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公开(公告)号：CN116595863A
公开(公告)日：2023-08-15
申请号：CN202310433957.4
申请日：2023-04-21
Applicant: 中国电力科学研究院有限公司 , 国网河北省电力有限公司营销服务中心
Inventor： 熊素琴 , 高天予 , 邹和平 , 杜新纲 , 葛德辉 , 赵兵 , 林繁涛 , 李求洋 , 刘凯 , 成达 , 李扬 , 陈思禹 , 许佳佳 , 赵越 , 李龙涛 , 高偲智 , 郭建宁 , 秦程林 , 王雅涛 , 赵立涛 , 谢思博
IPC: G06F30/27 , G06N20/10 , G06N3/08 , G06F18/214 , G06F18/2411 , G06F18/243 , G06F18/25 , G06F119/04
Abstract: 本发明公开了一种多参量融合的断路器寿命预测方法及系统，其中方法包括：确定反应断路器运行状态和寿命信息的特征参量；将所述特征参量输入到经过训练的最终机器学习模型，通过所述最终机器学习模型输出断路器运行状态和寿命信息；通过输出的断路器运行状态和寿命信息对断路器寿命进行预测。本发明通过对反应断路器运行状态的特征参量提取，显著降低了后续机器学习算法的运算量，避免对大规模低压断路器运行数据的处理，运算速度更快。本发明可以集成到配用电网运维平台或者数字信号处理器中，用于断路器运行状态的实时监测。
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公开(公告)号：CN116520019A
公开(公告)日：2023-08-01
申请号：CN202310786251.6
申请日：2023-06-30
Applicant: 中国电力科学研究院有限公司
Inventor： 熊素琴 , 李扬 , 邹和平 , 郜波 , 郑安刚 , 李求洋 , 赵兵 , 林繁涛 , 赵立涛 , 郭建宁 , 李禹凡 , 孙南南 , 杨巍 , 李龙涛 , 高天予 , 赵越 , 陈思禹 , 许佳佳 , 王雅涛 , 谭琛 , 谢思博
Abstract: 本发明公开了一种智能电能计量装置以及电路拓扑识别的方法，其中装置包括：进线开关模块测量预设时间期间内的三相电量，各计量模块测量预设时间期间内的计量电量，各出线开关模块测量预设时间期间内的表后电量；主管理模块用于辨识电路拓扑关系，包括：按预先设置的编号选择出线开关模块，计算选择出的出线开关模块的表后电量与各计量模块的计量电量之间的差值的绝对值，基于差值的绝对值建立差值集合；将差值集合中的最小数值对应的计量模块确定为与出线开关模块物理连接；按设置编号依次确定每一计量模块与出线开关模块物理连接；基于每一计量模块与对应的出线开关模块的物理连接关系，识别电路拓扑关系。
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公开(公告)号：CN116087741A
公开(公告)日：2023-05-09
申请号：CN202210658166.7
申请日：2022-06-10
Applicant: 中国电力科学研究院有限公司 , 国网江苏省电力有限公司泰州供电分公司
Inventor： 熊素琴 , 李求洋 , 邹和平 , 李扬 , 赵兵 , 林繁涛 , 杨君中 , 杨森 , 成达 , 高天予 , 陈思禹 , 许佳佳 , 李龙涛 , 赵越 , 岳云奇 , 赵立涛 , 杨巍
Abstract: 本发明公开了一种电容隔离芯片静电可靠性测试方法及系统。其中，电容隔离芯片静电测试方法，其特征在于，包括：通过外观检测装置对待测试的电容隔离芯片进行检测；在电容隔离芯片外观正常的情下，通过电性检测工具对电容隔离芯片进行电性经测试；在电容隔离芯片电性正常的情下，利用预先设置的电容隔离芯片静电测试系统对电容隔离芯片进行静电测试，确定电容隔离芯片的电流‑电压曲线；根据电流‑电压曲线，判定电容隔离芯片是否损伤；在电容隔离芯片在没有损伤的情况下，通过外观检测装置对电容隔离芯片进行二次外观检测，生成电容隔离芯片的静电可靠性测试报告。解决现有技术中存在的无法快速准确评价I C产品的抗静电打击能力的技术问题。
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公开(公告)号：CN115841930A
公开(公告)日：2023-03-24
申请号：CN202210883158.2
申请日：2022-07-26
Applicant: 中国电力科学研究院有限公司
Inventor： 熊素琴 , 李求洋 , 葛德辉 , 彭楚宁 , 赵兵 , 林繁涛 , 邹和平 , 成达 , 李扬 , 高天予 , 李龙涛 , 陈思禹 , 赵立涛 , 杨巍 , 许佳佳 , 郭建宁 , 孙南南 , 李禹凡
Abstract: 本申请公开了一种分相独立电磁机构控制的三相开关，包括开关基体和电磁开关机构。电磁开关机构包括三个，三个电磁开关机构均位于开关基体，三个电磁开关机构均包括电磁铁、铁芯推拉杆、动触头和静触头，三个电磁开关机构配置成三个电磁开关机构分别连接在三相电路的各相中后，通过使得各电磁开关机构中的电磁铁磁吸铁芯推拉杆，铁芯推拉杆带动动触头与静触头闭合，使得三相电路的各相接通。本申请的三相开关很好地实现大电流分相开关的自动开关功能。
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公开(公告)号：CN112019241B
公开(公告)日：2021-02-05
申请号：CN202011139605.0
申请日：2020-10-22
Applicant: 中国电力科学研究院有限公司
