiert, par mesure sur ladite pièce à contrôler, une modélisation d'une partie au moins de ladite pièce sous forme d'un un maillage (8) tridimensionnel de contrôle; - on contrôle, dans une zone commune, le maillage (8) tridimensionnel de contrôle avec le plan de référence (5) au moyen d'un algorithme dédié utilisant une projection de points (10; 10.1, 10.2,..., 10.n); si le résultat de la comparaison est inscrit dans une plage de tolérance prédéterminée, on définit la pièce comme conforme, dans le cas contraire, la pièce est non conforme.

Abstract translation:

本发明涉及一种M E控制＆方法的OCIRC，的pI＆egrave的磨损;该涡轮机时，M E方法包括以下步骤éO＆ugrave;，由中间体é 计算机的日记： - 它有一个平面R电子网E无; - 它获得，通过测量在所述PI＆egrave;这＆agrave; 控制＆OCIRC;升，至少一部分的模式lisation所述PI＆egrave;三维控制＆OCIRC的网（8）的形式;所述; - 一个控制＆OCIRC;所述，在一个公共区域中，网状（8）三维控制＆OCIRC;它的R E面;˚Fé号公报（5）由一个算法Dé二保护设备 使用点的凸起（10; 10.1，10.2，...，10.n）; 如果比较的第ré结果被写入一个范围TOLé腐臭PRéDéTERMINé电子商务，它DE端PI＆egrave;这为符合，否则，PI＆egrave;它是不符合规定<。 / p>

公开(公告)号：WO2015099227A1

公开(公告)日：2015-07-02

申请号：PCT/KR2013/012187

申请日：2013-12-26

Applicant: 주식회사 포스코

Inventor： 홍재화

IPC: G01N21/3563 ,  G01N21/55

CPC classification number: G01N21/8422 ,  G01B11/0616 ,  G01N21/25 ,  G01N21/55 ,  G01N2021/8427 ,  G01N2201/0636

Abstract: 본 발명의 일 실시예에 따른 백색도 및 부착량 동시측정장치는 시편과 소정 간격을 두고 배치되며, 시편에 광을 조사하는 발광부, 발광부와 시편의 사이에 배치되며, 적외선 또는 가시광선 중 어느 하나를 선택적으로 투과시키는 필터부, 시편과 소정 간격을 두고 배치되며, 시편으로부터 반사되는 적외선 또는 가시광선 중 어느 하나를 검출하는 검출부; 및 검출부와 연결되며, 검출부로부터 검출된 적외선의 광량에 따라 부착량을 산출하고, 검출부로부터 검출된 가시광선의 광량에 따라 백색도를 산출하는 연산부; 를 포함하고, 본 발명의 일 실시예에 따른 백색도 및 부착량 동시측정장치를 이용하여 백색도 및 부착량을 동시에 측정할 수 있으므로, 작업효율이 증가하고 설비투자비용이 감소될 수 있다.

Abstract translation: 根据本发明的一个实施例的用于同时测量白度和涂布量的装置包括：发射单元，其布置成距离测试件预定距离并且用光照射测试片; 布置在所述发光单元和所述测试片之间并且允许红外线或可见光线选择性地通过的滤光器单元; 检测单元，其布置在距离测试件预定距离处，并检测要从测试片反射的红外线或可见光线; 以及与所述检测单元连接的计算单元，根据由所述检测单元检测到的红外线的量来计算涂布量，并且根据由所述检测单元检测到的可见光的量来计算白度。 由于根据本发明的一个实施方案，可以通过用于同时测量白度和涂布量的装置来测量白度和涂布量，从而提高了工作效率，并且可以减少设备的资本支出。

公开(公告)号：WO2014053932A1

公开(公告)日：2014-04-10

申请号：PCT/IB2013/058514

申请日：2013-09-13

Applicant: KONINKLIJKE PHILIPS N.V.

Inventor： YOUNG, Nigel David ,  BATTERSBY, Steve John ,  BATTERSBY, Paul David

IPC: A61B5/00 ,  A61B5/103 ,  A61B8/08 ,  A61C19/06 ,  G01J3/50

CPC classification number: A61B5/0088 ,  A61B5/1032 ,  A61B5/4547 ,  A61B8/0875 ,  A61B2576/00 ,  A61C19/04 ,  A61C19/066 ,  G01B11/0616 ,  G01B17/025 ,  G01J3/508 ,  G01N21/251 ,  G01N21/293

Abstract: A system for developing a tooth whitening protocol is provided. The system includes a measuring device for measuring tooth enamel thickness and a measuring device for measuring tooth color. A computing resource includes a processor and a memory storing at least one application executable by the processor. The memory includes one or more data look-up tables including a compilation of scattering and transmission properties associated with specific tooth enamel thicknesses. The processor utilizes the at least one application to approximate tooth dentin based on a measured tooth enamel thickness and measured tooth color to develop a specific tooth whitening protocol.

