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公开(公告)号：CN100538828C
公开(公告)日：2009-09-09
申请号：CN200510099653.0
申请日：2005-08-30
申请人： TDK股份有限公司
CPC分类号： G11B5/82 , B82Y10/00 , B82Y40/00 , G03F7/0002 , G11B5/59688 , G11B5/743 , G11B5/855 , G11B5/865
摘要： 本发明提供能够可靠读取磁信号的具有伺服图案的磁记录媒体。利用具有凸部(40a)和凹部(40b)的凹凸图案(40)，在伺服图案区域Asa上形成伺服图案，同时在一个面的数据记录区域At上设置同心圆状或螺旋状的数据记录磁道(凸部40a)，形成数据磁道图案，在所述伺服图案区域(Asa)的地址图案区域(Aaa)形成凸部(40a)，并且使构成所述凹凸图案(40)的各凹部(40b、40b…)的沿着该基体的旋转方向的各开口长度中离数据磁道图案的中心的距离相等的同一半径区域的每一区域的最大开口长度(L2)，等于同一半径区域内的该各凹部(40b、40b…)中的沿着该旋转方向的最小开口长度(L1)的2倍长度。
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公开(公告)号：CN100511431C
公开(公告)日：2009-07-08
申请号：CN200710005172.8
申请日：2007-02-15
申请人： TDK股份有限公司
摘要： 本发明提供一种磁记录介质的制造方法，能够制造具有凹凸图案的记录层、表面充分平坦、记录/再现特性良好的磁记录介质。在具有形成有记录要素作为凹凸图案的凸部的记录层的被加工体之上，使第一填充材料成膜而覆盖记录要素，并且填充凹部的至少一部分，在第一填充材料之上使被检测材料成膜，在被检测材料之上使第二填充材料成膜，对被加工体的表面照射加工用气体，来除去第一填充材料、被检测材料以及第二填充材料中在记录要素上表面的上侧所成膜的部分中的至少一部分，从而将表面平坦化，在平坦化工序中，检测出从被加工体被除去而飞散的被检测材料的成分，基于该被检测材料的成分的检测结果而停止加工用气体的照射。
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公开(公告)号：CN101465124A
公开(公告)日：2009-06-24
申请号：CN200810184168.7
申请日：2008-12-16
申请人： 株式会社东芝
摘要： 一种存储介质再现装置，包括：存储介质，用于记录数据；再现头，用于读取在所述存储介质中记录的数据；定位控制单元，其基于所述存储介质中包括的伺服区的伺服信号执行相对于所述磁道的所述再现头的定位控制；以及再现处理单元，其通过使用位置被确定为在所述磁道上的再现头读取所述数据区的记录点来再现在所述数据区中记录的数据；其中所述再现头具有能够同时读取多个伺服点的头宽度。
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公开(公告)号：CN100492520C
公开(公告)日：2009-05-27
申请号：CN200480020686.5
申请日：2004-07-09
申请人： TDK株式会社
CPC分类号： B82Y10/00 , G11B5/012 , G11B5/6082 , G11B5/743 , G11B5/82 , G11B2005/001
摘要： 本发明能够防止与记录再生时的磁头(71)的接触。在盘状基体(2)的至少一面上形成具有借助于同心圆状的槽(21、21..)而相互分离的多个磁道(22、22..)的环状的数据记录区域(3)，在相对于这一面上的数据记录区域(3)位于外侧的外侧区域(4)，以及相对于这一面上的数据记录区域(3)位于内侧的内侧区域(5)中的至少一方上，形成有可以调整施加在磁头(71)上的升力F1的槽(23、23..)。
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公开(公告)号：CN101383158A
公开(公告)日：2009-03-11
申请号：CN200810098664.0
申请日：2008-06-05
申请人： 三星电子株式会社
摘要： 本发明提供了一种具有超轨道的位图介质、一种读取记录在该位图介质上的数据的读头以及一种用于在该位图介质上记录数据/从该位图介质读取数据的硬盘驱动器(HDD)。该位图介质包括：基底；记录层，在基底上，形成有多个位单元，其中，位单元沿着形成具有不同半径的同心圆的多个轨道彼此分离，其中，每个轨道包括含有多个子轨道的超轨道，形成在子轨道中的一个上的位单元与形成在邻近的子轨道上的位单元沿着记录层的圆周方向布置在不同的位置。读取记录在位图介质上的数据的读头沿着横跨轨道方向的宽度足以读取与多个子轨道的数目相等的数目的位单元的数据。
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公开(公告)号：CN101339771A
公开(公告)日：2009-01-07
申请号：CN200810125091.6
申请日：2008-06-26
申请人： 希捷科技有限公司
