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公开(公告)号：CN102959370B
公开(公告)日：2015-07-22
申请号：CN201180031682.7
申请日：2011-07-18
申请人： 韩国标准科学研究院
CPC分类号： G01J1/42 , G01J1/02 , G01J1/04 , G01J1/0474 , G01J3/0251 , G01J3/0254 , G01J3/465 , G01J2001/4247 , G01J2003/1213
摘要： 本发明提供积分球光度计及其测量方法。该积分球光度计包括：多个光检测器；积分球，具有对应于所述光检测器而形成的贯通孔；遮光膜，位于所述光检测器前侧的积分球内部，与所述光检测器相间隔；光度计，安置于所述贯通孔中；调节部，用于调节所述光检测器的输出信号使其与相对于安置在所述积分球内的中心区域的标准光源照射的光具有相同的输出信号。
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公开(公告)号：CN104509105A
公开(公告)日：2015-04-08
申请号：CN201380039957.0
申请日：2013-07-25
申请人： 伊斯曼柯达公司
发明人： 安德鲁·弗雷德里克·库尔茨 , 埃琳娜·A·费多罗夫斯卡亚 , 托马斯·O·迈尔
CPC分类号： G01J3/465 , G09G3/001 , G09G5/02 , G09G2340/06 , H04N9/3161 , H04N9/3182 , H04N9/67
摘要： 一种针对一组目标观察者提供减小的观察者同色异谱故障的彩色显示系统，该彩色显示系统包括具有窄带基色的图像形成系统。使用数据处理系统来实施用于对适于在具有多个输入基色的参考显示设备上显示的具有输入颜色值的输入彩色图像进行颜色校正的方法。对输入彩色图像施加同色异谱校正变换以确定适合于在图像形成系统上显示的输出颜色空间中的具有输出颜色值的输出彩色图像。同色异谱校正变换修改与输入颜色相关联的颜色度量，从而以使得针对目标观察者分布减小平均观察者同色异谱故障的方式提供输出颜色值。
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公开(公告)号：CN102047086B
公开(公告)日：2014-01-15
申请号：CN200980119443.X
申请日：2009-05-26
申请人： 阿克佐诺贝尔国际涂料股份有限公司
IPC分类号： G01J3/46
摘要： 本发明涉及一种确定与要修复的物体的效果颜色匹配的修复油漆的标准颜色的匹配变量的方法，所述方法包括以下步骤：a)确定所述要修复的物体的颜色的所述标准颜色，以及b)从给定数目的变量颜色确定所述标准颜色的最佳匹配变量，其中在至少两个不同的照明角度和/或观察角度下对涂覆有所述标准颜色的颜色的样片与要匹配的颜色进行视觉比较，基于视觉特性的预定偏差来评估从所述标准颜色与所述要匹配的物体的颜色的视觉偏差，其中预定的视觉特性包括至少一个颜色特性和至少一个纹理特性，基于所述标准颜色与所述要匹配的物体的颜色的所述视觉特性的所述预定偏差，确定所述标准颜色的所述最佳匹配变量。
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公开(公告)号：CN102893140A
公开(公告)日：2013-01-23
申请号：CN201180024605.9
申请日：2011-05-17
申请人： 夏普株式会社
IPC分类号： G01N21/27
CPC分类号： G01J3/46 , G01B11/06 , G01B11/0616 , G01B11/0625 , G01B11/0633 , G01B21/08 , G01J3/465 , G01N21/29 , G01N21/8803 , G01N21/956 , G01N2201/0634
摘要： 本发明的模具的检查方法是在表面具有多孔氧化铝层(6)的模具(1)的检查方法，多孔氧化铝层(6)具有多个微细的凹部，该检查方法包含：工序(a)，基于表示多孔氧化铝层的厚度的第1参数和表示多孔氧化铝层的反射光的颜色的颜色参数的关系准备第1颜色信息，该第1颜色信息示出具有允许范围的凹凸结构的多孔氧化铝层的第1参数的允许范围；工序(b)，准备在表面具有多孔氧化铝层的检查对象的模具；工序(c)，取得颜色参数，该颜色参数表示检查对象的模具的多孔氧化铝层的反射光的颜色；以及工序(d)，基于取得的颜色参数和第1颜色信息判定测定对象的模具的第1参数适当与否。根据本发明，能非破坏、简便地检查表面的微细的凹凸结构是否处于规定的范围内。
