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公开(公告)号：CN101099085B
公开(公告)日：2011-01-19
申请号：CN200580046181.0
申请日：2005-12-15
申请人： 佛姆法克特股份有限公司
发明人： C·A·米勒
IPC分类号： G01R31/02
CPC分类号： G01R31/2889 , G01R31/31905
摘要： 测试系统包括端接于探针中的通信信道，该探针接触待测电子器件的输入端。电阻器连接在探针附近的通信信道与接地之间。该电阻器可减小该端的输入阻抗，由此可减小输入端的上升时间和下降时间。信道可以端接在具有多个路径的分支中，其中各个路径是由用于接触待测电子器件各端的探针来端接的。这些分支中包括隔离电阻器，用于防止一个输入端的故障传播到其它输入端。各分支中都设有分流电阻器，用于减小该端的输入阻抗，由此减小输入端的上升时间和下降时间。还可以调整分流电阻器的大小，以减少、最小化或者消除通过该信道所返回的信号反射。
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公开(公告)号：CN101501511A
公开(公告)日：2009-08-05
申请号：CN200780021128.4
申请日：2007-05-25
申请人： 佛姆法克特股份有限公司
发明人： C·A·米勒
CPC分类号： G01R31/2889 , G01R1/07342
摘要： 一种探针卡组件可以包括一个接口，可以配置该接口使之从测试仪接收用于测试电子设备的测试信号。探针卡组件还可以包括用于接触电子设备的探针和把测试信号驱动到探针中之一的电子驱动电路。
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公开(公告)号：CN101340781A
公开(公告)日：2009-01-07
申请号：CN200710141958.2
申请日：2002-01-15
申请人： 佛姆法克特股份有限公司
CPC分类号： H03H7/38 , H03H7/0115 , H03H7/075 , H03H7/1758 , H03H2001/0085 , H05K1/0216 , H05K1/0231 , H05K1/0233 , H05K1/0251 , H05K1/113 , H05K1/116 , H05K1/162 , H05K3/3421 , H05K3/429 , H05K2201/09263 , H05K2201/09454 , H05K2201/09672 , H05K2201/09727 , H05K2201/10689
摘要： 一种印刷线路板(PCB)通孔，提供一条导体，在PCB的各层上形成的微带或带状线导体之间垂直地延伸，该通孔包括一个导电焊盘，围绕着所述导体并嵌入在所述PCB内，位于这些PCB层之间。该焊盘的并联电容和该通孔其他部分的电容量的大小相对于所述导体固有阻抗，优化所述通孔的频率响应特性。
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公开(公告)号：CN101099085A
公开(公告)日：2008-01-02
申请号：CN200580046181.0
申请日：2005-12-15
申请人： 佛姆法克特股份有限公司
发明人： C·A·米勒
IPC分类号： G01R31/02
CPC分类号： G01R31/2889 , G01R31/31905
摘要： 测试系统包括端接于探针中的通信信道，该探针接触待测电子器件的输入端。电阻器连接在探针附近的通信信道与接地之间。该电阻器可减小该端的输入阻抗，由此可减小输入端的上升时间和下降时间。信道可以端接在具有多个路径的分支中，其中各个路径是由用于接触待测电子器件各端的探针来端接的。这些分支中包括隔离电阻器，用于防止一个输入端的故障传播到其它输入端。各分支中都设有分流电阻器，用于减小该端的输入阻抗，由此减小输入端的上升时间和下降时间。还可以调整分流电阻器的大小，以减少、最小化或者消除通过该信道所返回的信号反射。
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公开(公告)号：CN101048780A
公开(公告)日：2007-10-03
申请号：CN200580028048.2
申请日：2005-07-11
申请人： 佛姆法克特股份有限公司
发明人： C·A·米勒
CPC分类号： G01R35/005 , G01R31/3016 , G01R31/31723 , G01R31/318511 , G01R31/3191 , G01R31/31937
