一种制备金刚石微米棒阵列膜的方法

    公开(公告)号:CN104947069A

    公开(公告)日:2015-09-30

    申请号:CN201510394176.4

    申请日:2015-07-07

    Abstract: 一种制备金刚石微米棒阵列膜的方法,它涉及一种制备金刚石微米棒阵列膜的方法。本发明的目的是要解决目前金刚石微米棒阵列膜制备工艺复杂,制备成本较高,不能精确控制孔洞长径比的问题,本发明步骤为:硅片模板的制备、涂覆金刚石悬浮液、放置样品、金刚石微米棒阵列膜的生长、硅片模板的剥离,即完成。本发明利用多孔硅片模板代替AAO模板制备金刚石微米棒阵列膜,降低了薄膜的制备成本,简化了制备的工艺过程,通过调整硅片上孔洞的直径以及深度可以制备具有不同长径比的微米棒阵列,从而研究不同微米棒长径比对材料性能的影响。本发明应用于薄膜生长技术领域。

    一种同质外延生长单晶金刚石时控制表面温度的方法

    公开(公告)号:CN104775154A

    公开(公告)日:2015-07-15

    申请号:CN201510199722.9

    申请日:2015-04-25

    Abstract: 一种同质外延生长单晶金刚石时控制表面温度的方法,属于晶体生长技术领域。针对现有的MWCVD生长系统中籽晶表面温度难以有效调控的问题,本发明所述方法包括步骤如下:金刚石籽晶清洗→焊接→选择隔热丝→制作隔热丝→放置样品→生长前准备工作→金刚石生长。本发明通过制备隔热用隔热丝,确保了金刚石样品表面温度不会因为导热过快而过低,且根据不同工艺参数选择不同规格的隔热丝,实现金刚石样品表面温度可控,使金刚石在所需的温度等工艺参数下进行生长。由于隔热丝的特殊形态,保证了金刚石样片表面水平,与等离子体球均匀接触,保证了温度场及碳源密度的均匀性,使得生长效果更好。

    一种基于称重法测量金刚石外延层生长厚度精度的方法

    公开(公告)号:CN119400719A

    公开(公告)日:2025-02-07

    申请号:CN202411510708.1

    申请日:2024-10-28

    Abstract: 一种基于称重法测量金刚石外延层生长厚度精度的方法,本发明的目的是为了解决现有金刚石薄层漂移层的测量方法难以准确评估金刚石外延薄层厚度及生长速率的问题。测量方法:一、对金刚石衬底进行抛光;二、将抛光后的金刚石衬底置于强氧化混酸中形成氧终端,再进行超声清洗;三、使用高精度天平测量金刚石衬底的重量,使用游标卡尺测量金刚石衬底的表面积;四、再次表面清洗;五、在金刚石衬底表面外延生长单晶金刚石层;六、三次表面清洗;七、计算获得外延生长的单晶金刚石层的厚度。本发明采用高精度天平对金刚石外延生长层的厚度进行表征测量,能够实现超薄层金刚石的测量和控制,高精度天平能够无损伤、简单地实现超薄层金刚石的测量。

    用于金刚石材料生长的椭球形MPCVD装置

    公开(公告)号:CN114892149B

    公开(公告)日:2025-01-10

    申请号:CN202210586975.1

    申请日:2022-05-27

    Abstract: 用于金刚石材料生长的椭球形MPCVD装置,本发明属于金刚石材料生长装备领域,本发明要解决现有MPCVD谐振腔体运行过程中存在微波能量耦合效率低的问题。本发明用于金刚石材料生长的椭球形MPCVD装置中的矩形波导的一端设置有微波电源,矩形波导的另一端设置有短路活塞,矩形波导的下部设置椭球形谐振腔体,微波天线的一端经波导伸入椭球形谐振腔体内,所述椭球形谐振腔体的腔壁呈椭球形,椭球形谐振腔体的腔壁内部为中空结构,样品台设置在椭球形谐振腔体的底部,抽气系统和进气系统分别通过管路与椭球形谐振腔体相连通。本发明利用椭球体双焦点特性,能够实现高密度等离子体激发及金刚石的沉积生长。

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