一种成缆式增益光纤温控系统

    公开(公告)号:CN114156720B

    公开(公告)日:2024-07-16

    申请号:CN202111336919.4

    申请日:2021-11-12

    Abstract: 本发明涉及一种成缆式增益光纤温控系统,包括缆管、增益光纤套管组件、支撑件、缆管分支、密封头,支撑件和增益光纤套管组件安装在缆管内部,支撑件上设有用以增益光纤套管组件穿设的穿缆孔;缆管的两端设有用以缆管两端封堵的密封头,缆管分支连接到缆管侧壁;密封头和缆管分支上分别设有用以缆管内冷媒流体的接口;增益光纤套管组件的从密封头穿出。本发明采用缆管分支对缆管的温度进行分段控制,通过分段控制可以更加精确控制增益光纤的温度,充分利用增益光纤套管的表面积进行温控,降低高功率激光器的体积和重量。

    基于切伦科夫辐射实现亚飞秒级超短脉冲合成的方法

    公开(公告)号:CN107942598A

    公开(公告)日:2018-04-20

    申请号:CN201711165504.9

    申请日:2017-11-21

    CPC classification number: G02F1/353 G02F2001/354

    Abstract: 本发明公开了一种基于切伦科夫辐射实现亚飞秒级超短脉冲合成的方法,包括:步骤1,建立基准光路,将非线性晶体置于六维旋转平移台上,旋转六维旋转平移台调节非线性晶体的角度,使非线性切伦科夫辐射在非线性晶体内表面发生,步骤2,据入射激光在非线性晶体内表面反射的角度确定各阶倍频光在晶体中的非线性切伦科夫辐射角,步骤3,入射激光产生的基频光、二倍频光、三倍频光、四倍频光、五倍频光及更高阶倍频光沿各自辐射角出射,经过振幅型液晶光调制器、相位型液晶光调制器调制后,经第二色散棱镜,各阶光波传输方向由平行变为汇聚,经第三色散棱镜后,合成一束亚飞秒级超短脉冲。本发明实现亚飞秒级光波形合成过程,高效率、高保真度。

    一种波长分离薄膜缺陷激光损伤阈值的测试方法及系统

    公开(公告)号:CN110618143B

    公开(公告)日:2022-05-31

    申请号:CN201911024331.8

    申请日:2019-10-25

    Abstract: 本发明公开了一种波长分离薄膜缺陷激光损伤阈值的测试方法及系统,该方法以不同波长激光辐照波长分离薄膜的不同损伤机理及损伤形貌作为依据,将缺陷损伤点对应的致损波长激光进行判定,并将缺陷损伤的时间以及二维空间中位于高斯光斑内的坐标进行判断进行能量密度细化分析,结合缺陷损伤点的深度以及两波长激光各自对应的电场,完成对缺陷损伤点在时间与三维空间的能量密度进行细分,有效地解决了国际标准测试法中,无法判定缺陷损伤对应波长激光能量,将高斯光斑内不均匀分布的激光能量密度以及缺陷损伤点等效的看作为均匀分布,并将峰值能量密度作为缺陷损伤能量密度,忽略缺陷损伤的时间以及纵向电场影响所带来的问题,提高了测试精度。

    一种大尺寸纳米周期光栅的制备方法

    公开(公告)号:CN111007586A

    公开(公告)日:2020-04-14

    申请号:CN201911310965.X

    申请日:2019-12-18

    Abstract: 本发明公开了一种大尺寸纳米周期光栅的制备方法,具体包括以下步骤:建立光路系统;调整激光能量密度,在加工样品表面制备出激光光斑的光栅夹缝结构,并获取光栅夹缝结构内相邻两个激光诱导表面周期性微结构之间的间距d1;通过三维移动平台沿着Y方向多次移动加工样品;通过三维移动平台将加工样品沿着X方向移动设定距离,使加工样品表面制备出的当前激光光斑的光栅夹缝结构与前一激光光斑的光栅夹缝结构之间的结构间距d2与间距d1相等;重复上述步骤,在加工样品表面制备出任意长度和宽度的纳米周期光栅。本发明只需控制激光能量密度和移动平台,就能直接制备大尺寸纳米周期光栅,工艺简单,对环境要求极低,方便实现。

    一种波长分离薄膜缺陷激光损伤阈值的测试方法及系统

    公开(公告)号:CN110618143A

    公开(公告)日:2019-12-27

    申请号:CN201911024331.8

    申请日:2019-10-25

    Abstract: 本发明公开了一种波长分离薄膜缺陷激光损伤阈值的测试方法及系统,该方法以不同波长激光辐照波长分离薄膜的不同损伤机理及损伤形貌作为依据,将缺陷损伤点对应的致损波长激光进行判定,并将缺陷损伤的时间以及二维空间中位于高斯光斑内的坐标进行判断进行能量密度细化分析,结合缺陷损伤点的深度以及两波长激光各自对应的电场,完成对缺陷损伤点在时间与三维空间的能量密度进行细分,有效地解决了国际标准测试法中,无法判定缺陷损伤对应波长激光能量,将高斯光斑内不均匀分布的激光能量密度以及缺陷损伤点等效的看作为均匀分布,并将峰值能量密度作为缺陷损伤能量密度,忽略缺陷损伤的时间以及纵向电场影响所带来的问题,提高了测试精度。

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