用于大口径光学元件损伤观测的无线侧照明装置及方法

    公开(公告)号:CN116297479A

    公开(公告)日:2023-06-23

    申请号:CN202310175409.6

    申请日:2023-02-27

    IPC分类号: G01N21/88 G01N21/01

    摘要: 本发明公开了一种用于大口径光学元件损伤观测的无线侧照明装置及方法,包括对大口径光学元件进行固定的装调组件,还包括设置在待测大口径光学元件侧面,以提供损伤检测光源的照明模块;其中,所述照明模块通过相配合的线缆、接插件与装调组件上的供电模块电性连接。本发明提供一种用于大口径光学元件损伤观测的无线侧照明装置及方法,该装置无需单独外接有线电源,从而极大地扩展了大口径光学元件损伤观测的使用场景,观测时侧照明LED灯条可均匀辐照于整个大口径光学元件,根据观测距离和角度的不同,可分辨出表面或体内损伤。

    一种抗激光损伤的软边光阑制备方法

    公开(公告)号:CN112355488B

    公开(公告)日:2021-12-03

    申请号:CN202011220524.3

    申请日:2020-11-05

    摘要: 本发明公开了一种抗激光损伤的软边光阑制备方法,按照以下步骤进行:S1:调试聚焦CO2激光脉冲的功率和脉宽,利用聚焦CO2激光脉冲辐照熔石英表面,形成无裂纹的烧蚀凹坑点;S2:利用光弹法检测烧蚀凹坑点的残余应力是否为0;S3:利用凹坑点排列密度调控光的透射率,使软边光阑边缘CO2激光相爆炸烧蚀凹坑点的密度朝着靠近软边光阑边缘的方向逐渐增加。采用以上技术方案,制备的软边光阑激光损伤阈值高且经济高效,克服了超短激光脉冲制备软边光阑成本高昂的问题,解决了CO2激光制备软边光阑的热应力问题,不仅可以制备传统的圆孔、方孔和矩形孔软边光阑,并且可以灵活方便地制备圆环、方形环以及中心透射率调制的软边光阑等。

    一种从熔石英假想温度分布获取残余应力分布的方法

    公开(公告)号:CN113340504A

    公开(公告)日:2021-09-03

    申请号:CN202110788340.5

    申请日:2021-07-13

    IPC分类号: G01L5/00 G01N21/65

    摘要: 本发明公开了一种从熔石英假想温度分布获取残余应力分布的方法,按照以下步骤进行:S1:构建熔石英的假想温度分布;S2:作出初始冻结状态曲线以及体积变化曲线;S3:计算各个位置的体积收缩量;S4:获得相对体积应变量的分布;S5:求解获得熔石英的残余应力分布。采用以上技术方案,简洁准确,易于实现,克服了现有方法评估残余应力复杂繁琐的技术问题,并解决了目前玻璃假想温度状态只表征其结构状态而不能通过其分布获取残余应力的难题;本方法不仅可以获得CO2激光作用后熔石英的残余应力分布,而且可以方便灵活地获得石英光纤的残余应力,在熔石英加工领域具有重要的应用价值。

    一种道路交通标线的激光清洗方法

    公开(公告)号:CN109277372B

    公开(公告)日:2020-08-14

    申请号:CN201811337942.3

    申请日:2018-11-12

    IPC分类号: B08B7/00 B08B5/04

    摘要: 本发明公开了一种道路交通标线的激光清洗方法,该方法包括:对激光清洗机进行预热,调节所述激光清洗机输出激光的平均功率、重复频率和脉冲宽度;调节作用于道路交通标线上的激光光斑直径和激光光斑线长;将吸尘器的吸气嘴倾斜放置于距离激光作用点5cm‑10cm处;打开所述激光清洗机光闸,打开所述吸尘器,沿垂直于光斑线长方向同时水平移动所述激光清洗机输出头和所述吸尘器吸气嘴。本发明具有在不损伤路基的前提下有效去除道路交通标线,且清洗后的产物便于收集,对环境污染小的优点。