Abstract translation: 提供了一种开发牙齿美白方案的系统。 该系统包括用于测量牙釉质厚度的测量装置和用于测量牙齿颜色的测量装置。 计算资源包括处理器和存储至少一个可由处理器执行的应用的存储器。 存储器包括一个或多个数据查找表，其包括与特定牙釉质厚度相关联的散射和透射性质的汇编。 处理器利用至少一个应用程序来基于测量的牙釉质厚度和测量的牙齿颜色来近似牙本质，以开发特定的牙齿美白方案。

公开(公告)号：WO2013089627A1

公开(公告)日：2013-06-20

申请号：PCT/SE2012/051384

申请日：2012-12-13

Applicant: DAPROX AB ,  ÅKERBLOM, Bengt

Inventor： ÅKERBLOM, Bengt

IPC: G01B7/06 ,  G01B11/06 ,  G01B21/08

CPC classification number: G01B7/105 ,  G01B11/0616 ,  G01B2210/42

Abstract: The present invention regards a material thickness measuring device(1)for measuring the thickness (t) of non-magnetic web (3) applied to a magnetic material (5). The device (1) comprises an optical sensor device (7, 9, 45) for a first interaction with an upper side (11) of the web (3) as an optical reference element (29). It also comprises a reluctance transducer sensor device (31) for a second interaction with the magnetic material (5) as a magnetic reference element on the opposite side of the web (3). A control unit (39) is adapted for each point of measuring (P, PC) to calculate the thickness (t)from said interactions. The reluctance transducer sensor device (31) comprises a hollow conical magnetic core (41) around which circumference at least two coils (33, 35) of different diameter are mounted. The coil (33) having the smallest diameter is situated nearest the web (3) to be measured. The optical sensor device (7,9, 45) is adapted for sensing light beams (19) transferred through the hollow conical core (41) in directions which are oblique relative the plane (29) of said upper side (11).

Abstract translation: 本发明涉及用于测量施加到磁性材料（5）的非磁性卷筒纸（3）的厚度（t）的材料厚度测量装置（1）。 所述装置（1）包括用于与所述腹板（3）的上侧（11）作为光学参考元件（29）的第一相互作用的光学传感器装置（7,9,45）。 它还包括磁阻换能器传感器装置（31），用于与作为磁性参考元件的磁性材料（5）在幅材（3）的相对侧上的第二相互作用。 控制单元（39）适用于每个测量点（P，PC）以从所述相互作用计算厚度（t）。 磁阻传感器传感器装置（31）包括中空圆锥形磁芯（41），圆周周围安装不同直径的至少两个线圈（33,35）。 具有最小直径的线圈（33）位于最靠近待测量的腹板（3）。 所述光学传感器装置（79,45）适于在相对于所述上侧（11）的平面（29）倾斜的方向上感测通过所述中空锥形芯（41）传送的光束（19）。

公开(公告)号：WO2012146687A1

公开(公告)日：2012-11-01

申请号：PCT/EP2012/057705

申请日：2012-04-27

Applicant: HAMILTON BONADUZ AG ,  ETZOLD, Carsten ,  NEUHAEUSER-WESPY, Friedrich

Inventor： ETZOLD, Carsten ,  NEUHAEUSER-WESPY, Friedrich

IPC: G01B11/16 ,  G01B11/24

CPC classification number: G01B11/24 ,  G01B11/0616 ,  G01B11/16 ,  G01N21/9508 ,  G01N21/951 ,  G01N21/958

Abstract: Die Erfindung betrifft eine Analysevorrichtung für die berührungslose Analyse der Ausformung eines transparenten Körpers, insbesondere eines im wesentlichen kugelförmigen Wirkstoff-Beads mit wenigstens einem Träger für den Körper und wenigstens einer Bildaufnahmevorrichtung wobei der Träger ein Prüfbild, insbesondere ein Prüfraster aufweist und wenigstens ein Erfassungsmittel vorgesehen ist, um über das Erfassungsmittel die dreidimensionale Ausformung und/oder Kontur des Körpers und/oder das durch die optischen Eigenschaften des Körpers modulierte Prüfbild, insbesondere Prüfraster zu erfassen. Die Erfindung umfasst des Weiteren ein Verfahren zur berührungslosen Analyse der Ausformung des transparenten Körpers.

