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公开(公告)号：CN106153646A
公开(公告)日：2016-11-23
申请号：CN201510162334.3
申请日：2015-04-08
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/04
CPC classification number: G01N23/046 , G01N23/041 , G01N2223/1016 , G01N2223/419
Abstract: 公开了一种X射线成像系统和方法。该系统包括：X射线源，发出X射线束；沿着X射线的发射方向依次设置的第一光栅和第二光栅；探测器，设置在X射线发射方向上第二光栅的下游；控制和数据处理装置，用于控制X射线源发出X射线，控制所述探测器接收经过第一光栅和第二光栅的X射线，产生相衬信息和/或暗场信息，并且基于所述相衬信息和/或暗场信息对被检查物体进行CT检查，获得CT图像。利用上述技术方案，能够得到被检查物体的更多的特征信息，从而允许做出更准确的物质识别及安检性能。
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公开(公告)号：CN105628718A
公开(公告)日：2016-06-01
申请号：CN201410610841.4
申请日：2014-11-04
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/04 , G01N23/087
CPC classification number: G01N23/046 , A61B6/032 , A61B6/4035 , A61B6/4241 , A61B6/4291 , A61B6/463 , A61B6/482 , A61B6/484 , G01N23/087 , G01N2223/401 , G01N2223/408 , G01N2223/419 , G01N2223/605
Abstract: 本发明涉及多能谱X射线光栅成像系统与成像方法。本发明的多能谱X射线光栅成像系统具备发射对被检测物体进行照射的X射线的非相干X射线源、由彼此平行配置且依次布置在X射线传播方向上的第一吸收光栅和第二吸收光栅组成的光栅模块以及接收通过了第一以及第二吸收光栅的X射线的能谱分辨型X射线探测器，第一吸收光栅和第二吸收光栅之一在其至少一个周期范围内进行相位步进动作，在每个相位步进过程，非相干X射线源发射X射线对被检测物体进行照射，能谱分辨型X射线探测器接收X射线并对X射线进行能谱分辨，经过一次相位步进过程和数据采集，能谱分辨型X射线探测器上每个像素点处每个能量段的X射线的光强表示为一个光强曲线。
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公开(公告)号：CN115105110B
公开(公告)日：2024-11-08
申请号：CN202111204463.6
申请日：2021-10-15
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: A61B6/03 , G01N23/046
Abstract: 本发明涉及用于射线检查的成像系统和方法。一种用于射线检查的成像系统包括：检查区域，包括成像区域；第一射线源组件，其所有第一靶点布置在第一射线源平面内；第一探测器组件，其多个第一探测器单元布置在探测器平面内，探测器平面与第一射线源平面沿被检查对象的行进方向间隔开预定距离；和射线源控制装置，其构造成当被检查对象的感兴趣区域至少部分地位于成像区域中时，使得第一射线源组件在同一时刻从至少两个第一靶点同时向成像区域发射X射线，在第一射线源组件的同时向成像区域发射X射线的至少两个第一靶点中，每个第一靶点的射线发射范围都能够覆盖成像区域，并且任两个第一靶点的射线发射范围对应的第一探测器晶体互相不重合。
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公开(公告)号：CN118311070A
公开(公告)日：2024-07-09
申请号：CN202211742812.4
申请日：2022-12-30
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/20 , G01N23/2055 , G01N23/04
Abstract: 本公开提供了物品安检系统及方法，可以应用于安检技术领域。物品安检系统包括：至少一个第一检测装置，被配置成对物品进行检测，生成第一检测结果；第一判断装置，被配置成根据第一检测结果，生成第一判断结果，第一判断结果包括第一安全结果和第一非安全结果；至少一个第二检测装置，被配置成对第一判断结果为第一非安全结果的物品进行检测，生成第二检测结果；第二判断装置，被配置成至少根据第二检测结果，生成第二判断结果，第二判断结果包括第二安全结果和第二非安全结果；以及人工安检部，被配置成至少对第二判断结果为第二非安全结果的物品进行人工安检。
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公开(公告)号：CN115598717B
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN202110769776.X
申请日：2021-07-07
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01V5/226 , G01N23/046
