-
公开(公告)号：CN102545999B
公开(公告)日：2014-03-19
申请号：CN201210006073.2
申请日：2012-01-10
Applicant: 电子科技大学 , 深圳茂硕电源科技股份有限公司
IPC: H04B10/60
Abstract: 本发明公开了一种红外通信信号的调制与接收方法，首先将发送端MCU内置的串行外设接口SPI的波特率设置为红外通信信号的工作频率f；然后对需要发送的数据进行调制：串行外设接口SPI发送一位数据0时，连续发送a个大于等于3的0x55数据；发送一位数据1时I连续发送a个大于等于3的0x00数据；串行外设接口SPI发送的数据驱动红外发射管，输出调制的红外通信信号；最后，在接收端，红外接收管对接收到的调制的红外通信信号进行接收：当接收到4a个规则的红外光脉冲时，解码为一个低电平，没有接收红外光脉冲时，解码为高电平。本发明充分利用MCU自带的串行外设接口SPI来对发送的数据进行调制，不增加硬件电路、不占用MCU非通信端口，简单可靠且能减少软件开发成本。
-
公开(公告)号：CN102735152A
公开(公告)日：2012-10-17
申请号：CN201210184345.8
申请日：2012-06-06
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01B7/06
Abstract: 本发明公开了一种吸波涂层测厚仪的校准和测量方法，通过采用函数模型，即拟合曲线y=a/(K-x)+b来对吸波涂层的厚度进行计算，测量出吸波涂层的厚度y。a、K和b为需要确定的系数，校准的目的就是确定这三个系数。对于确定厚度范围的吸波涂层，并在一定硬件条件下，由这三个参数即可比较准确地计算涂层厚度，同时，采用本发明的校准方法得到的这三个参数很好的反映了电压值x和涂层厚度y的关系。因此，吸波涂层测厚仪的测量精度。
-
公开(公告)号：CN101976958B
公开(公告)日：2012-08-01
申请号：CN201010537163.5
申请日：2010-11-10
Applicant: 电子科技大学
CPC classification number: Y02B70/126
Abstract: 本发明公开了一种基于功率因素校正的高效调功装置，包括：前端功率因素校正电路、后端功率调节电路和微控制器。通过相位捕获模块捕获从电网获得的正弦电压Uac的过零点，通过采样模块获得整流后的直流电压Ui、电流Ii及储能电容两端的电压Uc和绝缘栅双极型晶体管Q1、Q4或Q2、Q3导通时的输出电流Ic；然后输出脉冲触发信号J，控制前端功率因素校正电路中金属氧化物半导体场效应管的通断，输出脉冲触发信号J1、J4分别给绝缘栅双极型晶体管Q1、Q4，输出在时序上比脉冲触发信号J1、J4延迟1/2Tc，占空比相同的脉冲触发信号J2、J3分别给绝缘栅双极型晶体管Q2、Q3，控制绝缘栅双极型晶体管Q1～4的通断，最终使高效调功装置在输出负载所需较大功率的同时，保证近似为1的功率因数和极低的谐波分量。
-
公开(公告)号：CN102611339A
公开(公告)日：2012-07-25
申请号：CN201210066893.0
申请日：2012-03-14
Applicant: 电子科技大学 , 深圳茂硕电源科技股份有限公司
IPC: H02M7/219
Abstract: 本发明针对现有技术电流精度控制不高、电流波形失真的问题，提出了一种三相整流装置的电流控制方法，对PI控制器进行了改进，对电网电流在各个相位点处分别进行PI调节，其中，衰减系数K的作用是对误差值进行衰减，使之前的累积误差随着时间衰减，当前电网周期附近的误差量起主要作用，当前电流能够更好地跟踪期望电流测试证明，本发明能够有效地克服传统方法的不足，提高电流控制精度，进一步提高三相整流装置功率因数和减小谐波分量。
-
公开(公告)号：CN119990245A
公开(公告)日：2025-05-13
申请号：CN202510144491.5
申请日：2025-02-10
Applicant: 电子科技大学
IPC: G06N3/092 , G06N3/0442 , G06N3/045
Abstract: 本发明公开了一种基于价值分解差异的多智能体对比探索方法，该方法利用价值分解的差异和对比原则，根据不同的价值分解估计之间的差异确定更新权重，设置更新权重并将这种差异作为更新过程中的内在目标。MACE架构包含两个值函数估计器，每个值函数估计器都负责估计两种VD方法对应的联合状态动作值函数Qjt和Qtot，利用Qjt和Qtot之间的差异来创建一个隐式奖励函数和加权机制来指导探索，用于更新两个内部函数估计器。这种方法确保了Q值较高的动作优先进行采样，而Q值较小的动作仍然有机会进行采样，增强了探索行为，不仅在学习速度和最终性能上明显优于基线，而且有效保持了完整的表示能力。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119834806A
公开(公告)日：2025-04-15
申请号：CN202411879434.3
申请日：2024-12-19