Abstract translation: 本发明涉及一种用于透明体，特别是基本上为球形的药物珠粒与用于主体和至少一个图像拾取装置，其中所述载体是测试图像的至少一个支架的形成的非接触分析的分析装置，特别是测试网格和至少一个检测装置被设置 为了检测所述主体和/或由所述主体的测试图案的光学特性调制的光的三维形状和/或轮廓，特别是在测试网格检测装置。 本发明还包括用于透明体的形成的非接触式分析的方法。

公开(公告)号：WO2012006611A3

公开(公告)日：2012-04-19

申请号：PCT/US2011043507

申请日：2011-07-11

Applicant: SPACE ASSOCIATES INC K ,  BARLETT DARRYL ,  TAYLOR CHARLES A II ,  WISSMAN BARRY D

Inventor： BARLETT DARRYL ,  TAYLOR CHARLES A II ,  WISSMAN BARRY D

IPC: G01B11/30 ,  G01N21/958

CPC classification number: G01B11/0625 ,  G01B11/0616 ,  G01B11/303 ,  G01N21/47 ,  G01N21/8422

Abstract: A method and apparatus (20) used in connection with the manufacture of thin film semiconductor materials (26) deposited on generally transparent substrates (28), such as photovoltaic cells, for monitoring a property of the thin film (26), such as its temperature, surface roughness, thickness and/or optical absorption properties. A spectral curve (44) derived from diffusely scattered light (34, 34') emanating from the film (26) reveals a characteristic optical absorption (Urbach) edge. Among other things, the absorption edge is useful to assess relative surface roughness conditions between discrete material samples (22) or different locations within the same material sample (22). By comparing the absorption edge qualities of two or more spectral curves, a qualitative assessment can be made to determine whether the surface roughness of the film (26) may be considered of good or poor quality.

Abstract translation: 本发明涉及一种用于制造沉积在通常透明的基板（28）上的薄膜半导体材料（26）（例如光伏电池）的方法和设备（20），用于监测薄膜（26）的性质，例如其 温度，表面粗糙度，厚度和/或光学吸收性质。 从膜（26）发出的漫散射光（34,34'）得到的光谱曲线（44）揭示了特征光吸收（Urbach）边缘。 其中，吸收边缘可用于评估离散材料样品（22）或同一材料样品（22）内不同位置之间的相对表面粗糙度条件。 通过比较两个或更多光谱曲线的吸收边缘质量，可以进行定性评估以确定膜（26）的表面粗糙度是否可以被认为是好的或质量差的。

公开(公告)号：WO2012006613A3

公开(公告)日：2012-03-01

申请号：PCT/US2011043526

申请日：2011-07-11

Applicant: TRIBIS ENGINEERING INC ,  ADAMS ROBERT C JR

Inventor： ADAMS ROBERT C JR

IPC: G01N3/56 ,  G01B11/06 ,  G01B11/16

CPC classification number: G01N3/56 ,  G01B11/0616 ,  G01N19/02 ,  G01N2203/0647

Abstract: A test apparatus and methods of measuring wear of a material with a laser displacement measurement apparatus based upon displacement of a test sample of the material or the wear of a testing surface and a specimen. A lubricant test method and apparatus measures the thickness of a lubricant film between two test surfaces by comparing the location of the test surfaces at rest and dynamically.

Abstract translation: 一种基于材料的测试样品的位移或测试表面和样品的磨损来测量材料与磨损位移测量装置的磨损的测试装置和方法。 润滑剂测试方法和装置通过比较静止和动态测试表面的位置来测量两个测试表面之间的润滑剂膜的厚度。

公开(公告)号：WO2011054432A1

公开(公告)日：2011-05-12

申请号：PCT/EP2010/006229

申请日：2010-10-12

Applicant: EKRA AUTOMATISIERUNGSSYSTEME GMBH ,  VEGELAHN, Torsten

Inventor： VEGELAHN, Torsten

IPC: H05K1/02 ,  H05K3/12 ,  H05K3/22

CPC classification number: H05K3/1216 ,  G01B11/0616 ,  G01B11/25 ,  H05K1/0269 ,  H05K3/225 ,  H05K3/3484 ,  H05K2203/163

Abstract: Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zum Bedrucken eines Substrats, insbesondere einer Leiterplatte, mit einer Druckpaste, insbesondere Lotpaste, mit folgenden Schritten: - Auflegen einer Druckschablone auf das Substrat, - Bedrucken des Substrats in Siebdrucktechnik durch Öffnungen der Druckschablone hindurch zur Erzielung von mindestens einer aus Druckpaste bestehenden Druckstruktur, - Trennen von Druckschablone und Substrat durch Abheben dieser Teile voneinander, - Einfahren einer optischen Inspektionseinheit zwischen Druckschablone und Substrat, - Prüfen der Druckstruktur hinsichtlich ihrer Druckpastendicke mittels der Inspektionseinheit, - Beendigen des Bedrückens, wenn das Druckergebnis mindestens einer Vorgabe entspricht. Die Erfindung betrifft weiter eine Inspektionseinheit (1) und eine Druckeinrichtung (2).

