膜形成用组合物及其制造方法、扩散剂组合物及其制造方法

    公开(公告)号:CN103374296B

    公开(公告)日:2016-02-24

    申请号:CN201310124353.8

    申请日:2013-04-11

    Abstract: 本发明膜形成用组合物含硅氧烷聚合物A,其含有将含式(1)的4官能烷氧基硅烷的烷氧基硅烷作为起始原料的缩合产物A1、将式(2)烷氧基硅烷作为起始原料的缩合产物A2。硅氧烷聚合物A中,缩合产物A1含量相对缩合产物A1、A2总量以SiO2换算为75质量%以下,针对缩合产物A1、A2,将重均分子量设为MA1、MA2,将硅氧烷聚合物A中SiO2换算质量比设为RA1、RA2时,RA1>RA2、RA1<RA2、RA1=RA2时分别具有数学式(1)、数学式(2)、数学式(3)确定的分子量值M的80%以上的重均分子量。式(1):Si(OR1)4,多个R1相同或不同,式(2):R2nSi(OR3)4-n,R1、R2及R3为有机基,n=1或2,R2、(OR3)多个时,可相同或不同,数学式(1):M=(RA2/RA1)(MA1+MA2)+{(RA1-RA2)/RA1}MA1,数学式(2):M=(RA1/RA2)(MA1+MA2)+{(RA2-RA1)/RA2}MA2,数学式(3):M=MA1+MA2。

    碱蚀刻掩蔽剂组合物、及蚀刻方法

    公开(公告)号:CN104911590A

    公开(公告)日:2015-09-16

    申请号:CN201510100385.3

    申请日:2015-03-06

    Abstract: 本发明提供可以形成具有优异的耐碱性的碱蚀刻掩模的碱蚀刻掩蔽剂组合物、及使用了该碱蚀刻掩蔽剂组合物的碱蚀刻方法。本发明的碱蚀刻掩蔽剂组合物含有具有下述通式(a1)所表示的结构单元的聚硅氧烷,相对于聚硅氧烷中的全部结构单元,下述通式(a1)所表示的结构单元的含量为15~100摩尔%。需要说明的是,式中,R1是单键或碳数1~5的亚烷基,R2是可以具有烷基、烷氧基、卤素原子、卤代烷基、芳基、氰基、氨基作为取代基的碳数6~20的芳基。

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