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公开(公告)号：CN119324364A
公开(公告)日：2025-01-17
申请号：CN202411418175.4
申请日：2024-10-11
Applicant: 中国工程物理研究院上海激光等离子体研究所
Abstract: 本发明涉及高功率激光技术领域，提供一种光栅压缩器。该光栅压缩器包括第一光栅、第二光栅和反射镜；第一光栅具有第一光栅面；第二光栅具有第二光栅面，第一光栅面所在平面与第二光栅面所在平面呈夹角，且第一光栅面与第二光栅面相向设置；反射镜位于第一光栅和第二光栅的光路传输路径上。如此，光束可则在第一光栅面、反射镜的反射面以及第二光栅面之间进行多次传输而实现脉冲宽度的压缩，并且，相较于传统的Treacy型平行光栅对压缩器，该光栅压缩器的体积更小，能够满足不同类型激光系统的适配要求。
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公开(公告)号：CN112636141B
公开(公告)日：2022-05-31
申请号：CN202011503049.0
申请日：2020-12-18
Applicant: 中国工程物理研究院上海激光等离子体研究所
Abstract: 本发明涉及到一种自适应光谱合成系统，该系统包括端镜、光纤放大器、光纤阵列、光纤布拉格光栅、传输透镜、衍射光栅、准直透镜和结构件，所述的光纤阵列、传输透镜、衍射光栅和准直透镜分别固定所述的结构件上形成一个整体。本发明的自适应光谱合成系统可以实现子束的光谱自适应锁定，降低系统对光谱稳定性和线宽的要求，有效提升合成光束质量。
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公开(公告)号：CN110618143B
公开(公告)日：2022-05-31
申请号：CN201911024331.8
申请日：2019-10-25
Applicant: 中国工程物理研究院上海激光等离子体研究所
IPC: G01N21/958
Abstract: 本发明公开了一种波长分离薄膜缺陷激光损伤阈值的测试方法及系统，该方法以不同波长激光辐照波长分离薄膜的不同损伤机理及损伤形貌作为依据，将缺陷损伤点对应的致损波长激光进行判定，并将缺陷损伤的时间以及二维空间中位于高斯光斑内的坐标进行判断进行能量密度细化分析，结合缺陷损伤点的深度以及两波长激光各自对应的电场，完成对缺陷损伤点在时间与三维空间的能量密度进行细分，有效地解决了国际标准测试法中，无法判定缺陷损伤对应波长激光能量，将高斯光斑内不均匀分布的激光能量密度以及缺陷损伤点等效的看作为均匀分布，并将峰值能量密度作为缺陷损伤能量密度，忽略缺陷损伤的时间以及纵向电场影响所带来的问题，提高了测试精度。
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公开(公告)号：CN111007586A
公开(公告)日：2020-04-14
申请号：CN201911310965.X
申请日：2019-12-18
Applicant: 中国工程物理研究院上海激光等离子体研究所
IPC: G02B5/18
Abstract: 本发明公开了一种大尺寸纳米周期光栅的制备方法，具体包括以下步骤：建立光路系统；调整激光能量密度，在加工样品表面制备出激光光斑的光栅夹缝结构，并获取光栅夹缝结构内相邻两个激光诱导表面周期性微结构之间的间距d1；通过三维移动平台沿着Y方向多次移动加工样品；通过三维移动平台将加工样品沿着X方向移动设定距离，使加工样品表面制备出的当前激光光斑的光栅夹缝结构与前一激光光斑的光栅夹缝结构之间的结构间距d2与间距d1相等；重复上述步骤，在加工样品表面制备出任意长度和宽度的纳米周期光栅。本发明只需控制激光能量密度和移动平台，就能直接制备大尺寸纳米周期光栅，工艺简单，对环境要求极低，方便实现。
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公开(公告)号：CN110618143A
公开(公告)日：2019-12-27
申请号：CN201911024331.8
申请日：2019-10-25
Applicant: 中国工程物理研究院上海激光等离子体研究所
IPC: G01N21/958
Abstract: 本发明公开了一种波长分离薄膜缺陷激光损伤阈值的测试方法及系统，该方法以不同波长激光辐照波长分离薄膜的不同损伤机理及损伤形貌作为依据，将缺陷损伤点对应的致损波长激光进行判定，并将缺陷损伤的时间以及二维空间中位于高斯光斑内的坐标进行判断进行能量密度细化分析，结合缺陷损伤点的深度以及两波长激光各自对应的电场，完成对缺陷损伤点在时间与三维空间的能量密度进行细分，有效地解决了国际标准测试法中，无法判定缺陷损伤对应波长激光能量，将高斯光斑内不均匀分布的激光能量密度以及缺陷损伤点等效的看作为均匀分布，并将峰值能量密度作为缺陷损伤能量密度，忽略缺陷损伤的时间以及纵向电场影响所带来的问题，提高了测试精度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105157857B
公开(公告)日：2017-11-14
申请号：CN201510602067.7
