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公开(公告)号:CN115060747B
公开(公告)日:2024-09-24
申请号:CN202210385597.0
申请日:2022-04-13
Applicant: 中国兵器科学研究院宁波分院
IPC: G01N23/046 , G01B11/00 , G06F17/10
Abstract: 本发明涉及一种工业CT系统用X射线源的焦点尺寸定量方法,其特征在于包括:步骤1、采用高密度材料制成球体;步骤2、打开X射线源和探测器,获取球体投影图像;步骤3、对球体投影图像进行二值化处理,并在二值化后的球体投影图像中提取球体投影轮廓位置;步骤4、计算球体的球心T投影在球体投影图像上的坐标;步骤5、获取焦点的边缘扩展函数f(x);步骤6、对步骤5中获得的焦点的边缘扩展函数f(x)进行拟合,并计算拟合后的边缘扩展函数的高斯函数;步骤7、获取高斯函数的标准差,将该标准差乘以预设的焦点平面上的最小距离n的结果作为焦点尺寸。该方法的球模体加工难度低,可靠性高,可实现焦点尺寸的精确定量。
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公开(公告)号:CN111879799B
公开(公告)日:2022-08-26
申请号:CN202010637061.4
申请日:2020-07-03
Applicant: 中国兵器科学研究院宁波分院
IPC: G01N23/046
Abstract: 一种光学系统空间分辨率的手动测试方法,包括:通过机械化加工手段制造待测试模体;并对贴合在一起的两测试块进行CT扫描,获得两测试块截面对应的CT图像;在CT图像中任意框选一个测试块或两个测试块中的内部区域,并计算出框选区域内的灰度值均值;将CT图像中做一条垂直且等分线段两圆圆心的线段L;并提取该线段上的灰度分布,最后绘制成灰度分布曲线;在灰度分布曲线上绘制灰度值为K的直线,该直线与线段L上的灰度值相交于两点;计算相交的两点之间的距离;从而计算得到最小识别间隙a;并计算出该即即为MIF=10%下对应的线对数。该方法的测试模体加工难度低、测试结果直观且测试过程简单、易实现。
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公开(公告)号:CN109884182B
公开(公告)日:2022-08-09
申请号:CN201910271309.7
申请日:2019-04-04
Applicant: 中国兵器科学研究院宁波分院
IPC: G01N27/9013
Abstract: 一种涡流C扫描成像检测方法,首先,通过采集缺陷对比试块的阻抗变化波形;对阻抗变化波形的实部和虚部分别进行高通滤波,并对滤波后的实部和虚部分别进行噪声统计,提取出缺陷信号区域;从缺陷信号区域中分离出提离信号;之后,计算滤波后的阻抗变化波形在缺陷信号区域内的阻抗幅度、相位角和阻抗增量,提取出区域融合后在同一缺陷内的阻抗幅度谱的包络图,从而得到校正后的缺陷幅值谱;通过校正后的缺陷幅值谱进行阈值分割,提取初步的涡流C扫描成像图中的缺陷走向,建立不同偏角与缺陷最大幅值的关系曲线;并使用该关系曲线对缺陷走向和初步的涡流C扫描成像图进行幅度校正。能精确判断缺陷位置、长度、方向信息,且缺陷尺寸定量准确率高。
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公开(公告)号:CN112508841B
公开(公告)日:2022-06-14
申请号:CN202010939322.8
申请日:2020-09-09
Applicant: 中国兵器科学研究院宁波分院
Abstract: 本发明涉及一种基于工业CT图像的点阵镂空结构尺寸偏差快速表征方法,采用本方法,将三维CT数据进行投影重叠形成二维数据,自动计算最小重复结构的模板,比较待测点阵镂空结构与点阵结构模板的差异,计算获得尺寸偏差和判断缺陷位置,减少了缺陷识别、定量计算次数,提高检测效率,且针对周期性点阵镂空结构给出整体尺寸误差快速量化表征方法,以及快速的缺陷定位方法,特别适用于无法提供精确零部件模型的增材制造点阵镂空结构的快速尺寸偏差、缺陷识别。
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公开(公告)号:CN113125476A
公开(公告)日:2021-07-16
申请号:CN202110402105.X
申请日:2021-04-14
Applicant: 中国兵器科学研究院宁波分院
IPC: G01N23/046
Abstract: 本发明涉及一种面阵工业CT散射校正方法,步骤1、使用X射线机对被检测样品进行周向DR扫描,获得I幅第一周向DR图像,并对其进行射束硬化校正,得到I幅第一图像;步骤2、在X射线机出束窗口前放置一块衰减板;并采用与步骤1中相同的扫描工艺对被检测样品进行周向DR扫描,获得I幅第二周向DR图像,并对其进行射束硬化校正,得到I幅第二图像;步骤3、将相同扫描角度的第一图像和第二图像进行散射校正,得到散射校正后的DR数据;步骤4、采用散射校正后的DR数据进行锥束CT重建,得到散射校正后的CT图像。该方法操作简便、衰减板加工要求低、算法步骤少、易于实现,大幅降低了后续工业CT重建后图像的散射伪像。
