表面温度场信息获取方法
    12.
    发明授权

    公开(公告)号:CN113029348B

    公开(公告)日:2022-08-02

    申请号:CN202110195899.7

    申请日:2021-02-22

    Abstract: 本发明涉及微纳器件测试技术领域,公开了一种表面温度场信息获取方法。将待测样品安装于实际应用环境中,测试获取待测样品在实际应用环境中的第一频率漂移特性曲线;将待测样品固定于红外成像设备上,测试获取待测样品在红外成像设备上的第二频率漂移特性曲线;根据第一频率漂移特性曲线获取待测样品在第一功率下所对应的第一频率漂移;根据第二频率漂移特性曲线获取待测样品的第一频率漂移所对应的第二功率;对固定于红外成像设备上的待测样品施加第二功率,利用红外成像设备获取待测样品的表面温度场信息。通过建立从实际工作环境到显微红外测试环境的映射,消除了由于显微红外测试环境相对于实际工作环境的热导率存在差异而产生的测试误差。

    一种反射率热成像测试方法和计算机设备

    公开(公告)号:CN118999824B

    公开(公告)日:2025-01-28

    申请号:CN202411464870.4

    申请日:2024-10-21

    Abstract: 本发明公开了一种反射率热成像测试方法和计算机设备,所述方法采用连续波段光源为待测试器件的待测试区域提供入射光,通过热反射校准系数测试步骤获取不同波段光源下器件待测区域所有位置的热反射校准系数;通过反射率测试步骤获取不同波段光源下器件待测区域所有位置的反射率;通过数据处理步骤基于待测试器件所有位置的最大热反射校准系数,以及所有位置在热反射校准系数最大情况下对应波段光源下测试的反射率,计算获得待测试器件所有位置的温度数据,并将温度数据组合形成温度分布。本发明能够解决现有技术中存在的测试时间长、部分区域因材料对光源响应较差而导致温度测试结果出现极大偏离的问题,提高反射率热成像测试的效率和准确度。

    电迁移测试电路、测试装置和方法

    公开(公告)号:CN114371384B

    公开(公告)日:2025-01-03

    申请号:CN202111575063.6

    申请日:2021-12-21

    Abstract: 本申请提供了一种电迁移测试电路,包括测试模块、数据采集模块及控制模块,其中,测试模块用于根据输出控制信号对待测样品施加预设参数的测试信号;数据采集模块与测试模块连接,用于根据开关动作信号动作,控制待测样品接入对应的测试回路,并采集待测样品的电迁移试验参数信息;控制模块,与测试模块及数据采集模块均连接,用于根据接收的测试触发信号生成输出控制信号,以控制测试模块生成测试信号;及/或根据测试触发信号生成开关动作信号,以控制数据采集模块动作,使待测样品接入对应的测试回路。上述测试电路中,基于控制模块与数据采集模块生成待测样品的寿命预测方程,能相对准确的评估样品使用寿命,大大提高了测试效率。

    表面温度场信息获取方法
    20.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113029348A

    公开(公告)日:2021-06-25

    申请号:CN202110195899.7

    申请日:2021-02-22

    Abstract: 本发明涉及微纳器件测试技术领域,公开了一种表面温度场信息获取方法。将待测样品安装于实际应用环境中,测试获取待测样品在实际应用环境中的第一频率漂移特性曲线;将待测样品固定于红外成像设备上,测试获取待测样品在红外成像设备上的第二频率漂移特性曲线;根据第一频率漂移特性曲线获取待测样品在第一功率下所对应的第一频率漂移;根据第二频率漂移特性曲线获取待测样品的第一频率漂移所对应的第二功率;对固定于红外成像设备上的待测样品施加第二功率,利用红外成像设备获取待测样品的表面温度场信息。通过建立从实际工作环境到显微红外测试环境的映射,消除了由于显微红外测试环境相对于实际工作环境的热导率存在差异而产生的测试误差。

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