公开(公告)号：CN109416463A

公开(公告)日：2019-03-01

申请号：CN201780040146.0

申请日：2017-06-27

Applicant: 莱卡微系统CMS有限责任公司

Inventor： 康奈尔·彼得·龚休尔

IPC: G02B21/06 ,  F21V8/00 ,  G01N21/64

CPC classification number: G02B21/06 ,  G01N21/6458 ,  G01N2201/061 ,  G01N2201/0626 ,  G02B6/0003

Abstract: 本发明涉及一种显微镜照明机构(100、100'、100")，具有至少一个光源(110)且具有光转换部件(140、140'、140")，其中，所述光转换部件(140、140'、140")被构造成至少一个光导体，该光导体含有不同的荧光材料(151、152、153、154、155、156、157)，这些荧光材料分别具有不同的发光范围(320、330、340)，其中，所述至少一个光源(110)经过布置，从而发射光为了激发所述荧光材料(151、152、153、154、155、156、157)而由所述至少一个光源(110)输入到所述光转换部件(140、140'、140")中，其中，所述光转换部件(140、140'、140")经过设计，从而由所述荧光材料(151、152、153、154、155、156、157)发出的光被引至所述光转换部件(140、140'、140")的光射出面(142、142")，并在那里作为照明光被输出。

公开(公告)号：CN109142375A

公开(公告)日：2019-01-04

申请号：CN201810947776.2

申请日：2018-08-20

Applicant: 宁波市智能制造产业研究院

Inventor： 温志庆 ,  张鼎 ,  张宝 ,  黄俊泽 ,  王莹

IPC: G01N21/88

CPC classification number: G01N21/8806 ,  G01N2021/8825 ,  G01N2201/061 ,  G01N2201/06186

Abstract: 本发明涉及机器视觉检测技术领域，尤其涉及一种用于靶材的高精度视觉检测系统及方法。该系统包括工业相机组、条形光源和同轴光源；工业相机组垂直于待测靶材工件表面；条形光源和同轴光源分别按预定角度围绕待测靶材工件表面设置；条形光源和同轴光源互相垂直设置；同轴光源的打光方向垂直于沿待测靶材工件表面半径。该方法为交替打开同轴光源和条形光源，分别检测待测靶材工件表面的刀纹、划痕等缺陷。本发明能够提供合适的照明及打光方法，克服反射度极高的靶材工件表面反光造成的干扰，准确检测出靶材工件表面刀纹、划痕等缺陷特征，提高机器视觉的准确性，进而提高生产工作效率。

公开(公告)号：CN109001208A

公开(公告)日：2018-12-14

申请号：CN201810520532.6

申请日：2018-05-28

Applicant: 南京中电熊猫平板显示科技有限公司 ,  南京中电熊猫液晶显示科技有限公司 ,  南京华东电子信息科技股份有限公司

Inventor： 蔡扬 ,  杭传静 ,  王再武

IPC: G01N21/88

CPC classification number: G01N21/8851 ,  G01N2021/8861 ,  G01N2021/8864 ,  G01N2021/8893 ,  G01N2021/8908 ,  G01N2021/9513 ,  G01N2201/061 ,  G01N2201/102

Abstract: 本发明公开了一种显示面板的缺陷定位装置，该显示面板的缺陷定位装置采用自动与手动结合的方式，手动进行面板区域选择和缺陷标记，缺陷定位装置自动化进行区域移动和标记捕捉，既降低了人员操作量又降低了成本，又可以准确标定缺陷的具体坐标位置，标定准确度高，便于与自动修复设备配合使用；广泛适用于多种缺陷类型，包括3D类型面板不良、闪烁类型亮点或特殊类型不良(如S-G不良交叉点，S-C线上黑点等)；本发明还公开了应用于该显示面板的缺陷定位装置的缺陷定位方法。

