安全芯片SPI接口测试方法、装置及系统

    公开(公告)号:CN112100013B

    公开(公告)日:2021-09-21

    申请号:CN202011290441.1

    申请日:2020-11-18

    IPC分类号: G06F11/22

    摘要: 本发明实施方式涉及芯片测试技术领域,特别涉及一种安全芯片SPI接口测试方法、装置及系统。所述方法包括:所述安全芯片的SPI接口与测试设备的对应接口相连,接收输入的第一测试指令,所述第一测试指令包括打开函数、收发函数或关闭函数;通过API函数库解析所述第一测试指令,生成所述测试设备能够执行的且与所述第一测试指令功能对应的第二测试指令;获取所述测试设备响应于所述第二测试指令,对所述SPI接口进行操作并返回的操作结果;基于所述操作结果确定所述安全芯片的SPI接口是否正常。同时还提供了对应的装置和系统。本发明提供的实施方式,能够提升安全芯片SPI接口的测试效率。

    用于TEE测试的板卡设备
    45.
    实用新型

    公开(公告)号:CN209570925U

    公开(公告)日:2019-11-01

    申请号:CN201920706252.4

    申请日:2019-05-17

    IPC分类号: G06F11/267

    摘要: 本实用新型公开了一种用于TEE测试的板卡设备,其包括:FPGA芯片、CPU芯片、内存、存储介质、通信接口。FPGA芯片具有硬件加密模块;CPU芯片与所述CPU芯片通过总线相连,用于控制所述FPGA芯片;内存与所述CPU芯片通过总线相连;存储介质与所述CPU芯片通过总线相连,用于存储可信执行环境操作系统和片上操作系统;通信接口与所述CPU芯片通过总线相连,用于与外部设备之间进行通信连接。该用于TEE测试的板卡设备,可以在硬件开发完成之后迅速开展TEE测试,无需等待流片之后,节约了产品开发周期,降低了时间成本,提高了生产效率。

    一种加密模块
    46.
    实用新型

    公开(公告)号:CN207070061U

    公开(公告)日:2018-03-02

    申请号:CN201721122080.3

    申请日:2017-09-01

    IPC分类号: H04L9/06

    摘要: 本实用新型公开一种加密模块,包括:第一运算电路用于接收输入数据,对输入数据进行运算,将运算后的数据输出至第一逆运算电路和比较电路;第一逆运算电路用于对接收到的数据进行第一运算电路的逆运算,将运算后的数据输出至第二运算电路和比较电路;第二运算电路用于对接收到的数据进行与第一运算电路相同的运算,将运算后的数据输出至比较电路;比较电路对输入数据、第一运算电路运算后的数据、第一逆运算电路运算后的数据、第二运算电路运算后的数据进行比较处理,并输出处理后的结果。本实用新型提供的加密模块可有效检测多点的故障攻击行为,同时输出攻击者无法使用的结果以造成攻击的失效。

    芯片安全检测方法及装置

    公开(公告)号:CN118966111A

    公开(公告)日:2024-11-15

    申请号:CN202410894545.5

    申请日:2024-07-04

    摘要: 本发明涉及集成电路测试技术领域,公开了一种芯片安全检测方法及装置。首先,基于寄存器传输级代码得到获取控制流图和数据依赖图,其中,控制流图包括节点和节点之间的关系,节点表示寄存器传输级代码中的语句,数据依赖图表示寄存器传输级代码中数据之间的依赖关系。然后,基于控制流图进行特征提取,得到节点特征数据以及基于控制流图和数据依赖图进行特征提取,得到变量特征数据。最后,将节点特征数据和变量特征数据输入机器学习模型中进行检测,得到安全检测结果。通过基于寄存器传输级代码得到的获取控制流图和数据依赖图进行特征提取简化了语义特征的提取过程,提升芯片设计安全漏洞检测即芯片安全检测的效率。