发明人： R·C·凡卡塔拉曼尼 , S·桑卡拉纳瑞雅南 , M·F·厄顿
CPC分类号： G11B5/012 , B82Y10/00 , G11B5/59616 , G11B5/743 , G11B5/746
摘要： 一种方法包括：根据位于比特图形化介质的多个区域中的多个岛，产生比特检测信号；处理比特检测信号以产生同步信号，其中所述处理依赖于包含多个岛的区域中的岛的特征；以及使用同步信号来控制对比特图形化介质进行写入的时序。同步信号也可以被用于控制从比特图形化介质中进行读取的时序。
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公开(公告)号：CN100446090C
公开(公告)日：2008-12-24
申请号：CN200610094230.4
申请日：2006-06-27
IPC分类号： G11B5/84 , H01L21/3065
CPC分类号： C23F4/00 , B82Y10/00 , G11B5/012 , G11B5/743 , G11B5/82 , G11B5/855 , H01J2237/30466 , H01J2237/3174
摘要： 一种用于制造磁记录介质的方法，该方法包括：在基底(15，35，51，61)上的记录磁道部分以及伺服部分上形成具有铁磁性材料(54，64)的凸起和凹陷的图形；在该铁磁性材料(54，64)上形成平化膜(56，66)，该平化膜的顶表面高于铁磁性材料(54，64)的凸起的顶表面；以及在该平化膜(56，66)上进行离子束蚀刻直到铁磁性材料(54，64)的凸起的顶表面，并且通过离子计数器(13，33)基于入射颗粒的总数的变化来确定平化蚀刻的终点，该离子计数器被安装成根据平化膜(56，66)的材料相对于基底(15，35，51，61)的垂直方向成角度θ。
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公开(公告)号：CN100429697C
公开(公告)日：2008-10-29
申请号：CN200610008818.3
申请日：2006-02-15
申请人： TDK股份有限公司
CPC分类号： B82Y10/00 , G11B5/59655 , G11B5/743 , G11B5/865
摘要： 本发明提供能提高图形设计的自由度并实现PES灵敏度提高的磁记录介质。2组(M组)分段图形BP1a、BP2a，具有距数据磁道图形40t的中心的距离不相同而半径方向的长度L11相等的2类分段信号单位部(凸部40a)，而且，长度L10为(2·M/N)·磁道间距，在两端与各分段图形BP1a、BP2a…的中心C1a、C2a…不一致的范围内，以(1/N)·磁道间距的间隔形成中心C1a、C2a…，使存在4个(2·M)个，2类分段信号单位部在两分段信号单位部在旋转方向上不重叠，半径方向上的中心之间，使在该半径方向上只离开2/2((M/N))·磁道间距，而且在两分段信号单位部的半径方向上相对的端部之间在半径方向上互相分离。
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公开(公告)号：CN100412953C
公开(公告)日：2008-08-20
申请号：CN200610094232.3
申请日：2006-06-27
摘要： 一种磁记录装置，包括：磁记录介质(11)，所述磁记录介质包括基底(21)，所述基底具有与伺服区域和数据区域对应的凸起和凹陷，还包括沉积在基底上的磁性层(23)；以及，读/写磁头，其包括一对磁屏蔽罩(31)和巨磁阻元件(33)，其中介质(11)上的磁道间距在50nm至300nm之间，磁记录介质(11)的线速度为11m/s，以及当将磁屏蔽罩(31)至介质(11)的凸起上的磁性层(23)间的距离定义为“m”，而将介质(11)伺服区域的凸起和凹陷上的磁性层(23)间的距离定义为“d”时，则满足下列条件即d/m在0.2至3之间。
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公开(公告)号：CN100395819C
公开(公告)日：2008-06-18
申请号：CN200510008346.7
申请日：2005-02-17
申请人： TDK股份有限公司
CPC分类号： B82Y10/00 , G11B5/012 , G11B5/65 , G11B5/74 , G11B5/743 , G11B5/855 , G11B2005/0002 , G11B2005/0005 , G11B2005/001 , G11B2005/0021 , G11B2005/0029
摘要： 本发明提供一种面记录密度高、记录·再现精度良好的磁记录再现装置。磁记录再现装置包括磁记录介质；用于加热磁记录介质并部分地降低磁道的矫顽磁力的加热磁头；用于将记录磁场施加给磁记录介质的被加热部分并在磁道上记录磁数据的记录磁头；以及用于检测磁道的再现磁场的再现磁头，其中磁记录介质的磁记录层由凹凸图案形成且磁道由规定的磁道宽度的凸部形成，磁道在磁道宽度方向上以规定的磁道间隔多个并列设置，有效记录区域的有效记录宽度限制在磁道宽度以上且在磁道宽度和二倍的磁道之间的凹部宽度合计值以下。
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