公开(公告)号：CN108802050A

公开(公告)日：2018-11-13

申请号：CN201810657254.9

申请日：2018-06-22

Applicant: 宁波江丰电子材料股份有限公司

Inventor： 姚力军 ,  潘杰 ,  王学泽 ,  王利江

IPC: G01N21/88 ,  G01N21/95 ,  G01N21/15

CPC classification number: G01N21/8806 ,  G01N21/15 ,  G01N21/8851 ,  G01N21/95 ,  G01N2021/151 ,  G01N2021/8887 ,  G01N2201/061

Abstract: 本发明提供了一种靶材视觉检测装置和方法，涉及靶材检测技术领域，该靶材视觉检测装置包括控制器，以及与该控制器分别相连的光源、摄像设备和存储器；该摄像设备与存储器相连；该光源用于给待检测靶材照明；该摄像设备用于拍摄该待检测靶材的图像；该存储器用于存储该待检测靶材的图像，该存储器内预先存有合格靶材的标样图片；该控制器用于将该待检测靶材的图像和标样图片进行比对，以判断该待检测靶材是否合格。本发明实施例提供的一种靶材视觉检测装置和方法，可以自动检测靶材是否合格，并提高检测的精准性。

公开(公告)号：CN106066206B

公开(公告)日：2018-09-04

申请号：CN201610171306.2

申请日：2016-03-24

Applicant: 真实仪器公司

Inventor： L·A·布洛克 ,  J·D·科利斯 ,  M·A·梅隆尼 ,  M·慧斓

IPC: G01J3/28 ,  G01B11/06

CPC classification number: H05B41/30 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/027 ,  G01J3/10 ,  G01J3/26 ,  G01J2003/1278 ,  G01N21/84 ,  G01N2201/061 ,  G01N2201/0696

Abstract: 本发明涉及用于过程监测的高动态范围测量系统。提供了一种闪光灯控制系统，其具有静态电连接到高电压电源的电容器，接着电流感测部件电连接到静态电容器和数字控制电子器件以监测静态电容器的充电电流和/或放电电流。动态可开关的电容器也可以电连接到高电压电源和数字控制电子器件，用于基于所监测的充电电流和/或放电电流将动态可开关的电容器与高电压电源相隔离。一个或多个均质化元件，包括空气间隙、漫射均质化元件、成像元件、非成像元件或光管均质化元件，可以被布置在接近于闪光灯的光路中，例如多通道分配器如果存在的话，以在时间上或光谱上或者在这二者上降低光学信号的变化系数。

公开(公告)号：CN108061516A

公开(公告)日：2018-05-22

申请号：CN201710950362.0

申请日：2017-10-13

Applicant: 波音公司

Inventor： L·C·英格拉姆 ,  A·W·贝克 ,  S·A·多里斯 ,  C·P·贝尔格莱维亚

IPC: G01B11/00

CPC classification number: G01N21/8851 ,  G01B11/0608 ,  G01B11/245 ,  G01N21/8903 ,  G01N2021/8909 ,  G01N2201/061 ,  G01B11/00

Abstract: 本申请涉及使用多个扫描仪的组合表面检查，提供了用于检查各种组件的表面(如评估在这些表面上的高度偏差)的方法和系统。一种方法涉及聚合来自多个行扫描仪的检查数据到组合数据集中。这个组合数据集表示比扫描仪中的任何一个的测量领域大的表面的一部分。此外，每对相邻的扫描仪在不同的时间周期操作以避免干扰。因为操作周期是偏移的，由该对相邻的扫描仪扫描的表面部分可重叠且无干扰。扫描的部分的这种重叠确保整个表面被分析。扫描仪相对于检查表面的位置可在扫描之间被改变，且在一些实施例中，甚至在扫描期间被改变。这种方法允许大表面的精确的扫描。

公开(公告)号：CN104833312B

公开(公告)日：2018-05-04

申请号：CN201510040820.8

申请日：2015-01-27

Applicant: ABB ,  技术有限公司

Inventor： J.L.M.范梅撤伦

IPC: G01B11/06 ,  B05D3/06

CPC classification number: G01N21/3581 ,  G01B11/0616 ,  G01B11/0625 ,  G01B11/0683 ,  G01N33/32 ,  G01N2201/061 ,  G01N2201/12

