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公开(公告)号：CN112262311A
公开(公告)日：2021-01-22
申请号：CN201980034016.5
申请日：2019-02-01
申请人： CKD株式会社
IPC分类号： G01N21/85
摘要： 提供一种检查装置和PTP包装机，可谋求利用分光分析的检查所导致的检查精度的降低的抑制。检查装置(22)包括：照明装置(52)，该照明装置(52)可向容器膜(3)照射近红外光，该容器膜(3)由在袋部(2)中接纳有片剂(5)形成；遮光板(54)，该遮光板(54)设置于上述照明装置(52)和容器膜(3)之间，遮挡上述近红外光向上述容器膜(3)的入射；透孔(54a)，该透孔(54a)设置于上述遮光板(54)中，允许上述近红外光的通过；摄像装置(53)，该摄像装置(53)可对从透孔(54a)照射了近红外光的片剂(5)所反射的反射光进行分光，对其进行摄像，检查装置(45)根据通过该摄像装置(53)获得的分光图像数据，获得片剂(5)的光谱数据，据此，针对片剂(5)进行异常品种混入检查。
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公开(公告)号：CN107110643B
公开(公告)日：2020-04-07
申请号：CN201680003486.1
申请日：2016-01-08
申请人： CKD株式会社
摘要： 提供一种在利用相移法进行三维测量时能够在更短时间内实现更高精度的测量的三维测量装置。基板检查装置(1)具备：照明装置(4)，对印刷基板(2)照射条纹状的光图案；相机(5)，拍摄在印刷基板(2)上照射光图案的部分；控制装置(6)，基于所拍摄的图像数据进行三维测量。控制装置(6)基于在第一位置照射第一周期的第一光图案所获得的图像数据来计算第一高度测量值，并从该图像数据取得增益和偏移的值。另外，基于在斜移半个像素间距的第二位置照射第二周期的第二光图案所获得的图像数据并利用所述增益和偏移的值来计算第二高度测量值。并且，将由第一测量值和第二测量值确定的高度数据作为真实的数据来获取。
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公开(公告)号：CN110775322A
公开(公告)日：2020-02-11
申请号：CN201910670825.7
申请日：2019-07-24
申请人： CKD株式会社
摘要： 本发明的课题在于提供可谋求印刷部的外观质量的降低的抑制的PTP片的制造方法。PTP片(1)的制造工序包括在袋部(2)中填充片剂(5)的填充步骤。在填充步骤中，通过印刷装置(61、62)在片剂(5)的内外两个面上形成第1印刷部(5J)和第2印刷部(5K)，以在后形成的第2印刷部(5K)侧的面与袋部(2)面对的方式填充片剂(5)。片剂(5)和袋部(2)处于第2印刷部(5K)和袋部(2)不接触的关系。由于袋部(2)没有因通常的振动等的原因而变形，故根据上述关系，可更加确实地避免第2印刷部(5K)和袋部(2)的接触。由于在具有变形的担心的罩面膜侧设置更加干燥的状态的第1印刷部(5J)，故可防止伴随与罩面膜的接触的第1印刷部(5J)的蹭擦。
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公开(公告)号：CN108139206B
公开(公告)日：2020-01-24
申请号：CN201680056014.2
申请日：2016-08-31
申请人： CKD株式会社
摘要： 提供三维测量装置，当利用相移法进行三维测量时，能够显著地提高测量精度。基板检查装置(10)包括：运送印刷基板(1)的输送机(13)；向印刷基板(1)的表面从斜上方照射预定的光的照明装置(14)；以及拍摄被照射了该光的印刷基板(1)的相机(15)。并且，当获取通过相移法进行三维测量时所需的四组图像数据中的一个图像数据时，向被连续运送的印刷基板(1)照射具有矩形波状或梯形波状的光强度分布的条纹图案。并且，将每当印刷基板(1)被运送预定量时被拍摄的多次的图像数据的亮度值针对印刷基板(1)的各坐标位置进行相加，算出其平均值。
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公开(公告)号：CN107532889B
公开(公告)日：2020-01-24
申请号：CN201680024062.3
申请日：2016-02-25
申请人： CKD株式会社
IPC分类号： G01B11/25
摘要： 本发明提供三维测量装置，能够在利用相移法进行三维测量时保持所需的测量精度的同时提高测量速度。基板检查装置(1)包括：从斜上方向印刷基板(2)的表面照射预定的光图案的照明装置(4)；拍摄印刷基板(2)上的照射了光图案的部分的相机(5)；以及实施基板检查装置(1)内的各种控制、图像处理、运算处理的控制装置(6)。控制装置(6)对于包含满足预定的判断条件的膏状焊料的检查区域，通过四次拍摄方式获取图像数据来执行高精度的三维测量，对于除此之外的检查区域，通过两次拍摄方式获取图像数据来短时间内执行三维测量。
