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公开(公告)号：CN104515781B
公开(公告)日：2018-01-23
申请号：CN201410851416.4
申请日：2014-12-31
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/02
Abstract: 本发明公开了一种X射线检查系统，包括X射线发射装置、探测器阵列和X射线束流强度监控装置，X射线发射装置发出的X射线束流包括照射于探测器阵列上的工作束流和照射于探测器阵列之外的冗余束流，X射线束流强度监控装置包括强度探测模块和数据处理模块，强度探测模块设置于X射线发射装置和探测器阵列之间以接受冗余束流的照射并发出探测信号，数据处理模块与强度探测模块耦合以接收探测信号并输出X射线束流强度监控信号。该X射线检查系统的强度探测模块利用的是X射线束流的冗余束流，强度探测模块基本不受X射线发射装置和被检物体的影响，从而可使X射线束流强度的监控结果更加准确可靠。
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公开(公告)号：CN104345334B
公开(公告)日：2017-09-26
申请号：CN201310341234.8
申请日：2013-08-07
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01T3/00
Abstract: 本发明涉及阳极丝对中性能改善的中子探测管和中子探测设备。具体地，提供了一种中子探测管，其包括：阴极管，所述阴极管内限定有轴向延伸的管腔，且管腔内壁具有中子敏感材料；阳极丝，所述阳极丝在所述阴极管的管腔中轴向延伸；绝缘套，所述绝缘套的一部分气密密封地沿轴向插入所述阴极管中的一端，而且所述绝缘套内限定有通向所述阴极管的管腔的第一中央内孔；以及同心装置，其被置于所述绝缘套的第一中央内孔中，且被配置成使得所述阳极丝至少在轴向向内穿过所述同心装置后被居中于所述阴极管的中心轴线。本发明还提供了一种中子探测设备，其包括至少一只所述中子探测管；以及用于组合所述中子探测管的阵列组合装置。
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公开(公告)号：CN107045138A
公开(公告)日：2017-08-15
申请号：CN201710469197.7
申请日：2017-06-20
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01T1/20
CPC classification number: G01T1/201
Abstract: 本发明提出一种背散射探测模块，包括板状的透光载体、两层闪烁体及光传感器；透光载体由可供荧光光子透过的材料制作，具有两个相对的透光平面以及至少一个出光端面，所述出光端面位于两个所述透光平面之间；两层闪烁体分别固定贴合于两个所述透光平面；光传感器耦合于所述出光端面。本发明的背散射探测模块，采用两层闪烁体以及透光载体来吸收X射线，极大地提高了探测效率，本探测模块利用透光载体作为导光材料，并在端面设置光传感器，透光载体不仅能够传输荧光光子，还能够改变光路，极大地减小了背散射探测器的厚度。
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公开(公告)号：CN106374224A
公开(公告)日：2017-02-01
申请号：CN201510437014.4
申请日：2015-07-23
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 公开了电磁波成像系统及天线阵列信号校正方法。在一示例中，电磁波成像系统可以包括：天线阵列，用于接收来自目标物体的电磁波，并将电磁波转换为电信号；信号处理单元，用于对电信号进行处理，以获得目标物体的图像；以及距离测量装置，用于测量目标物体到天线阵列的距离，其中，信号处理单元至少部分地基于所测量的距离来对电信号进行校正。
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公开(公告)号：CN106353828A
公开(公告)日：2017-01-25
申请号：CN201510434952.9
申请日：2015-07-22
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V5/00
CPC classification number: G01V5/0041 , G01N23/04 , G01N23/087
Abstract: 公开了一种在安检系统中估算被检查物体重量的方法和装置。通过双能射线扫描获得被检查物体每个像素点所对应的等效原子序数值和双能高能灰度特征值。利用各个像素所述等效原子序数和双能高能灰度特征值从预先创建的质量厚度衰减曲线得到相应像素的质量厚度值。通过将所述质量厚度值与像素的面积相乘来获得被检查物体至少一部分的重量信息。此种方法可以较精确计算出被检物的重量，节省了传统的称重硬件成本。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103954986B
