一种光机模块手操箱
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN115524042B

    公开(公告)日:2024-07-09

    申请号:CN202211240613.3

    申请日:2022-10-11

    IPC分类号: G01L5/00

    摘要: 本发明公开一种光机模块手操箱,涉及光机模块安装技术领域,包括箱体,所述箱体上开设有用于与光机组件对接的连接口,所述箱体内设置有推送单元,所述推送单元上能够安装光机模块,且所述推送单元连接有驱动机构,所述驱动机构能够驱动所述推送单元使所述推送单元上的光机模块穿过所述连接口;所述连接口处设置有密封闸板,当所述箱体与所述光机组件对接时,所述密封闸板能够打开,以使所述光机模块能够穿过所述连接口,当所述箱体与所述光机组件分离时,所述密封闸板能够封闭所述连接口;所述箱体上设置有用于供人手操作的手操作口,所述手操作口上设置有密封组件。本发明能够实现光机模块在洁净环境下的各种安装姿态的集成安装。

    一种道路交通标线的激光清洗方法

    公开(公告)号:CN109277372B

    公开(公告)日:2020-08-14

    申请号:CN201811337942.3

    申请日:2018-11-12

    IPC分类号: B08B7/00 B08B5/04

    摘要: 本发明公开了一种道路交通标线的激光清洗方法,该方法包括:对激光清洗机进行预热,调节所述激光清洗机输出激光的平均功率、重复频率和脉冲宽度;调节作用于道路交通标线上的激光光斑直径和激光光斑线长;将吸尘器的吸气嘴倾斜放置于距离激光作用点5cm‑10cm处;打开所述激光清洗机光闸,打开所述吸尘器,沿垂直于光斑线长方向同时水平移动所述激光清洗机输出头和所述吸尘器吸气嘴。本发明具有在不损伤路基的前提下有效去除道路交通标线,且清洗后的产物便于收集,对环境污染小的优点。

    用于单面涂膜的降液式提拉涂膜机

    公开(公告)号:CN111229541A

    公开(公告)日:2020-06-05

    申请号:CN202010184859.8

    申请日:2020-03-17

    IPC分类号: B05C3/18 B05C11/10 B05C13/00

    摘要: 本发明公开了一种用于单面涂膜的降液式提拉涂膜机,主体支架、涂膜器、升降控制机构和储液器,储液器的底部通过连接管与涂膜器的底部连通。采用以上技术方案的用于单面涂膜的降液式提拉涂膜机,结构新颖,设计巧妙,不仅具有传统提拉涂膜方法所有的优势,而且制备流程简单,操作方便,效率高,同时,对于非平板结构的元件,可以根据涂膜对象的形状特征,对储液器的形状进行适应性地调整,使其与元件和涂膜开孔内部的空间形状互补,从而可以在储液器匀速升降的情况下,保持涂膜器中的液面下降速度也是匀速的,大幅提高涂膜的均匀性,简化升降控制机构的逻辑控制。

    一种光学元件反射率测量仪

    公开(公告)号:CN105527252A

    公开(公告)日:2016-04-27

    申请号:CN201610019827.6

    申请日:2016-01-13

    IPC分类号: G01N21/55

    CPC分类号: G01N21/55

    摘要: 本发明提供了一种光学元件反射率测量仪,用于光学元件反射率的测量。本发明的光学元件反射率测量仪采用光电二极管采集光学元件或光学标准片的反射光并转换为电信号,电信号再经过前置放大器和锁相放大器放大后,得到与信号光强度成正比的直流电压信号。该仪器以测量光学标准片反射光所获得的直流电压信号为基准,测量待测元件反射光所获得的直流电压信号与基准比对,获得待测光学元件的反射率。本发明结构简单,易于实现,测量精度高,且能够实现对光学元件反射率的在线测量。

    一种机械件表面洁净度的检测方法

    公开(公告)号:CN105241779A

    公开(公告)日:2016-01-13

    申请号:CN201510730678.X

    申请日:2015-11-02

    IPC分类号: G01N5/04

    摘要: 本发明提供了一种机械件表面洁净度的检测方法。该检测方法利用AK225溶液对有机物的良好溶解性,对机械件表面的污染物进行充分取样;通过低真空烘干,使得AK225溶液和溶解的机械件表面污染物分离;使用称重法得出机械件表面单位面积污染物含量;对照标准,确定机械件表面洁净度数值。本发明的检测机械件表面洁净度的方法适用于航空、航天和高功率激光装置内部机械件表面洁净度的定量测试,测试精度优于0.1mg/ft2,可以定量的评价机械件表面的洁净度指标,具有检测结果精确,操作方法简单的优点。