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公开(公告)号:CN108844977B
公开(公告)日:2021-04-20
申请号:CN201810375996.2
申请日:2018-04-25
Applicant: 中国兵器科学研究院宁波分院
IPC: G01N23/046
Abstract: 本发明涉及一种剔除角度倾斜影响的工业CT系统空间分辨率测试方法,其特征在于:通过加工定位件或定位孔,截取中轴线两侧刃边数据,最后得到MTF曲线。本发明还涉及一种对剔除角度倾斜影响的工业CT系统空间分辨率测试方法的评价方法,其特征在于:还包括以下任意一或任意多个步骤,采用MTF=10%时的线对数;与圆盘法MTF比较;与线对卡法CTF比较;与圆盘法比较不同测试参数下MTF=10%时的线对数;与线对卡法比较不同测试参数下MTF=10%时的线对数。本发明剔除倾斜角度影响,测试模体易于加工,摆放要求低,降低噪声干扰,提高了工业CT系统空间分辨率测试的精度和稳定性,并能对测试方法进行评价。
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公开(公告)号:CN111895938A
公开(公告)日:2020-11-06
申请号:CN202010620055.8
申请日:2020-06-30
Applicant: 中国兵器科学研究院宁波分院
IPC: G01B15/00
Abstract: 本发明涉及一种活塞内冷油道位置偏差的自动测量方法,包括以下步骤:S1、采用X射线线阵探测器工业CT系统扫描具有波浪形内冷油道的活塞,获得活塞的DR图像;S2、在DR图像上搜索波浪形内冷油道位置,设内冷油道高度为h,分别在h/2、h/m、h/n(n>m>2)处进行CT扫描获得对应的断层图像,分别记为第一断层CT图像、第二断层CT图像和第三断层CT图像;其中,第二断层CT图像和第三断层CT图像中存在多个局部油道;S3、通过第一断层CT图像进行内冷油道的径向偏差测量;S4、通过第二断层CT图像和第三断层CT图像进行内冷油道的轴向偏差测量。该方法传统面阵CT系统具有成本低、效率高、测量精度高的优点。
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公开(公告)号:CN108827197A
公开(公告)日:2018-11-16
申请号:CN201810234750.3
申请日:2018-03-21
Applicant: 中国兵器科学研究院宁波分院
Abstract: 本发明公开了一种减少边缘退化影响的线阵工业CT均质材料尺寸测量方法,通过对被测均质材料对象一起放置圆柱标定试块进行线阵工业CT扫描,利用所采集的圆柱边缘CT图像获得边缘退化曲线,提取点扩散函数,运用单峰高斯响应理论建立不同斜率边缘灰度退化模型,利用标称圆柱尺寸计算当前边缘的分割灰度和边缘退化长度分量,进而得到一系列计算不同斜率边缘分割灰度值和边缘退化长度,建立边缘退化评价模型,采用二值化初步提取待测尺寸试块边缘分布,计算边缘上每一点的法线灰度分布,运用边缘退化评价模型对尺寸及斜率未知的均质试块进行尺寸测量。该方法有效抑制了不同斜率引起的边缘退化对尺寸测量的影响,提高了线阵工业CT尺寸测量的精度。
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公开(公告)号:CN105631876A
公开(公告)日:2016-06-01
申请号:CN201511009329.5
申请日:2015-12-29
Applicant: 中国兵器科学研究院宁波分院
IPC: G06T7/00
CPC classification number: G06T7/0004 , G06T7/0012 , G06T2207/10081 , G06T2207/30168
Abstract: 一种基于全局二值化的CT图像分辨率自动测试方法,包括采用圆盘标准试件进行测试,获取圆盘标准试件的CT图像;对CT图像进行自动阈值分割的全局二值化处理,并且在全局二值化处理后的CT图像中找圆盘标准试件的圆心以及圆盘轮廓线,并且计算圆盘的半径。根据中找出的圆盘标准时间的圆心以及圆盘轮廓线和半径,计算CT图像的密度分辨率和空间分辨率。该基于全局二值化的CT图像分辨率自动测试方法,在图像的中心和轮廓的确定计算中利用全局二值化后的CT图像,使得圆心、半径和轮廓的确定更加准确,进而使得分辨率的测试也更加准确。
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公开(公告)号:CN115971805A
公开(公告)日:2023-04-18
申请号:CN202211647162.5
申请日:2022-12-21
Applicant: 中国兵器科学研究院宁波分院 , 博格华纳汽车零部件(宁波)有限公司
Abstract: 本发明涉及一种工业CT散射线校正板的加工方法,属于材料加工技术领域。包括以下步骤:1)铜合金下料;2)机加工前处理工艺;3)机加工处理;4)机加工后处理;5)磁控溅射前处理工艺;6)磁控溅射处理工艺;7)抛光微调。本发明通过磁控溅射处理工艺能有效的提高射线校正板的耐蚀性,同时增加粗糙度,从而降低成本和提高准确度。
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