Abstract: 本发明涉及检查系统和方法。公开了一种检查系统，包括：承载装置；至少一个射线源，每个射线源包括单独壳体以限定真空空间并且包括封装在壳体内的多个靶点；和探测器组件。检查系统构造成使得至少一个射线源能够围绕旋转轴线相对于承载装置在多个扫描位置之间转动，并且至少一个射线源和探测器组件能够相对于承载装置沿旋转轴线升降。检查系统构造成：当至少一个射线源相对于承载装置位于多个扫描位置中的一个时，至少一个射线源和探测器组件相对于承载装置沿旋转轴线升降并且至少一个射线源发射X射线；并且当至少一个射线源和探测器组件相对于承载装置升降预定距离后，至少一个射线源围绕旋转轴线相对于承载装置转动到多个扫描位置中的另一个。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115097536B
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN202110769061.4
申请日：2021-07-07
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01V5/226 , G01N23/046
Abstract: 本发明涉及检查系统和方法。公开了一种检查系统，包括：射线源；探测器组件；和输送装置，用于承载被检查的航空托盘货物。射线源和探测器组件能够相对于输送装置沿行进方向移动，从而被检查的航空托盘货物能够进入检查区域，并且沿检查区域的中心轴线观察，射线源能够在多个扫描位置之间平移，射线源在相邻两个扫描位置之间的平移距离大于射线源的相邻靶点之间的间距，行进方向与中心轴线平行。当射线源位于多个扫描位置中的一个时，射线源和探测器组件相对于输送装置沿行进方向移动并且射线源发射X射线；并且当射线源和探测器组件相对于输送装置沿行进方向移动预定距离后，射线源平移到多个扫描位置中的另一个。
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公开(公告)号：CN109216137B
公开(公告)日：2024-04-05
申请号：CN201710554219.X
申请日：2017-06-30
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 新鸿电子有限公司
Abstract: 本发明提供一种分布式X射线源及其控制力法。分布式X射线源包括分布式X射线管和阴极控制器。分布式X射线管包括：壳体；包括多个阴极的阴极组；包括多个靶点的阳极，多个靶点与多个阴极一一对准，使得多个靶点接收来自多个阴极的电子束，以产生多束X射线；和阴极引线端子组件组，包括多个阴极引线端子组件，每个阴极引线端子组件包括多个端子，所述端子与所述阴极分别电连接。所述阴极控制器通过所述阴极电缆与阴极引线端子组件电连接并且配置成通过所述阴极电缆分别向所述阴极施加工作电压，以产生所述电子束。
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公开(公告)号：CN111830584B
公开(公告)日：2024-01-26
申请号：CN202010707569.7
申请日：2020-07-21
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 提供一种自助安检系统和安检方法。自助安检系统，包括：用户健康核对系统，适用于对将要进入目标区域的用户的流调信息进行核对，并产生包括所述流调信息的反馈信息；健康信息识别模块，适用于对所述反馈信息进行识别，以判断用户是否具有预定情形；以及检查系统，适用于在所述健康信息识别模块识别出的用户不具有预定情形的情况下，对用户和/或用户的物品进行安全检查。可以对用户的流调信息进行核查，并且通过对用户的流调信息核查之后，如果用户(56)对比文件佛山网警巡查执法“.@跨境旅客，经广东进出境要查2次体温”《.https://baijiahao.baidu.com/s?id=1660205874514495157&wfr=spider&for=pc》.2020,
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公开(公告)号：CN116973966A
公开(公告)日：2023-10-31
申请号：CN202310952671.7
申请日：2019-06-21
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本公开提出一种辐射分析方法、装置和计算机可读存储介质，涉及辐射技术领域。本公开的一种辐射分析方法包括：采用预定数量的射线模拟扫描预定物体；获取从预定物体出射的散射射线在各个次级面源的分布信息，其中，预定物体的表面划分为多个次级面源；将各个次级面源作为射线源，基于蒙特卡罗方法确定散射射线的辐射剂量分布情况。通过这样的方法，能够将辐射分析模拟中从物体散射出的射线作为次级源，基于次级源分析辐射剂量分布情况，降低了运算量，提高了采用蒙特卡罗方法分析辐射分析的可行性，提高了辐射分析的准确度。
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公开(公告)号：CN112114349B
公开(公告)日：2023-07-04
申请号：CN201910540196.6
申请日：2019-06-21
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本公开提出一种辐射分析方法、装置和计算机可读存储介质，涉及辐射技术领域。本公开的一种辐射分析方法包括：采用预定数量的射线模拟扫描预定物体；获取从预定物体出射的散射射线在各个次级面源的分布信息，其中，预定物体的表面划分为多个次级面源；将各个次级面源作为射线源，基于蒙特卡罗方法确定散射射线的辐射剂量分布情况。通过这样的方法，能够将辐射分析模拟中从物体散射出的射线作为次级源，基于次级源分析辐射剂量分布情况，降低了运算量，提高了采用蒙特卡罗方法分析辐射分析的可行性，提高了辐射分析的准确度。
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