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公开(公告)号：CN102483323A
公开(公告)日：2012-05-30
申请号：CN201080032638.3
申请日：2010-05-21
申请人： 立那工业股份有限公司
发明人： 穆尼布·沃贝尔
IPC分类号： G01B11/14
CPC分类号： H01L22/20 , G01B11/08 , G01J3/28 , G01J3/465 , G01J3/513 , G01J2003/1213 , H01L27/14607 , H01L27/14645 , H01L27/14683
摘要： 本发明揭示优化纳米线光电二极管光传感器的直径的方法。该方法包含：比较具有预定直径的纳米线光电二极管像素的回应与标准光谱回应曲线；及决定光电二极管像素的光谱回应与标准光谱回应曲线之间的差异。亦包含具有优化纳米线直径的纳米线光电二极管光传感器及场景重建的方法。
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公开(公告)号：CN101799328B
公开(公告)日：2011-11-09
申请号：CN200910005886.8
申请日：2009-02-10
申请人： 致茂电子股份有限公司
摘要： 本发明揭示了一种建构光源测量对照表的方法、光源测量方法及光源测量系统。该建构光源测量对照表的方法是利用一光源频谱模型的频谱参数、关于该光源测量系统的三个实际配色函数及三个标准配色函数，对应每一个频谱参数计算出一对照色坐标及一参考色坐标，以建立一对照表。该光源测量方法先以该光源测量系统测量一待测光源以得到实际刺激值，并计算出一实际色坐标；接着比对实际色坐标及对照色坐标，以决定关于该待测光源的一待测光源频谱参数及一估计色坐标；进一步利用该待测光源频谱参数、标准配色函数及实际刺激值，计算出一估计亮度。本发明对具有可模型化频谱特征的光源，可有效且高精确度地测量出其色度。
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公开(公告)号：CN101535785A
公开(公告)日：2009-09-16
申请号：CN200780041421.7
申请日：2007-11-29
申请人： 奥斯兰姆奥普托半导体有限责任公司
发明人： 阿恩特·耶格 , 彼得·施陶斯 , 克劳斯·施特罗伊贝尔 , 韦尔纳·库尔曼
CPC分类号： G01J1/4228 , G01J1/0488 , G01J3/36 , G01J3/46 , G01J3/465 , G01J3/50 , G01J3/51 , G01J3/513 , G01J2003/507 , H01L31/105
摘要： 本发明提出了一种辐射检测器(1)，其具有：检测器装置(2)，该检测器装置具有多个检测器元件(4，5，6)，借助所述检测器元件在辐射检测器工作中获得检测器信号(DS)；以及调节装置(3)，其中检测器元件分别具有光谱灵敏度分布(400，500，600)并且适于产生信号(S4，S5，S6)，至少一个检测器元件包含化合物半导体材料，并且所述检测器元件构建为用于检测可见光谱范围中的辐射，辐射检测器构建为使得借助所述检测器元件的灵敏度分布形成辐射检测器的不同的光谱灵敏度通道(420，520，620)，在灵敏度通道中借助检测器元件能够产生与相应的灵敏度通道关联的通道信号(K4，K5，K6)，以及调节装置构建为使得不同地调节不同的通道信号对辐射检测器的检测器信号的贡献。
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公开(公告)号：CN101490532A
公开(公告)日：2009-07-22
申请号：CN200780027599.6
申请日：2007-07-23
申请人： 丰田自动车株式会社
发明人： 高木淳
IPC分类号： G01N21/27
CPC分类号： G01N21/4738 , G01J3/465
摘要： 对于色移涂装色，也能简单地测定反射率。测定入射面A内第1反射光Va的第1反射率(R(αa)，同时求在入射面(A)内二维地位移的第1二等分矢量(Ha)(|Ha|＝|R(αa)|)的终点的第1轨迹l。测定入射面A外第2反射光Vb的第2反射率R(αb)，同时求在入射面A外三维地位移的第2二等分矢量Hb(|Hb|＝|R(αb)|)的终点的第2轨迹m。根据两轨迹l和m，求由表示椭圆的数学方程式将与被测定面平行的平面z＝zi上的二等分矢量Hi的终点轨迹n(x，y，zi)近似模型化后的近似模型方程式，近似求第1反射光Va和第2反射光Vb之外的反射光V′的二等分矢量H′的全体终点的全体轨迹n′(x，y，z)。
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