应用于钢板的超声波检测滚筒式探头装置

    公开(公告)号:CN103698409B

    公开(公告)日:2017-02-08

    申请号:CN201310750784.5

    申请日:2013-12-30

    Abstract: 一种超声波检测滚筒式探头装置,其特征在于包括中轴、探头,内法兰,外法兰及外膜,中轴中空供线缆通过并两端密封设置,一侧外壁开设有通孔,该通孔上设置有安装座;探头密封地设置于前述的安装座上并露出发射端面;内法兰为两个,分别设于前述中轴两端;外法兰为两个,分别设于前述中轴两端并位于内法兰外侧;外膜为柔性透声材质,位于前述中轴外侧并将前述探头包裹,两端密封连接于前述内法兰外端面和外法兰内端面之间。与现有技术相比,本发明的优点在于:由于外膜的增设,在检测过程中,外膜与钢板表面接触,而探头与钢板表面不直接接触,减小了对探头的磨损,保证了探头的使用寿命。

    超声波检测滚筒式探头装置

    公开(公告)号:CN103698409A

    公开(公告)日:2014-04-02

    申请号:CN201310750784.5

    申请日:2013-12-30

    Abstract: 一种超声波检测滚筒式探头装置,其特征在于包括中轴、探头,内法兰,外法兰及外膜,中轴中空供线缆通过并两端密封设置,一侧外壁开设有通孔,该通孔上设置有安装座;探头密封地设置于前述的安装座上并露出发射端面;内法兰为两个,分别设于前述中轴两端;外法兰为两个,分别设于前述中轴两端并位于内法兰外侧;外膜为柔性透声材质,位于于前述中轴外侧并将前述探头包裹,两端密封连接于前述内法兰外端面和外法兰内端面之间。与现有技术相比,本发明的优点在于:由于外膜的增设,在检测过程中,外膜与钢板表面接触,而探头与钢板表面不直接接触,减小了对探头的磨损,保证了探头的使用寿命。

    一种超声波C扫描自动检测系统

    公开(公告)号:CN109738528A

    公开(公告)日:2019-05-10

    申请号:CN201811557135.2

    申请日:2018-12-19

    Abstract: 一种超声波C扫描自动检测系统,包括第一基座、工业机器人、水槽、用于支撑水槽的第二基座、设于水槽底部内侧的转台以及用于驱动转台旋转的第一驱动机构,第二基座架设于第一基座上,所述水槽的底部开设有一通孔,通孔的外周设有凸缘,转台穿过通孔凸设于水槽的底部内侧;转台具有下套接部,下套接部的外壁套设有主轴,主轴向下延伸至水槽外部并由第一驱动机构驱动旋转,主轴外套设有安装部,安装部的上端向上延伸并高于凸缘,安装部的下端向下延伸与通孔形成环形的密闭空间,主轴的上端向上延伸并高于安装部的上端。本发明优点的第一基座和第二基座之间相互独立设置,即使水槽在长期储水导致底部发生微量变形时也不会影响转台的机械精度。

    一种超声波C扫描自动检测系统

    公开(公告)号:CN109738528B

    公开(公告)日:2021-06-08

    申请号:CN201811557135.2

    申请日:2018-12-19

    Abstract: 一种超声波C扫描自动检测系统,包括第一基座、工业机器人、水槽、用于支撑水槽的第二基座、设于水槽底部内侧的转台以及用于驱动转台旋转的第一驱动机构,第二基座架设于第一基座上,所述水槽的底部开设有一通孔,通孔的外周设有凸缘,转台穿过通孔凸设于水槽的底部内侧;转台具有下套接部,下套接部的外壁套设有主轴,主轴向下延伸至水槽外部并由第一驱动机构驱动旋转,主轴外套设有安装部,安装部的上端向上延伸并高于凸缘,安装部的下端向下延伸与通孔形成环形的密闭空间,主轴的上端向上延伸并高于安装部的上端。本发明优点的第一基座和第二基座之间相互独立设置,即使水槽在长期储水导致底部发生微量变形时也不会影响转台的机械精度。

    工业CT检测中小细节特征尺寸测量方法

    公开(公告)号:CN105092616B

    公开(公告)日:2017-09-12

    申请号:CN201510562522.5

    申请日:2015-09-07

    Abstract: 本发明涉及一种工业CT检测中小细节特征尺寸测量方法,在扫描获取的检测工件CT图像中,选取包含细节特征的细节特征区域以及无明显缺陷的参考区域,分别对细节特征区域和参考区域内的像素CT值进行计算,然后将细节特征区域内每个像素的CT值相对于参考区域内所有像素的平均CT值的差,与细节特征区域内每个像素的等效标准偏差值进行比例计算,当比例值大于3时,则认定该像素为细节特征点,进而累加细节特征点的数量,从而获取细节特征点的面积,经过换算后获取等效圆直径,减去有效射束宽度值即可获得细节特征区域的直径。该工业CT检测中小细节特征尺寸测量方法应用灵活,识别度和测量精度高。

    一种工业CT散射校正方法
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118552638A

    公开(公告)日:2024-08-27

    申请号:CN202410654155.0

    申请日:2024-05-24

    Abstract: 本发明涉及一种工业CT散射校正方法,包括:加工反散射栅;加工的反散射栅采用多个水平设置的圆柱条等间隔排列而成;在探测器前放置反散射栅,获得被检测样品的第一周向DR图像;将探测器前放置的反散射栅向上或向下移动,获得被检测样品的第二周向DR图像;接着对与第一周向DR图像相同位置的反散射栅进行DR扫描,获得第一投影图像,并且对与第二周向DR图像相同位置的反散射栅进行DR扫描,获得第二投影图像;对第一投影图像和第二投影图像进行处理,即计算被检测样品散射线校正后的图像;最后对图像进行CT重建,得到校正后的CT图像。优点在于:可适用于SDD调节的CT系统。

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