申请日：2015-09-21
Applicant: 中国工程物理研究院上海激光等离子体研究所
IPC: G01J11/00
Abstract: 本发明涉及到一种超短脉冲时间同步的测量装置，该测量装置包括有光学延迟线、第一半透半反镜、第二半透半反镜、透镜、非线性晶体、小孔光阑、第一光电二极管、半波片、合束器、四分之一波片、偏振分束器、第二光电二极管、第三光电二极管和减法器；测量方法是采用光学互相关测量时间同步，即由第一光电二极管获得和频光信号的最大值，使两束待测超短脉冲初步达到时间同步；采取电学能量平衡法进一步提升时间同步测量精度，在初步时间同步的基础上，若减法器输出信号为0，则两束超短脉冲达到高精度时间同步。本发明的时间同步测量精度可达亚飞秒量级，能够用于皮秒、飞秒等超短脉冲激光的时间同步测量。
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公开(公告)号：CN106840612A
公开(公告)日：2017-06-13
申请号：CN201710069388.4
申请日：2017-02-08
Applicant: 中国工程物理研究院上海激光等离子体研究所
IPC: G01M11/02
CPC classification number: G01M11/0278
Abstract: 本发明公开了一种大口径光栅损伤的在线快速测量装置，该装置包括激光器、准直透镜、半波片、偏振分束器、第一透镜、第二透镜、大口径光栅、成像系统、数据处理系统，激光器发出的线偏振光束通过准直透镜准直为平行光束，平行光束经半波片后以高透过率通过偏振分束器，经偏振分束器后的透射光束依次经过第一透镜、第二透镜构成的扩束系统后将光束口径扩大，扩束后的光束入射到大口径光栅上，大口径光栅的衍射光将沿原路返回后入射到偏振分束器上，偏振分束器的反射光由成像系统接收，成像系统与数据处理系统相连接，由数据处理系统对成像系统获得的图像进行分析处理，得出大口径光栅的损伤信息。本发明能够实现大口径光栅损伤的在线快速测量。
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公开(公告)号：CN119634996A
公开(公告)日：2025-03-18
申请号：CN202411568844.6
申请日：2024-11-05
Applicant: 中国工程物理研究院上海激光等离子体研究所
IPC: B23K26/362 , B23K26/70
Abstract: 本发明公开了一种激光精密加工碳化硅表面的调控方法，通过对激光加工碳化硅表面后的烧蚀面积以及相应拉曼光谱变化进行测试，对激光加工后碳化硅表面的碳化效应以及烧蚀边界进行标定，结合空间分辨法得到各类碳化硅晶体在不同参数激光辐照下，诱导其表面碳化以及烧蚀的相关阈值，并且可根据烧蚀和碳化加工尺寸需求，得到对应的入射激光能量密度和入射激光光强，从而实现激光精密、可控的加工各类碳化硅表面烧蚀以及碳化的尺寸，提高加工精度和质量，可根据需求实现不同需求的精密加工，为拓展碳化硅的应用提供可靠的加工方案。
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公开(公告)号：CN114156720B
公开(公告)日：2024-07-16
申请号：CN202111336919.4
申请日：2021-11-12
Applicant: 中国工程物理研究院上海激光等离子体研究所
Abstract: 本发明涉及一种成缆式增益光纤温控系统，包括缆管、增益光纤套管组件、支撑件、缆管分支、密封头，支撑件和增益光纤套管组件安装在缆管内部，支撑件上设有用以增益光纤套管组件穿设的穿缆孔；缆管的两端设有用以缆管两端封堵的密封头，缆管分支连接到缆管侧壁；密封头和缆管分支上分别设有用以缆管内冷媒流体的接口；增益光纤套管组件的从密封头穿出。本发明采用缆管分支对缆管的温度进行分段控制，通过分段控制可以更加精确控制增益光纤的温度，充分利用增益光纤套管的表面积进行温控，降低高功率激光器的体积和重量。
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公开(公告)号：CN114460756B
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN202111610347.4
申请日：2021-12-27
Applicant: 中国工程物理研究院上海激光等离子体研究所
IPC: G02B27/28
Abstract: 本发明涉及一种宽带激光随机偏振匀滑方法，该方法包括：步骤1、依次设置激光发生装置、偏振晶体、束匀滑系统、聚焦系统、靶，偏振晶体、束匀滑系统、聚焦系统、靶沿激光发生装置的光路设置；步骤2、启动激光发生装置，朝偏振晶体发射宽带低相干激光光束；步骤3、激光经偏振晶体，形成光束一和光束二，光束一和光束二分别射向束匀滑系统后射向聚焦系统；步骤4、光束一和光束二经过聚焦系统聚焦后照射在靶上，获得随机偏振光斑。通过本发明的宽带激光随机偏振匀滑方法可以获得低偏振度的偏振匀滑焦斑，窄带偏振匀滑焦斑仅为偏振方向具有空间分布，不具有低偏振度特性，同时本发明保留了束匀滑系统的束匀滑能力。
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