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公开(公告)号：CN105277579A
公开(公告)日：2016-01-27
申请号：CN201510321618.2
申请日：2015-06-12
申请人： 日本株式会社日立高新技术科学
IPC分类号： G01N23/223
摘要： 本发明涉及荧光X射线分析装置。提供一种能够简便地进行与测定通常的样品的情况相同的条件下的校正测定的荧光X射线分析装置。所述荧光X射线分析装置具备：X射线源；用于对将来自该X射线源的X射线作为一次X射线照射到样品的区域进行限制的照射区域限制单元；用于检测从样品产生的二次X射线的检测器；用于对包含X射线源、照射区域限制单元和检测器的装置进行校正的校正用样品；用于在作为保持该校正用样品并且从所述一次X射线的路径偏离的任意的位置的退避位置和照射从照射区域限制单元射出的X射线的一次X射线照射位置这2个位置之间移动的校正样品移动机构；以及载置样品的样品台，校正样品移动机构为与所述样品台独立的机构。
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公开(公告)号：CN102654441B
公开(公告)日：2015-11-18
申请号：CN201210048522.X
申请日：2012-02-28
申请人： 日本株式会社日立高新技术科学
IPC分类号： G01N3/32
CPC分类号： G01N3/04 , G01N3/32 , G01N2203/0055 , G01N2203/0094
摘要： 本发明提供粘弹性测定装置。在粘弹性测定装置中，通过去除由于样本热膨胀而产生的压曲等不期望的样本形状变化，来防止位移检测器方向上的热膨胀所引起的变形或样本把持部件与夹具之间的样本的弯曲，并实现测定的准确度提高。在保持样本的弹性臂的一部分上设置细部以使其容易相对于样本的热膨胀力发生变形，由此有效地去除在样本热膨胀时产生的压曲等不期望的形状变化，并且对样本的载荷保持必要的刚性，由此使测定的准确度提高。
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公开(公告)号：CN104949963A
公开(公告)日：2015-09-30
申请号：CN201510135146.1
申请日：2015-03-26
申请人： 日本株式会社日立高新技术科学
发明人： 中川良知
IPC分类号： G01N21/73
CPC分类号： G01N21/73 , G01J3/443 , G01N21/68 , H01J49/105 , H05H1/30
摘要： 公开了一种ICP发光分光分析装置。提供一种预先对光电倍增管施加电压以能够迅速地转移至主分析的ICP发光分光分析装置。ICP发光分光分析装置(1)由感应耦合等离子体发生部(10)、聚光部(20)、分光器(30)、检测器(40)以及控制部(60)大致构成。另外，在检测器(40)具备光电倍增管(70)，具有检测器控制部(41)和输入部(42)。由于在光电倍增管(70)存在分压电阻r1~rn，因此由于被施加于光电倍增管(70)的施加电压Ve的变化而放大率不会立即变为固定，但是检测器控制部(41)在从预先向输入部(42)输入分析条件之后起直到向感应耦合等离子体装置(10)导入包括分析对象的元素的样本之前为止的期间中控制空转电压和空转电压施加时间来使倍增率固定。
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公开(公告)号：CN104849128A
公开(公告)日：2015-08-19
申请号：CN201410749791.8
申请日：2014-12-10
申请人： 日本株式会社日立高新技术科学
发明人： 竹内俊公
IPC分类号： G01N1/36
CPC分类号： G01N23/2204 , G01N23/223
摘要： 提供一种能够消除试样的偏移并使试样与X射线管的距离为一定、进而能够对应于各种各样的形状的试样的X射线分析用试样保持器及在将试样向该保持器安设时使用的试样设置用夹具。具备第1环状部件（3）、第2环状部件（4）和第3环状部件（5）；所述第2环状部件（4）在与第1环状部件之间夹着第1薄膜（F1）的状态下嵌入插入在第1环状部件内，将下部开口部覆盖而张设第1薄膜；所述第3环状部件（5）在与第2环状部件之间夹着第2薄膜（F2）的状态下嵌入插入在第2环状部件内，将下部开口部覆盖而张设第2薄膜；用在第2环状部件和第3环状部件各自的下部开口部处张设的第1薄膜和第2薄膜将X射线分析用的试样（S）夹持。