Abstract: 提供基于拟合到物理模型通过涂料层参数来表征上涂料主体的湿涂料层的方法。该方法包括：由发射器系统朝上涂料主体发射THz辐射信号使得THz辐射与湿涂料层交互，湿涂料层还未完成干燥过程，在该干燥过程期间湿涂料层变成干涂料层；由检测器系统检测响应信号，其是与湿涂料层交互的检测的THz辐射信号；通过优化模型参数使得物理模型的预测响应信号拟合到检测的响应信号来确定物理模型的模型参数，其中模型参数指示湿涂料层的光学性质，其描述THz辐射信号与湿涂料层的交互，确定的模型参数包括湿涂料层的折射率的参数化；以及从确定的模型参数确定涂料层参数，其中涂料层参数包括湿涂料层的预测干燥层厚度。

公开(公告)号：CN104412079B

公开(公告)日：2018-03-27

申请号：CN201380035014.0

申请日：2013-05-09

Applicant: 希捷科技有限公司

Inventor： J·W·艾和 ,  S·K·麦克劳林

IPC: G01J1/10

CPC classification number: G01N21/8806 ,  G01N21/47 ,  G01N21/8851 ,  G01N21/94 ,  G01N21/95 ,  G01N21/9501 ,  G01N21/9506 ,  G01N2021/8864 ,  G01N2201/061 ,  G01N2201/12

Abstract: 本文中所提供的是一种装置，包括用于将光子发射到物品的表面上的光子发射装置；用于检测从物品的表面中的特征散射的光子的光子检测装置；以及用于映射物品的表面中的特征的映射装置，其中此装置被配置成每100秒处理多于一个物品。

公开(公告)号：CN107807129A

公开(公告)日：2018-03-16

申请号：CN201711230597.9

申请日：2017-11-29

Applicant: 周大生珠宝股份有限公司

Inventor： 周宗文 ,  吴倩倩 ,  袁心强

IPC: G01N21/87 ,  G01N21/47 ,  G01N21/01

CPC classification number: G01N21/87 ,  G01N21/01 ,  G01N21/47 ,  G01N2201/061 ,  G01N2201/103

Abstract: 本发明涉及宝石检测领域，提供一种钻石灯光源钻石测量仪及钻石测量方法。一种钻石灯光源钻石测量仪，包括处理器、光源组件、图像采集装置及用于放置样品的样品台，光源组件提供照射在位于样品台上样品的入射光线，图像采集装置用于采集样品反射入射光线所形成的图像；处理器用于接收由图像采集装置采集到的图像并利用该图像处理分析得到样品的光学参数；光源组件与样品台的垂直距离为50-120mm,水平距离为20-60mm。该钻石灯光源钻石测量仪能直接测定样品的光学参数，可以有效地、客观地评价钻石的光学效果。一种钻石测量方法，采用上述的钻石灯光源钻石测量仪对样品进行光学参数的测量。

公开(公告)号：CN105793970B

公开(公告)日：2018-03-09

申请号：CN201480065989.2

申请日：2014-11-05

Applicant: 科磊股份有限公司

Inventor： A·帕克 ,  C·马克奈顿 ,  E·张

IPC: H01L21/66

CPC classification number: G01N21/93 ,  G01B11/06 ,  G01B11/0675 ,  G01B2210/56 ,  G01N21/9501 ,  G01N21/956 ,  G01N2201/061 ,  G01N2201/105 ,  G01N2201/11 ,  G01N2201/125 ,  G03F7/705 ,  G03F7/70616

Abstract: 本发明提供用于确定晶片检验过程的一或多个参数的方法及系统。一种方法包含采集由晶片计量系统产生的针对晶片的计量数据。所述方法还包含基于所述计量数据而确定用于所述晶片或另一晶片的晶片检验过程的一或多个参数。