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公开(公告)号：CN107238608B
公开(公告)日：2020-01-03
申请号：CN201611151839.0
申请日：2016-12-13
申请人： CKD株式会社
IPC分类号： G01N21/956
摘要： 本发明提供一种能够实现基板的两面检查涉及的检查精度的提高，并且能够实现检查的高速化的基板检查装置。基板检查装置(1)具有用于进行印刷基板(P1)的上表面侧的检查的上表面检查单元(3)、以及用于进行印刷基板(P1)的下表面侧的检查的下表面检查单元(4)。各检查单元(3、4)具有分别对印刷基板(P1)照射条纹图案的检查照明(3A、4A)等、以及拍摄印刷基板(P1)的检查相机(3C、4C)。并且，交替性进行由上表面检查单元(3)进行的印刷基板(P1)的上表面侧的检查处理、以及由下表面检查单元(4)进行的印刷基板(P1)的下表面侧的检查处理。
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公开(公告)号：CN110537090A
公开(公告)日：2019-12-03
申请号：CN201780089736.2
申请日：2017-10-18
申请人： CKD株式会社
摘要： 本发明的课题在于提供一种检查装置、PTP包装机和PTP片的制造方法，可谋求采用分光分析的异常品种混入检查的检查精度的提高。检查装置(22)包括：照明装置(52)，该照明装置(52)可对被运送的容器膜(3)的袋部(2)中填充的片剂(5)照射近红外光；摄像装置(53)，该摄像装置(53)可对从片剂(5)反射的近红外光的反射光进行分光，对反射光的分光图像进行摄像；控制处理装置，该控制处理装置根据通过该摄像装置(53)拍摄的分光图像获得频谱数据，根据该频谱数据进行规定的分析处理，由此，该检查装置检查异常品种的混入。
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公开(公告)号：CN107407556B
公开(公告)日：2019-11-05
申请号：CN201680018284.4
申请日：2016-01-08
申请人： CKD株式会社
摘要： 提供一种在利用相移法进行三维测量时能够以更短时间实现更高精度的测量的三维测量装置。基板检查装置(8)具备：照明装置(10)，向印刷基板(1)照射预定的光图案；相机(11)，拍摄照射该光图案的部分；以及控制装置(12)，实施各种控制和图像处理、运算处理。控制装置(12)首先基于以四组相位照射与焊料区域对应的第一亮度的第一光图案来拍摄的四组图像数据，进行与焊料区域有关的三维测量，并且基于该四组图像数据掌握根据预定的拍摄条件所确定的增益和偏移的关系。接着基于以二组相位照射与背景区域对应的第二亮度的第二光图案来拍摄的二组图像数据，并利用所述增益和偏移的关系，进行与背景区域有关的三维测量。
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公开(公告)号：CN110352635A
公开(公告)日：2019-10-18
申请号：CN201780087832.3
申请日：2017-10-06
申请人： CKD株式会社
摘要： 本发明提供一种能够实现成品率提高等的部件安装系统等。部件安装系统(13)包括：第一部件搭载机(42)，其将具有规定的电极部的电子部件搭载到印刷在基板上的焊料上；以及/或者检查装置(41)，其用于检查粘接剂。第一部件搭载机(42)关于由在比焊料的熔融温度低的温度下固化的粘接剂固定的电子部件，将目标搭载高度设定为基于设计数据的理想的搭载高度或者比该理想的搭载高度低与所述焊料的熔融相伴的所述电子部件的下沉量的高度。与焊料的量无关地，检查装置(41)通过判定粘接剂的高度是否为基于设计数据的电子部件的理想的搭载高度等来判定粘接剂的好坏。
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公开(公告)号：CN107429992B
公开(公告)日：2019-09-03
申请号：CN201580078559.9
申请日：2015-11-19
申请人： CKD株式会社
IPC分类号： G01B11/25
摘要： 提供三维测量装置和三维测量方法，能够在利用相移法进行高度测量时缩短测量时间。基板检查装置(1)包括：从斜上方向印刷基板(2)的表面照射预定的光图案的照明装置(4)、拍摄印刷基板(2)上的照射了光图案的部分的相机(5)、以及实施基板检查装置(1)内的各种控制和图像处理、运算处理的控制装置(6)。控制装置(6)通过利用根据预定的拍摄条件确定的光图案的增益和偏移的关系以及根据图像数据上的被测量坐标的亮度值确定的该被测量坐标涉及的光图案的增益或偏移的值，并基于在二组相位变化的光图案之下拍摄的二组图像数据通过相移法执行被测量坐标的高度测量。
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