    一种用于去除光机元件表面微量有机污染物的烘烤装置

    公开(公告)号:CN105234131A

    公开(公告)日:2016-01-13

    申请号:CN201510729977.1

    申请日:2015-11-02

    IPC分类号: B08B7/00 B08B13/00

    CPC分类号: B08B7/005 B08B13/00

    摘要: 本发明提供了一种用于去除光机元件表面微量有机污染物的烘烤装置。该烘烤装置利用低真空烘烤方式,通过红外烘烤灯烘烤出金属或熔石英光机元件表面或亚表面的有机污染物,并将有机污染物利用微量循环空气带出真空箱。该烘烤装置使用空气过滤器和AMC过滤器,避免了空气中的颗粒及有机物对光机元件表面的二次污染;该烘烤装置通过调节真空压力及烘烤温度,可以在确保在光机元件性能不变的情况下去除光机元件表面或者亚表面有机污染物,同时达到较高的洁净度等级。本发明的烘烤装置具有有机污染物去除效果好、结构简单、不引入二次污染、易于使用的优点,可拓展适用于航空、航天等对洁净度要求比较高的领域。

    一种用于光学元件表面荧光特性颗粒检测的装置及方法

    公开(公告)号:CN112611741B

    公开(公告)日:2022-03-04

    申请号:CN202011417600.X

    申请日:2020-12-07

    IPC分类号: G01N21/64 G01N21/01

    摘要: 本发明公开了一种用于光学元件表面荧光特性颗粒检测的装置及方法,包括:紫外荧光成像系统,其连接有控制电脑;运动机构,紫外荧光成像系统设置在运动机构上;将紫外荧光成像系统固定于运动机构上,将光学元件放置于底座内;通过运动机构的支架调整紫外荧光成像系统与光学元件的距离,使其成像最清晰;控制电脑控制紫外荧光成像系统,使用CCD相机拍照并分析检测结果;通过运动机构的纵向导轨、横向导轨和竖直导轨移动紫外荧光成像系统,并重复进行拍照分析,完成对光学元件的抽样检测。本发明可根据成像镜头的工作距离,通过运动机构调节紫外荧光成像系统与光学元件之间的距离。本发明检测方法为无损检测,与光学元件无接触,无二次污染产生。

    用于光学元件在线表面洁净处理的装置

    公开(公告)号:CN108971045A

    公开(公告)日:2018-12-11

    申请号:CN201811243263.X

    申请日:2018-10-24

    IPC分类号: B08B1/00

    摘要: 本发明公开了一种用于光学元件在线表面洁净处理的装置,包括:水平运动机构,其包括导轨单元、水平滑块、水平丝杆、以及伺服电机;竖直伸缩机构,其包括竖直连接在水平滑块上的支撑块和连接在支撑块上的可伸缩机械臂;洁净处理机构,其包括连接在可伸缩机械臂顶端的水平支撑臂、连接在水平支撑臂末端的擦拭机构、连接在水平支撑臂上的无尘布传送机构、以及连接在支撑块上的无尘布收集机构;其中,无尘布传送机构上的无尘布绕过擦拭机构后收集在无尘布收集机构上;酒精擦拭辅助机构,其包括酒精壶和与酒精壶连通的抽送泵,抽送泵的输出端通过导管连接至擦拭机构。该装置可用于对光学元件的表面进行在线洁净处理,操作简单便捷。

    可挥发有机污染物探测装置

    公开(公告)号:CN106370793A

    公开(公告)日:2017-02-01

    申请号:CN201610944245.9

    申请日:2016-10-25

    IPC分类号: G01N33/00

    CPC分类号: G01N33/0047

    摘要: 本发明提供了一种可挥发有机污染物探测装置,所述装置采用基于声表面波技术的传感器作为探测器,四个探测器的信号通过同轴线缆传输给多路复用器,单片机控制多路复用器的通道切换,经过多路复用器选择的信号传给频率计数器,频率计数器输出探测器的频率信息经过计算机处理后,获得探测器的频率信号相对于探测器中心稳定频率的变化,进而得到可挥发有机污染物的吸附浓度。本装置的探测器中的敏感膜饱和后,可采用酒精冲洗解除敏感膜的表面吸附,敏感膜能够重复使用。本发明的可挥发有机污染物探测装置能够实现对污染物分窗口实时监测,测量精度高。