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于FPGA的任意非整数倍多点并行降采样装置，并行数据读取模块并行读取N点采样数据，数据寄存器组用于对上一时钟周期的最后一个数据和当前时钟周期的N点并行数据，位置序数计数器组用于保存当前时钟周期N点并行数据的位置序数计数值，抽点累加系数计数器组用于记录抽点累加系数，这两项数值根据上一时钟周期的抽点情况进行更新，比较器模块中的每组比较器组用于比较抽点累加系数和位置序数计数值，以判定对应的抽点单元是否执行抽点操作，抽点控制模块用于对多点并行降采样过程进行控制。本发明通过进行多点并行抽点实现非整数倍的降采样，有效提高降采样效率。
-
公开(公告)号：CN118463848B
公开(公告)日：2025-03-25
申请号：CN202410583084.X
申请日：2024-05-10
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种针对高温物体的全局三维形貌与温度场重建方法。三维点云重建系统使用投影面结构光投影到高温物体表面，通过相移法法计算物体表面相位，以相位为中介计算被测高温物体的三维点云。对点云进行上色得到包含温度信息的彩色点云。在三维点云重建系统周围布置有固定的标记球体，根据标记点三维坐标拟合标记球球心三维坐标。通过标记球的三维点云匹配，计算前置双目系统得到的每片点云的刚体变换关系R和T，实现点云拼接，得到整体的彩色点云。本发明使用双目视觉定位跟踪系统来计算三维点云重建系统得到的点云之间的位置关系，匹配点数量少，计算量小而且精度高，克服被测物点云特征不明显和点云数量过多导致匹配困难的问题，很大程度的提高了测量的速度和精度。
-
公开(公告)号：CN118914353A
公开(公告)日：2024-11-08
申请号：CN202411325466.9
申请日：2024-09-23
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01N29/036
Abstract: 本发明公开了一种AT切型石英谐振式氢气传感器，属于氢气传感器技术领域，包括依次叠置的第一钯材料多功能层、AT切型石英压电层和第二钯材料多功能层；第一钯材料多功能层与第二钯材料多功能层关于AT切型石英压电层对称设置；AT切型石英谐振式氢气传感器置于待测氢气环境中，向第一钯材料多功能层和第二钯材料多功能层施加激励信号，使AT切型石英谐振式氢气传感器发生谐振，通过检测谐振频率，实现待测氢气环境的氢气浓度检测。本发明利用钯金属薄膜对氢气的吸附作用使钯的杨氏模量发生变化，以改变谐振器的谐振频率，进而实现氢气浓度检测，具有结构简单、器件体积小、响应速度快、检测灵敏度高的优点，并且器件制备工艺简单成熟，成本较低，适用于大批量生产。
-
公开(公告)号：CN118821405A
公开(公告)日：2024-10-22
申请号：CN202410783905.4
申请日：2024-06-18
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于FPGA中ROM和IP核的波峰因素可调高斯噪声实时模拟装置，在现有高斯白噪声的基础上，在标准高斯噪声产生模块中，对M1路Q位随机数利用Box‑Muller变换采用ROM将均匀随机数转为标准高斯白噪声，在波峰因素调制模块，对标准高斯白噪声进行限幅处理，得到指定波峰因素的高斯噪声，在滤波模块中对指定波峰因素的高斯噪声进行滤波，在选择模块中选择滤波前或后高斯噪声作为最终的噪声信号yi_Final进行调制，在信号调制模块中，对最终的噪声信号yi_Final进行归一化并调制，实现任意信噪比的信号输出，最后送入给DAC，得到M路噪声调制后信号的模拟信号，完成高斯噪声模拟。本发明可以通过指定的波峰因数CFp调整高斯噪声的波峰因素，从而实现波峰因素的可调。
-
公开(公告)号：CN118342143B
公开(公告)日：2024-10-11
申请号：CN202410479883.2
申请日：2024-04-19
Applicant: 电子科技大学
IPC: B23K26/70 , G01B11/22 , B23K26/382
Abstract: 本发明公开了一种激光微纳钻孔深度实时检测方法，先对加工样品进行A扫，然后通过光谱仪捕获样品反射至测量臂的光束与参考臂中的光束发生干涉后的干涉信号，将该干涉信号重采样进行波长域到波束域的变换，通过已知的当前深度向上和向下若干个像素构建一个检测序列，根据序列中的每一个像素的位置对应的频率生成若干组零差波形，并用变换后的波束域信号与零差波形相乘，并把结果中的各项相加作低通滤波得到信号的同相分量和正交分量，求同相分量和正交分量的平方和开根得到信号的幅值，将这若干组的信号比较，最大值对应像素的位置即为当前的加工深度，通过对当前深度决策调整激光实现实时控制激光加工的深度。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
460
records
(took 0.025 seconds)
