集成电路的布局
    21.
    发明授权

    公开(公告)号:CN104681540B

    公开(公告)日:2018-02-13

    申请号:CN201410705202.6

    申请日:2014-11-27

    CPC classification number: G06F17/5072 H01L2924/0002 H01L2924/00

    Abstract: 本发明提供了一种单元布局,包括用于VDD电源的第一金属线,第一金属线包括连接至第一金属线并且垂直于第一金属线的第一凸出件。第二金属线是用于VSS电源,并且包括连接至第二金属线并且垂直于第二金属线的第二凸出件。单元布局包括上单元边界、下单元边界、第一单元边界和第二单元边界。上单元边界和下单元边界沿着X方向延伸。第一单元边界和第二单元边界沿着Y方向延伸。上单元边界限定在第一金属线的部分中。下单元边界限定在第二金属线的部分中。第一单元边界限定在第一凸出件的部分中和第二凸出件的部分中。本发明还涉及集成电路的布局。

    半导体器件及其布局和制造方法

    公开(公告)号:CN106158852A

    公开(公告)日:2016-11-23

    申请号:CN201510133500.7

    申请日:2015-03-25

    Abstract: 一种半导体器件包括:具有有源区的衬底、位于有源区上方的栅极结构、位于有源区上方并且电连接至有源区的下部导电层、以及位于下部导电层上方并且电连接至下部导电层的上部导电层。下部导电层与栅极结构至少部分地共高度。下部导电层包括相互间隔开的第一和第二导电区段。上部导电层包括与第一和第二导电区段重叠的第三导电区段。第三导电区段电连接至第一导电区段,并且与第二导电区段电隔离。本发明还涉及半导体器件的布局和制造方法。

    集成电路的布局
    25.
    发明公开

    公开(公告)号:CN104681540A

    公开(公告)日:2015-06-03

    申请号:CN201410705202.6

    申请日:2014-11-27

    CPC classification number: G06F17/5072 H01L2924/0002 H01L2924/00

    Abstract: 本发明提供了一种单元布局,包括用于VDD电源的第一金属线,第一金属线包括连接至第一金属线并且垂直于第一金属线的第一凸出件。第二金属线是用于VSS电源,并且包括连接至第二金属线并且垂直于第二金属线的第二凸出件。单元布局包括上单元边界、下单元边界、第一单元边界和第二单元边界。上单元边界和下单元边界沿着X方向延伸。第一单元边界和第二单元边界沿着Y方向延伸。上单元边界限定在第一金属线的部分中。下单元边界限定在第二金属线的部分中。第一单元边界限定在第一凸出件的部分中和第二凸出件的部分中。本发明还涉及集成电路的布局。

    时钟门控电路及其操作方法

    公开(公告)号:CN113141177B

    公开(公告)日:2024-09-06

    申请号:CN202110057326.8

    申请日:2021-01-15

    Abstract: 一种时钟门控电路,包括NOR逻辑门、传输门、交叉耦合对的晶体管以及第一晶体管。NOR逻辑门耦合到第一节点,并接收第一使能信号和第二使能信号,并输出第一控制信号。传输门耦合在第一节点与第二节点之间,并接收第一控制信号、反相时钟输入信号和时钟输出信号。交叉耦合对的晶体管耦合在第二节点与输出节点之间,并接收至少第二控制信号。第一晶体管包括:被配置为接收反相时钟输入信号的第一栅极端子;耦合到输出节点的第一漏极端子;以及耦合到参考电源的第一源极端子。第一晶体管响应于反相时钟输入信号来调节时钟输出信号。本发明的实施例还涉及操作时钟门控电路的方法。

    集成电路及其形成方法
    28.
    发明授权

    公开(公告)号:CN111816655B

    公开(公告)日:2024-06-25

    申请号:CN202010274127.8

    申请日:2020-04-09

    Abstract: 一种集成电路包括第一晶体管、第二晶体管和第一绝缘层。第一晶体管设置在第一层中并且包括第一栅极。第二晶体管设置在第一层上方的第二层中,并且包括第二栅极。第一栅极和第二栅极在第一方向上彼此分离。第一绝缘层设置在第一晶体管的第一栅极和第二晶体管的第二栅极之间。第一绝缘层配置为将第一晶体管的第一栅极与第二晶体管的第二栅极电绝缘。本发明的实施例还涉及形成集成电路的方法。

    具有单元区的半导体器件及其形成方法

    公开(公告)号:CN118156267A

    公开(公告)日:2024-06-07

    申请号:CN202410178477.2

    申请日:2024-02-09

    Abstract: 一种半导体器件的单元区包括:在衬底上形成为预定形状的有源区(AR),所述有源区包括具有第一形状并相应地具有第一和第二掺杂剂类型的第一AR和第二AR、具有第二形状并具有第二掺杂剂类型的第三AR、以及具有第三形状并具有第一掺杂剂类型的第四AR。第一AR和第二AR布置在单元区的第一区域中。第三AR和第四AR布置在单元区的第二区域中。第二区域相对于第一方向(例如,Y轴(垂直邻接结构)或X轴(水平邻接结构))与第一区域相邻。第一形状小于第二形状。第二形状小于第三形状。本申请的实施例还公开了一种形成半导体器件的方法。

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