-
公开(公告)号：CN109361139A
公开(公告)日：2019-02-19
申请号：CN201811487197.0
申请日：2018-12-06
Applicant: 中国工程物理研究院上海激光等离子体研究所
Abstract: 本发明公开了一种栅栏脉冲产生系统，该系统包括光纤锁模激光器、波导幅度调制器和第一分束器，第一分束器的输出端分别连接有第一窄带滤波器和第二窄带滤波器，在第一窄带滤波器上串联有第一光纤延迟器，在第二窄带滤波器上串联有第一光纤衰减器，第一光纤延迟器的输出端和第一光纤衰减器的输出端并联然后均与第一耦合器的输入端相连，第一耦合器的输出端与若干二进制堆积单元串联，在二进制堆积单元的输出端分别连接有第一光纤放大器和第二光纤放大器，在第一光纤放大器上串联有第一N*1并联式堆积单元，在第二光纤放大器上串联有第二N*1并联式堆积单元，然后与合束器串联。本发明栅栏脉冲可以有效的抑制SRS和SBS的积累。
-
公开(公告)号：CN108982072A
公开(公告)日：2018-12-11
申请号：CN201811040724.3
申请日：2018-09-07
Applicant: 中国工程物理研究院上海激光等离子体研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种光学薄膜缺陷激光损伤阈值的测试系统，该系统包括按光路依次放置的激光器、衰减器、分束器、能量计、光束质量分析仪、聚焦透镜、CCD相机、金属膜、光学薄膜、移动平台、扫描电子显微镜和电脑，激光器发出的激光束，经衰减器后到达光束分束器，光束分束器透射方向的激光束经过聚焦透镜到达金属膜，CCD相机记录激光辐照在金属膜表面的光斑位置和辐照在光学薄膜表面时的激光损伤点坐标，扫描电子显微镜记录激光辐照在光学薄膜中缺陷损伤点纵向深度位置，并完成对缺陷损伤点横向能量密度细分与纵向电场归一化处理相结合分析。本发明解决了以峰值能量密度作为缺陷损伤密度所带来的问题，从而提高测试精度。
-
公开(公告)号：CN107577023A
公开(公告)日：2018-01-12
申请号：CN201710939342.3
申请日：2017-10-11
Applicant: 中国工程物理研究院上海激光等离子体研究所
Abstract: 本发明公开了一种大口径光栅脉冲压缩器姿态的调节方法，该方法包括以下步骤：步骤1、建立基准光路；步骤2、第一大口径光栅姿态的调节，通过第一楔板和第二楔板的调节，完成第一大口径光栅的方位旋转、俯仰旋转、面内旋转；步骤3、第二大口径光栅姿态的调节，通过第三楔板和第四楔板的调节，完成第二大口径光栅的方位旋转、俯仰旋转、面内旋转；步骤4、第三大口径光栅姿态的调节，通过第一楔板和第二楔板的调节，完成第三大口径光栅的方位旋转、俯仰旋转、面内旋转；步骤5、第四大口径光栅姿态的调节，通过第三楔板和第四楔板的调节，完成第四大口径光栅的方位旋转、俯仰旋转、面内旋转。本发明大口径光栅姿态的调节精度可达数个μrad量级。
-
公开(公告)号：CN107390318A
公开(公告)日：2017-11-24
申请号：CN201710716004.3
申请日：2017-08-21
Applicant: 中国工程物理研究院上海激光等离子体研究所
IPC: G02B6/14
CPC classification number: G02B6/14
Abstract: 本发明公开了一种新型的光波导滤波器，该光波导滤波器包括圆柱形石英基板外壳和热封层，所述圆柱形石英基板外壳和热封层构成液晶盒，所述液晶盒内分布有液晶分子，在所述圆柱形石英基板的外表面均沉积有外层ITO层，所述圆柱形石英基板的内表面上均沉积有DMOAP单分子层，所述液晶分子通过DMOAP单分子层的定向作用垂直于圆柱形石英基板外壳排列，所述液晶分子短轴的折射率小于光波导芯层的折射率、液晶分子长轴的折射率高于光波导芯层的折射率，所述液晶盒整体置于电磁场中，所述电磁场调节液晶分子的排列方向，从而改变光波导和液晶分子之间的折射率差，抑制多模输出，实现单模输出。本发明结构型简单实用，在光波导通信行业有相应的应用前景。
-
公开(公告)号：CN105157857A
公开(公告)日：2015-12-16
申请号：CN201510602067.7
申请日：2015-09-21
Applicant: 中国工程物理研究院上海激光等离子体研究所
IPC: G01J11/00
