半导体器件及制造其的方法

    公开(公告)号:CN107887362B

    公开(公告)日:2023-07-07

    申请号:CN201710911772.4

    申请日:2017-09-29

    摘要: 一种半导体器件包括:在衬底上的第一层间电介质膜;在第一层间电介质膜内在第一方向上分别延伸的第一布线和第二布线,第一布线和第二布线在不同于第一方向的第二方向上彼此相邻;在第一层间电介质膜上的硬掩模图案,硬掩模图案包括开口;以及在第一层间电介质膜内的气隙,气隙在第一方向上包括与开口垂直交叠的第一部分和不与开口交叠的第二部分。

    制造半导体装置的方法
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117253855A

    公开(公告)日:2023-12-19

    申请号:CN202310521771.4

    申请日:2023-05-10

    IPC分类号: H01L21/8234

    摘要: 一种制造半导体装置的方法可以包括:在鳍型图案上形成源极/漏极图案;在源极/漏极图案上形成蚀刻停止膜和层间绝缘膜;在层间绝缘膜中形成接触孔;沿着接触孔的侧壁和底表面形成牺牲衬垫;在牺牲衬垫存在的同时执行离子注入工艺;去除牺牲衬垫并沿着接触孔的侧壁形成接触衬垫;以及在接触衬垫上形成源极/漏极接触件。离子注入工艺可以包括将杂质注入到源极/漏极图案中。源极/漏极接触件可以连接到源极/漏极图案。

    半导体器件及其制造方法

    公开(公告)号:CN108074910B

    公开(公告)日:2023-04-25

    申请号:CN201711083442.7

    申请日:2017-11-07

    IPC分类号: H01L23/522 H01L23/528

    摘要: 一种半导体器件包括:在衬底的第一区域上的第一绝缘夹层和在衬底的第二区域上的第二绝缘夹层;多个第一布线结构,在第一绝缘夹层上,第一布线结构彼此间隔开;多个第二布线结构,分别填充第二绝缘夹层上的多个沟槽;绝缘覆盖结构,选择性地在第一布线结构之间的第一绝缘夹层的表面上以及在第一布线结构的每个的侧壁和上表面上,绝缘覆盖结构包括绝缘材料;第三绝缘夹层,在第一布线结构和第二布线结构上;以及空气间隙,在第一布线结构之间在第三绝缘夹层下面。

    半导体器件
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112242377A

    公开(公告)日:2021-01-19

    申请号:CN202010684555.8

    申请日:2020-07-16

    摘要: 一种半导体器件包括:第一层间绝缘膜;在第一层间绝缘膜中的导电图案;在导电图案上的电阻图案;上蚀刻停止膜,与电阻图案间隔开,平行于电阻图案的顶表面延伸,并且包括第一金属;下蚀刻停止膜,在导电图案上,平行于第一层间绝缘膜的顶表面延伸,并且包括第二金属;以及在上蚀刻停止膜和下蚀刻停止膜上的第二层间绝缘膜,其中从第二层间绝缘膜的顶表面到上蚀刻停止膜的顶表面的距离小于从第二层间绝缘膜的顶表面到下蚀刻停止膜的顶表面的距离。

    半导体器件
    8.
    发明授权

    公开(公告)号:CN112242377B

    公开(公告)日:2024-06-18

    申请号:CN202010684555.8

    申请日:2020-07-16

    摘要: 一种半导体器件包括:第一层间绝缘膜;在第一层间绝缘膜中的导电图案;在导电图案上的电阻图案;上蚀刻停止膜,与电阻图案间隔开,平行于电阻图案的顶表面延伸,并且包括第一金属;下蚀刻停止膜,在导电图案上,平行于第一层间绝缘膜的顶表面延伸,并且包括第二金属;以及在上蚀刻停止膜和下蚀刻停止膜上的第二层间绝缘膜,其中从第二层间绝缘膜的顶表面到上蚀刻停止膜的顶表面的距离小于从第二层间绝缘膜的顶表面到下蚀刻停止膜的顶表面的距离。

    半导体器件
    9.
    发明公开
    半导体器件 审中-公开

    公开(公告)号:CN116913965A

    公开(公告)日:2023-10-20

    申请号:CN202310362129.6

    申请日:2023-04-06

    摘要: 提供了具有改善的性能和可靠性的半导体器件和用于形成其的方法。半导体器件包括在第一方向上延伸的有源图案、在有源图案上在第一方向上彼此间隔开的栅极结构、在有源图案上的源极/漏极图案、在源极/漏极图案上的源极/漏极接触、以及沿着源极/漏极接触的侧壁延伸的接触衬垫。接触衬垫的第一点处的接触衬垫的碳浓度不同于接触衬垫的第二点处的接触衬垫的碳浓度,第一点在距有源图案的上表面的第一高度处,第二点在距有源图案的上表面的第二高度处,第一高度小于第二高度。

    半导体装置
    10.
    发明公开
    半导体装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN115692375A

    公开(公告)日:2023-02-03

    申请号:CN202210865237.0

    申请日:2022-07-21

    摘要: 公开了一种半导体装置。该半导体装置包括:基底,具有有源区;第一绝缘层,在基底上;第二绝缘层,在第一绝缘层上;蚀刻停止层,在第一绝缘层与第二绝缘层之间;过孔触点,在第一绝缘层中,并且电连接到有源区;互连电极,在第二绝缘层中,并且电连接到过孔触点;导电阻挡层,在互连电极的侧表面和下表面上,并且具有延伸到过孔触点的侧表面的部分区域的延伸部;以及侧绝缘层,在导电阻挡层的延伸部下方在过孔触点的侧区域上,侧绝缘层包括与蚀刻停止层的材料相同的材料。