一种FPGA器件的可靠性测试装置和方法

    公开(公告)号:CN118393326B

    公开(公告)日:2024-10-11

    申请号:CN202410832119.9

    申请日:2024-06-26

    IPC分类号: G01R31/28

    摘要: 本发明公开了一种FPGA器件的可靠性测试装置和方法,所述装置包括上位机、母板、转接板、子板,母板包括主控FPGA、第一I/O接口、电源模块,子板包括待测FPGA器件、第二I/O接口和AD模块,主控FPGA向待测FPGA器件发送测试指令,第一I/O接口通过转接板与子板连接,实现对待测FPGA器件的供电、通信和控制,电源模块为待测FPGA器件提供工作电压;第二I/O接口与转接板连接并进行通信,反馈待测FPGA器件的测试结果,AD模块监测待测FPGA器件的工作电压,转接板将子板的信号与母板相连,以便在转接板上对待测FPGA器件进行测试;上位机与母板连接,生成测试序列并向母板发送测试指令,并从母板接收子板的测试数据。本发明能够以较低的成本实现FPGA器件在多种应用场景下的可靠性评估。

    一种90°快卸锁自动寿命试验装置及试验方法

    公开(公告)号:CN118641171A

    公开(公告)日:2024-09-13

    申请号:CN202410752886.9

    申请日:2024-06-11

    IPC分类号: G01M13/00

    摘要: 本发明公开了一种90°快卸锁自动寿命试验装置及试验方法,所述装置包括:安装架、水平作动器、十字起、旋转机构、光电开关、力传感器、保护罩、驱动电机、计算机,90°快卸锁安装在安装架上,驱动电机驱动水平作动器进行前后运动、驱动旋转机构进行旋转运动;旋转机构带动水平作动器旋转,十字起随着水平作动器进行前后运动和旋转运动,实现90°快卸锁的开锁和闭锁;光电开关记录90°快卸锁的开锁和闭锁的工作循环次数,力传感器测量90°快卸锁的开锁和闭锁力矩;计算机根据工作循环次数以及开锁和闭锁力矩,进行90°快卸锁的工作寿命分析。本发明能够自动测试并采集开、闭锁力矩和工作循环寿命次数,为90°快卸锁的工作寿命分析提供数据支撑。