Abstract translation: 本发明涉及一种用于印刷的基材，特别是印刷电路板，具有印刷膏，特别是焊膏，其包括以下步骤： - 将模版到所述衬底; - 通过开口在模版，通过丝网印刷在基片上印刷通过实现至少一个 由印刷膏印刷的结构， - 在印刷模版和基板通过这些部件的剥离的彼此分离， - 缩回蜡纸和基板之间的光学检测单元， - 所述印刷图案的检查在它们的印刷膏厚度方面由检查单元的装置， - 终止压印时印刷至少一个标准值的结果 ， 本发明还涉及到检查单元（1）和打印装置（2）。

公开(公告)号：WO2010135770A1

公开(公告)日：2010-12-02

申请号：PCT/AU2010/000632

申请日：2010-05-25

Applicant: BUCHER, Udo Wolfgang

Inventor： BUCHER, Udo Wolfgang

IPC: G01B11/06 ,  C23C2/14 ,  G01B15/02

CPC classification number: G01B11/28 ,  B05C1/0826 ,  B05C11/1005 ,  G01B11/0608 ,  G01B11/0616 ,  G01B11/0625 ,  G01B11/24

Abstract: There are provided instruments for measuring and/or controlling the thickness of a coating applied to a substrate. An instrument embodied by the invention comprises coating removal means for removing a quantity of the coating to partially expose the surface of the substrate. The instrument also includes sensor means for emitting and detecting signals reflected from the surface of the coating and the exposed surface of the substrate to generate one or more data sets consisting of data indicative of the position of the surface of the coating and the position of the surface of the substrate. The sensor means is arranged so as to be distanced from the coating and the substrate, and is adapted to detect the signals reflected from the surface of the substrate during relative movement between the substrate and the sensor means. The data sets generated by the sensor means are processed by processing means of the instrument to determine the dry thickness of the coating on the substrate. Methods for measuring the dry thickness of the coating utilising instruments of the invention are also provided.

Abstract translation: 提供了用于测量和/或控制施加到基底的涂层的厚度的仪器。 由本发明实施的仪器包括用于去除一定量的涂层以部分地暴露衬底的表面的涂层去除装置。 仪器还包括用于发射和检测从涂层的表面反射的信号和基板的暴露表面的传感器装置，以产生由表示涂层表面的位置的数据组成的一个或多个数据组， 基板的表面。 传感器装置布置成远离涂层和基底，并且适于在衬底和传感器装置之间的相对运动期间检测从衬底的表面反射的信号。 由传感器装置产生的数据集由仪器的处理装置处理，以确定衬底上的涂层的干厚度。 还提供了使用本发明的仪器测量涂层干燥厚度的方法。

公开(公告)号：WO2008055890A1

公开(公告)日：2008-05-15

申请号：PCT/EP2007/061912

申请日：2007-11-06

Applicant: ROBERT BOSCH GMBH ,  SCHMIDT, Helmut ,  ZIMMERMANN, Dirk ,  KREUTZ, Christian

Inventor： SCHMIDT, Helmut ,  ZIMMERMANN, Dirk ,  KREUTZ, Christian

IPC: G01B11/06 ,  B05D7/14

CPC classification number: C23C22/77 ,  C08K5/5419 ,  C09D183/04 ,  C23C22/74 ,  C23C2222/20 ,  G01B11/0616 ,  C08K5/0041

Abstract: Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Bestimmung der Schichtdicke einer Beschichtung einer Oberfläche eines metallischen Bauteiles, wobei die Beschichtung eine Korrosionsschutzschicht ist, die durch Benetzen der Oberfläche mit einer wässrigen, monomere Silanderivate enthaltenden Lösung hergestellt wird, wobei die Monomere während einer sich an die Benetzung anschließenden Trocknung des Bauteils eine Polymerstruktur bilden. Die Bestimmung der Schichtdicke wird mit einem optischen oder spektroskopischen Verfahren wird, wobei die wässrige, monomere Silanderivate enthaltende Lösung mindestens einen Marker enthält.

Abstract translation: 本发明涉及一种方法，用于确定涂层的金属部件的表面，其中所述涂层是防腐蚀层的层厚度，制备通过使表面与一种含水的单体硅烷衍生物润湿含有溶液中，单体时的邻接的润湿 干燥形式的聚合物结构的组件。 该层厚度的测定，被提供有光学或光谱学方法，其特征在于含有溶液含水单体硅烷衍生物包含至少一个标记物。