公开(公告)日：2017-01-04
申请号：CN201410154929.X
申请日：2014-04-17
Applicant: 清华大学
IPC: G01T1/00
Abstract: 本发明提出一种高位置分辨MRPC探测器的复用读出方法，包括以下步骤：通过复用读出转接板对高位置分辨MRPC探测器的读出电极条进行双精细复用，并由复用读出转接板输出处理后的信号；使用模拟或数字方法得到读出转接板输出脉冲波形的幅度、时间以及电荷量；根据电荷量通过入射点位置重建算法重建高位置分辨MRPC探测器的入射点的位置。本发明实施例的方法能够在实现高位置分辨能力的同时，大幅简化读出电子学系统。本发明还提供了一种高位置分辨MRPC探测器的复用读出系统。
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公开(公告)号：CN103900503B
公开(公告)日：2016-12-28
申请号：CN201210581466.6
申请日：2012-12-27
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: G06T7/596 , G06K9/00201 , G06K9/00523 , G06K9/00536 , G06K9/6215 , G06K9/627 , G06K2209/09 , G06T7/0004 , G06T7/68 , G06T11/008 , G06T2207/10081 , G06T2207/30112 , G06T2211/408
Abstract: 公开了一种提取形状特征的方法、安全检查方法以及设备。发挥CT可以获取三维结构的优势，创造性的使用被检查行李中的物体的形状作为嫌疑物特征，再结合该物体的材料特征，可以有效降低爆炸嫌疑物检测的误报率，具有很强的实用性。
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公开(公告)号：CN103163565B
公开(公告)日：2016-12-14
申请号：CN201110424156.9
申请日：2011-12-16
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01V11/00
Abstract: 本发明公开了一种通过式毫米波人体安全检查系统，被检人员通过检查通道以进行安全检查。根据本发明所提供的通过式毫米波人体安全检查系统可以对被检人员进行全身动态扫描，获得人体毫米波图像以及光学图像，从而实现对人体衣物内藏匿的违禁物品的检查和自动报警。
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公开(公告)号：CN103584877B
公开(公告)日：2016-08-24
申请号：CN201310546294.3
申请日：2009-05-26
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种对被检测对象的感兴趣区域进行CT成像的方法，包括步骤：获取所述感兴趣区域的CT投影数据；获取B区域的CT投影数据；选择一组覆盖所述感兴趣区域的PI线段，并且为所述PI线段组中的每条PI线段计算其上的重建图像值；然后组合所述PI线段组中的所有PI线段上的重建图像值而得到所述感兴趣区域的图像。本发明还公开了采用该方法的CT成像设备及其中的数据处理单元。由于只需要X射线束覆盖感兴趣区域和B区域即能够精确重建获得该感兴趣区域的二维/三维断层图像，因此可以使用较小尺寸的探测器实现大尺寸物体任意位置感兴趣区域的CT成像，这能够大大降低CT扫描过程中的X射线辐射剂量。
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公开(公告)号：CN105809629A
公开(公告)日：2016-07-27
申请号：CN201410838462.0
申请日：2014-12-29
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G06T5/00
Abstract: 本发明提供一种点扩散函数估计方法和系统，包括：在具有设定厚度的均匀板状材料上设置至少两个规则形状的孔，所述孔中的至少一个的直径大于系统单个探测器的尺寸，所述孔中的至少一个的直径小于系统单个探测器的尺寸；对所述板状材料进行成像，根据成像的图像信息提取每个孔的子区域；通过每个孔的所述子区域估计点扩散函数，利用所述点扩散函数计算所述孔的退化后的孔图像，根据所述退化后的孔图像通过迭代搜索寻优获得点扩散函数。本发明对点扩散函数的估计精度得到了显著提高，且自动化程度高，使用简单。
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