一种附载体超薄铜箔及降低其针孔的制造方法

    公开(公告)号:CN117888154A

    公开(公告)日:2024-04-16

    申请号:CN202410016313.X

    申请日:2024-01-05

    IPC分类号: C25D3/38 C25D5/00 C25D5/34

    摘要: 本发明公开了一种降低附载体超薄铜箔针孔的方法。附载体超薄铜箔由载体层,复合功能层,超薄铜层所组成。复合功能层结构为打底层‑阻挡层‑剥离层。本发明采用等离子体轰击辅助成膜技术。增强复合功能层内各膜层间结合力,同时增强复合功能层与载体层间结合力,减少后续电镀加厚过程中膜层脱落,达到减少针孔的目的。超薄铜层结构为种子铜层‑电化学沉积铜层‑表面处理层。本发明选用多种添加剂组合,保障铜层稳定生长,从而减少超薄铜箔针孔。该添加剂系统由表面活性剂聚乙二醇(分子量8000),整平剂疏基咪唑丙磺钠(MESS),光亮剂丙烷磺酸钠(HP)所组成。

    一种低电阻温度系数的埋阻铜箔的制备方法

    公开(公告)号:CN118390121A

    公开(公告)日:2024-07-26

    申请号:CN202410579135.1

    申请日:2024-05-11

    摘要: 本发明公开了一种低电阻温度系数的埋阻铜箔的制备方法,属于埋阻铜箔技术领域,以解决现有技术无法制备出低电阻温度系数和阻值波动小、电阻率大于9×10‑4的埋阻铜箔产品的问题。方法包括制备生箔层、制备表面处理层、反应溅射电阻层、磁控溅射防氧化层四个步骤。采用本发明方法制备出的埋阻铜箔产品具有以下优点:电阻层的电阻率高,在相同电阻层厚度下,可得到较高的方阻值;产品的电阻温度系数TCR低,具有良好的热稳定性;电阻层均匀致密,可以将方阻值的公差控制在3%内。相比于市面现有产品具有更高的优势,具有更好的应用前景和商业价值。

    附载体极薄铜箔及其制备方法
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116641018A

    公开(公告)日:2023-08-25

    申请号:CN202310552455.3

    申请日:2023-05-16

    摘要: 本发明公开了一种附载体极薄铜箔及其制备方法,所述方法包括:S1、利用离子源在氩气下对载体箔材的表面进行离子轰击,得到载体层;载体层的表面洁净均一;S2、利用溅射镀膜技术,在载体层的表面形成致密的阻挡/剥离层,阻挡/剥离层具有阻挡层功能和剥离层功能;S3、利用真空镀膜技术,在阻挡/剥离层上沉积铜金属,得到种子铜层;S4、利用电镀技术在种子铜层表面电镀加厚层,得到预处理铜箔;加厚层的厚度为目标厚度;S5、对预处理铜箔进行表面处理形成表面处理层,得到附载体极薄铜箔。本发明的阻挡/剥离层具有阻挡层功能和剥离层功能,实现了载体层和极薄铜层的分离力在一定范围内稳定可控。