Abstract: 本发明涉及到一种超短脉冲时间同步的测量装置，该测量装置包括有光学延迟线、第一半透半反镜、第二半透半反镜、透镜、非线性晶体、小孔光阑、第一光电二极管、半波片、合束器、四分之一波片、偏振分束器、第二光电二极管、第三光电二极管和减法器；测量方法是采用光学互相关测量时间同步，即由第一光电二极管获得和频光信号的最大值，使两束待测超短脉冲初步达到时间同步；采取电学能量平衡法进一步提升时间同步测量精度，在初步时间同步的基础上，若减法器输出信号为0，则两束超短脉冲达到高精度时间同步。本发明的时间同步测量精度可达亚飞秒量级，能够用于皮秒、飞秒等超短脉冲激光的时间同步测量。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114486190B
公开(公告)日：2024-07-16
申请号：CN202210031568.4
申请日：2022-01-12
Applicant: 中国工程物理研究院上海激光等离子体研究所
Abstract: 本发明公开了一种光学元件后表面激光损伤阈值的测试装置及测试方法，本发明通过多次测量背向受激布里渊散射和自聚焦效应的增益情况，将传统测试方法中忽略的两种非线性效应考虑进来，得到了激光诱导光学元件后表面损伤时真实的激光能量与激光光斑大小，从而规避了不同形状的光学元件引入不同的非线性效应所带来的损伤阈值测试结果误差，本发明的测试装置和方法不仅提高了测试精度，也为开展激光诱导光学元件后表面损伤机理以及相应的提高损伤阈值工艺提供了更多的帮助。
-
公开(公告)号：CN115950362A
公开(公告)日：2023-04-11
申请号：CN202310080777.2
申请日：2023-02-08
Applicant: 中国工程物理研究院上海激光等离子体研究所
IPC: G01B11/02
Abstract: 本发明提供一种基于宽带光空域‑谱域显微干涉术的微位移量传感装置，该装置包括宽带光源、柯勒照明系统、显微镜筒、干涉物镜、被测件、精密电控平台、分束器、科学CCD、导光光纤、多通道光谱仪和计算机，还涉及一种微位移量测量方法。本发明的装置及方法为非接触式位移量传感，不会对测量件造成损伤，测量过程无需轴向扫描，测量效率高，时间短，可实现即时测量；该测量方法结合了宽带光的空域干涉法和谱域干涉法，由空域干涉条纹进行小位移量传感，谱域干涉条纹进行大位移量传感，测量范围无“死区”，可实现±1mm范围内的高精度微位移量传感；系统横向分辨率高，尤其是在微加工等领域的光学元件高精度检测中能满足需求。
-
公开(公告)号：CN115799954A
公开(公告)日：2023-03-14
申请号：CN202211561183.5
申请日：2022-12-07
Applicant: 中国工程物理研究院上海激光等离子体研究所
Abstract: 本发明公开了一种多波长耦合激光冲击强化的装置及使用方法，该装置及使用方法将短波长激光和长波长激光耦合作用引入至激光冲击强化作业中，针对不同加工材料实现了多波长激光选取、能量配比、时间延迟以及实时监测的精密自动化调节，实现多波长激光耦合冲击强化的加工，提高了激光冲击强化效果，为研究材料冲击强化特性提供借鉴。
-
公开(公告)号：CN113161849B
公开(公告)日：2023-02-10
申请号：CN202011509296.1
申请日：2020-12-18
Applicant: 中国工程物理研究院上海激光等离子体研究所
Abstract: 本发明公开了一种对激光束入射角度相对误差不敏感的色谱合成装置及方法，该色谱合成装置通过在普通的二向色镜上添加特殊的分区镀膜构成复合色谱合成镜，通过将该复合色谱合成镜与角锥棱镜配合使用，使两支激光束的光路中均只存在一次反射，从而避免因色谱合成装置与两束待合束的激光束之间的相对角度误差而引起的合束激光光轴的指向偏差，从而提高了色谱合成激光束的亮度和光束质量。
-
公开(公告)号：CN112414677B
公开(公告)日：2022-05-27
申请号：CN202011245093.6
申请日：2020-11-10
Applicant: 中国工程物理研究院上海激光等离子体研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明涉及到一种高精度测量光学元件体内光斑大小的测试装置，所述测试装置结构上包括有激光器(1)、衰减器(2)、聚焦透镜(3)、平行光管(4)、成像镜头(5)、CCD相机(7)、第一电动位移平台(10)、第二电动位移平台(8)、分划板(9)和计算机(11)，还涉及一种应用所述的测试装置测量光学元件体内光斑大小的方法。本发明的测试装置和测试方法能够精确的计算出待测光学元件内任意位置处的光斑大小，解决了传统测试方法中无法直接测量光学元件任一位置光斑大小以及理论计算精度较低等问题，为光学元件的激光加工、非线性效应以及激光损伤等方面的生产和研究提供了更多的帮助。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
53
records
(took 0.05 seconds)