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公开(公告)号：CN104076052A
公开(公告)日：2014-10-01
申请号：CN201410112835.6
申请日：2014-03-25
申请人： 日本株式会社日立高新技术科学
IPC分类号： G01N23/223
CPC分类号： G01N23/223 , G01N2223/076 , G01N2223/31 , H05G1/025
摘要： 本发明提供荧光X射线分析装置，其能够通过比较简单的结构和控制来抑制输出强度的变动。该荧光X射线分析装置（1）具有：X射线源（2），其对试样S照射原级X射线；聚光元件（3），其会聚从X射线源照射的原级X射线，减小对于试样的照射面积；检测器（4），其对从被照射原级X射线的试样产生的荧光X射线进行检测；筐体（5），其收纳X射线源和聚光元件；温度传感器（6），其设置在X射线源和X射线源周围的至少一方；外气用扇（7），其在筐体上至少设置有一个，能够更换内部与外部的空气；以及控制部（C），其根据由温度传感器检测出的温度信息对外气用扇进行驱动，将X射线源周围的气氛温度调整为恒定的温度。
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公开(公告)号：CN103257067A
公开(公告)日：2013-08-21
申请号：CN201310054653.3
申请日：2013-02-20
申请人： 日本株式会社日立高新技术科学
发明人： 铃木秀和
CPC分类号： H01J37/3053 , G01N1/32 , H01J2237/30455 , H01J2237/30488 , H01J2237/31745
摘要： 本发明提供了一种样本制备方法和装置。样本制备方法包括：在显示屏幕上显示样本的第一截面的SEM图像的同时，通过扫描并照射聚焦离子束对第一截面进行蚀刻处理，从而暴露第二截面；以及在显示屏幕上显示另一截面的SEM图像的同时，在执行聚焦离子束的扫描和照射的同时改变聚焦离子束的扫描方向并对第二截面进行蚀刻处理，从而暴露样本的期望的截面。
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公开(公告)号：CN102721834A
公开(公告)日：2012-10-10
申请号：CN201210063860.0
申请日：2012-03-02
申请人： 精工电子纳米科技有限公司
IPC分类号： G01Q60/26
摘要： 本发明提供一种摩擦力显微镜，其中具备摩擦力的计算机构，分别根据从悬臂的挠曲方向的位移信息求出的挠曲灵敏度及从扭曲方向的位移信息求出扭曲灵敏度来计算悬臂的有效探针高度及扭曲弹簧常数，并使用该计算值。从而在摩擦力显微镜中，能够进行悬臂的定量的摩擦力的测定。
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公开(公告)号：CN101258401B
公开(公告)日：2011-12-14
申请号：CN200680032258.3
申请日：2006-08-23
申请人： 精工电子纳米科技有限公司
发明人： 木下良一
IPC分类号： G01N25/20
CPC分类号： G01N25/4866
摘要： 本发明的目的在于提供一种提高了基线稳定性和响应性的差示扫描量热仪。在从储热器(1)向传感器板(4)流入热的热流路上制作颈状部，在确保稳定性的同时，确保向试样保持器(5a)流入热的二维热流路。
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公开(公告)号：CN101093201B
公开(公告)日：2011-08-03
申请号：CN200710109917.5
申请日：2007-06-06
申请人： 精工电子纳米科技有限公司
发明人： 笹山则生
IPC分类号： G01N23/223 , G21K1/02
CPC分类号： G01N23/223 , G01N2223/076
摘要： 提供了使用偏振以有效地测量样本表面的微小部分而不需要准备许多类次级目标的荧光X射线分析设备。根据本发明的荧光X射线分析设备包括用于生成X射线的X射线管；用于支承接收了X射线的样本的样本支承部分；用于接收将从接收了X射线的样本生成的X射线的偏振滤光器；和用于检测来自偏振滤光器的X射线的检测器。然后，X射线管、样本、偏振滤光器和检测器布置为使三个光路，即，从X射线管到样本的光路、从样本到偏振滤光器的光路和从偏振滤光器到检测器的光路相互以90度相交。
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