Abstract: 本发明公开了一种用于在电力系统中识别设备关联关系的方法及系统，包括：获取用户侧的电力终端设备的设备信息，生成设备编码数据；选择为设备编码数据进行调制的调制方式，基于所选择的调制方式将所述设备编码数据调制为谐振特征电流信号；在台区侧接收在传输线中传递时附带了噪声的谐振特征电流信号进行去噪处理，以获取去除噪声的谐振特征电流信号；对所述去除噪声的谐振特征电流信号进行解调制，以获取所述设备编码数据；对设备编码数据进行解码，以获取所述电力终端设备的设备信息；将所述用户侧的电力终端设备的设备信息与台区侧的采集设备的台区标志信息进行匹配，根据匹配结果确定电力终端设备和台区侧的采集设备的隶属关系/关联关系。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119536216A
公开(公告)日：2025-02-28
申请号：CN202411609862.4
申请日：2024-11-12
Applicant: 中国电力科学研究院有限公司
Inventor： 高天予 , 熊素琴 , 邹和平 , 郑安刚 , 李扬 , 李求洋 , 成达 , 李甲祎 , 李龙涛 , 许佳佳 , 杨巍 , 陈思禹 , 王雅涛 , 赵越 , 秦程林 , 赵立涛 , 郭建宁 , 李禹凡 , 谢思博 , 谭琛
IPC: G05B23/02
Abstract: 本发明公开了一种用于微控制器MCU芯片测试的装置及方法，属于半导体技术领域。本发明装置，包括：主控电路板、MCU测试母电路板和MCU测试子电路板；所述MCU测试子电路板用于获取待测MCU芯片的多路输出参数，并将所述多路输出参数通过所述MCU测试母电路板发送至所述主控电路板，所述主控电路板用于选择所述多路输出参数中的一路输出参数进行输出，以所述一路输出参数进行待测MCU芯片的性能或功能测试，直至所述多路输出参数均完成测试；所述MCU测试子电路板与待测MCU芯片通信连接。本发明装置实施测试简单高效且兼容性高。
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公开(公告)号：CN119401334A
公开(公告)日：2025-02-07
申请号：CN202411510302.3
申请日：2024-10-28
Applicant: 中国电力科学研究院有限公司
Abstract: 一种电流保护整定值设置的方法及装置，该方法包括：接收客户端发送的配置模版信息，将该配置模版信息与保护整定值数据进行比对确认，若通过比对确认，则将保护整定值数据发送至智能断路器以用于智能断路器基于保护整定值数据更新保护参数设置，并反馈更新结果。通过本发明实施例提供的方法及装置，填补了对电能计量箱内断路器进行电流保护整定的技术空白，可以有效地完成整定值设置确认，人工现场进行定值设定的同时完成设备采集系统上线验证，在保证定值修改准确性的同时提高工作效率，减少工作人员反复去现场的工作量。
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公开(公告)号：CN119274452A
公开(公告)日：2025-01-07
申请号：CN202411609747.7
申请日：2024-11-12
Applicant: 中国电力科学研究院有限公司
Inventor： 高天予 , 熊素琴 , 邹和平 , 李求洋 , 李扬 , 成达 , 李甲祎 , 郑安刚 , 李龙涛 , 许佳佳 , 杨巍 , 陈思禹 , 王雅涛 , 赵越 , 秦程林 , 赵立涛 , 郭建宁 , 李禹凡 , 谢思博 , 谭琛
IPC: G09G3/00
Abstract: 本发明公开了一种显示器件测试装置、系统、方法、设备及介质，属于半导体技术领域。本发明装置，包括：电源电路板和器件插装电路板；所述器件插装电路板用于连接待测显示器件，所述电源电路板用于通过所述器件插装电路板连接所述待测显示器件；所述电源电路板，为所述待测显示器件提供显示控制信号，以显示控制信号对所述待测显示器件进行测试，所述器件插装电路板用于显示控制参数。本发明测试效率高，兼容率高。
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公开(公告)号：CN118362876A
公开(公告)日：2024-07-19
申请号：CN202410647935.2
申请日：2024-05-23
Applicant: 中国电力科学研究院有限公司
IPC: G01R31/327
Abstract: 本发明涉及一种用于断路器过载特性试验计时装置和方法，所述装置包括计时器模块和总控模块；所述计时器模块和被测断路器并联，所述总控模块和所述计数器模块通信连接，并向所述计数器模块供电；所述计时器模块，用于当所述被测断路器因过载触发分断，检测到所并联的所述计时器模块两端出现电压差且所述电压差满足预设阈值，获取所述被测断路器的分断时间，向所述总控模块发送计时停止信息。本发明实现了一台或多台断路器同时开始过载特性试验时，自动记录每台断路器试验结果，且每台断路器在过程中的分断均不会影响其他断路器的试验持续性。
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公开(公告)号：CN117650131A
公开(公告)日：2024-03-05
申请号：CN202311496342.2
申请日：2023-11-10
Applicant: 中国电力科学研究院有限公司 , 国网江苏省电力有限公司泰州供电分公司
Abstract: 本发明公开了一种基于高介电常数电介质叉指电容的隔离芯片制备方法，包括：在玻璃等绝缘衬底上沉积第一层铝等互联金属膜，并在第一层铝等互联金属膜的上面沉积一层光刻胶，并根据预先设计的光刻版图，刻蚀掉第一层铝等互联金属膜的中部金属区域覆盖的光刻胶，保留右侧的光刻胶，生长高介电常数电介质薄膜，生成第一层高介电常数电介质电容；在第一层高介电常数电介质左侧生长第二层高介电常数电介质电容；重复上述叉指操作直到在最顶端生长一层铝等互联金属膜；采用lift‑off工艺，刻蚀掉最顶层高介电常数电介质电容的中部光刻胶及其上方对应的铝等互联金属膜，左右两侧形成互联引线，生成隔离芯片。
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