    用于单面涂膜的降液式提拉涂膜机

    公开(公告)号:CN111229541A

    公开(公告)日:2020-06-05

    申请号:CN202010184859.8

    申请日:2020-03-17

    IPC分类号: B05C3/18 B05C11/10 B05C13/00

    摘要: 本发明公开了一种用于单面涂膜的降液式提拉涂膜机,主体支架、涂膜器、升降控制机构和储液器,储液器的底部通过连接管与涂膜器的底部连通。采用以上技术方案的用于单面涂膜的降液式提拉涂膜机,结构新颖,设计巧妙,不仅具有传统提拉涂膜方法所有的优势,而且制备流程简单,操作方便,效率高,同时,对于非平板结构的元件,可以根据涂膜对象的形状特征,对储液器的形状进行适应性地调整,使其与元件和涂膜开孔内部的空间形状互补,从而可以在储液器匀速升降的情况下,保持涂膜器中的液面下降速度也是匀速的,大幅提高涂膜的均匀性,简化升降控制机构的逻辑控制。

    去除熔石英光学元件上二氧化硅增透化学薄膜的方法

    公开(公告)号:CN107065175A

    公开(公告)日:2017-08-18

    申请号:CN201710354563.4

    申请日:2017-05-19

    IPC分类号: G02B27/00

    CPC分类号: G02B27/0006

    摘要: 本发明公开了一种去除熔石英光学元件上二氧化硅增透化学薄膜的方法,包括:将带有二氧化硅增透化学薄膜的熔石英光学元件放入装有碱性清洗剂溶液的超声波槽体中进行超声处理,将超声处理后的熔石英光学元件用高纯水进行喷淋;将喷淋后的熔石英光学元件放入高纯水的超声波槽体中,进行超声处理;将熔石英光学元件放入高纯水的槽体中,慢速提拉,除去光学元件表面多余的水。该方法利用超声清洗去除二氧化硅化学薄膜的光学元件,实现了二氧化硅化学薄膜有效完全地去除,光学元件性能和镀膜前的光学元件基本一样,使光学元件能再利用、再循环。该方法具有高效、不伤害光学元件、操作简单、经济等优点。

    用于光学元件的激光预处理装置及处理方法

    公开(公告)号:CN106964893A

    公开(公告)日:2017-07-21

    申请号:CN201710339726.1

    申请日:2017-05-15

    摘要: 本发明公开了一种用于光学元件的激光预处理装置及处理方法,包括:用于发出激光的激光光源;依次设置在激光传输方向上的分光劈板、反射镜、光束整形系统和放置待处理光学元件的电动平移台;其中,激光光源发出的激光经分光劈板之后经反射镜传输至光束整形系统,光束整形系统对激光进行光束整形,将本身高斯分布的激光光斑整形成平顶均匀分布的方光斑,最后辐照到光学元件表面来对光学元件进行激光预处理。通过本发明的激光预处理装置,形成平顶聚焦的均匀方形激光光斑使整个预处理过程辐照的能量密度均匀,并且能够通过倍率切换结构来轻松调节光斑的尺寸,进而调节到达光学元件表面激光能量密度的目的。

    一种高功率激光器中的油脂污染物监测装置

    公开(公告)号:CN104316496B

    公开(公告)日:2017-05-10

    申请号:CN201410612152.7

    申请日:2014-11-05

    IPC分类号: G01N21/47

    摘要: 本发明提供了一种高功率激光器中的油脂污染物监测装置及其监测方法,所述装置中的激光发生装置通过2×2耦合器Ⅰ,将所发生的激光分成两路,一路作为信号光依次输入至2×2耦合器、1×4耦合器、镀膜微纳光纤阵列、4×1合束器、2×1合束器、信号光探测器,另一路作为参考光输入至用于检测参考光强度的参考光探测器。信号光探测器依次与放大器、差分器、AD转换器、锁相调制器、微型计算机电连接。本发明的监测装置及监测方法通过微纳光纤镀膜材料折射率改变,影响其表面倏逝波的传输特性。本发明精度较高、能够用于真空监测环境、二次污染少,能够满足对油脂类污染物监测的特殊要求,能够实现易集成、易扩展、灵敏度高、准分布及实时在线测量。