摘要： 一连串脉冲可被驱动到各个驱动通道，各个驱动通道在缓冲器的输出端生成一连串混合脉冲。各个混合脉冲是由驱动到驱动通道的各个脉冲构成。可调节与驱动通道相关联的时间偏移量，直到混合脉冲中的各个脉冲对齐或接近对齐。这些时间偏移量对驱动通道进行校准和/或校直，从而补偿通过驱动通道的传播延迟的偏差。混合脉冲可经由比较通道反馈到测试器，且可使与用于各个比较通道的比较信号相关联的偏移量与混合脉冲对齐，这可校准和/或校直比较脉冲。
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公开(公告)号：CN1947022A
公开(公告)日：2007-04-11
申请号：CN200580012737.4
申请日：2005-04-21
申请人： 佛姆法克特股份有限公司
IPC分类号： G01R31/02 , G01R31/26 , G01R31/28 , G01R29/00 , H01L21/66 , H01R11/18 , H01R13/00 , H01R13/24
CPC分类号： G01R31/31905 , G01R1/07385 , G01R1/36 , G01R31/2889 , G01R35/00
摘要： 提供了一种用于晶片测试系统的探针卡，它具有许多单板特征，能够进行测试系统控制器通道的扇出，以便测试晶片上的多个DUT，同时又限制了扇出对测试结果的不利影响。探针卡的单板特征包括下列一个或多个：(a)DUT信号隔离，这是通过将电阻器与每一个DUT输入串联以隔离出故障的DUT而设置的；(b)DUT电源隔离，这由与每一个DUT电源引脚串联的开关、限流器或调节器来设置，以便隔离对出故障的DUT的电源供给；(c)用单板微控制器或FPGA来设置的自测；(d)作为探针卡一部分而设置的层叠的子卡，用于容纳附加的单板测试电路；以及(e)在探针卡的底部PCB及子卡或测试系统控制器之间接口总线的使用，以使底部PCB和子卡之间或底部PCB和测试系统控制器之间的接口导线的数目达到最小。
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公开(公告)号：CN1816751A
公开(公告)日：2006-08-09
申请号：CN200480019130.4
申请日：2004-06-30
申请人： 佛姆法克特股份有限公司
IPC分类号： G01R31/02
CPC分类号： G01R35/00 , G01R31/11 , G01R31/2886
摘要： 一种测试探针板的方法，包括在放置在平台上的验证晶片上的探测器内放置探针板的步骤。探针板与验证晶片上的接触区域接触。验证晶片包括围绕接触区域的短路板。测试信号通过验证晶片发送到探针板。接收并分析来自探针板的响应信号。
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公开(公告)号：CN102116779A
公开(公告)日：2011-07-06
申请号：CN201110033281.7
申请日：2005-04-21
申请人： 佛姆法克特股份有限公司
IPC分类号： G01R1/073 , G01R31/26 , G01R31/319
CPC分类号： G01R31/31905 , G01R1/07385 , G01R1/36 , G01R31/2889 , G01R35/00
摘要： 提供了一种用于晶片测试系统的探针卡，它具有许多单板特征，能够进行测试系统控制器通道的扇出，以便测试晶片上的多个DUT，同时又限制了扇出对测试结果的不利影响。探针卡的单板特征包括下列一个或多个：(a)DUT信号隔离，这是通过将电阻器与每一个DUT输入串联以隔离出故障的DUT而设置的；(b)DUT电源隔离，这由与每一个DUT电源引脚串联的开关、限流器或调解器来设置，以便隔离对出故障的DUT的电源供给；(c)用单板微控制器或FPGA来设置的自测；(d)作为探针卡一部分而设置的层叠的子卡，用于容纳附加的单板测试电路；以及(e)在探针卡的底部PCB及子卡或测试系统控制器之间接口总线的使用，以使底部PCB和子卡之间或底部PCB和测试系统控制器之间的接口导线的数目达到最小。
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公开(公告)号：CN1954227B
公开(公告)日：2011-06-29
申请号：CN200580009468.6
申请日：2005-02-02
申请人： 佛姆法克特股份有限公司
发明人： C·A·米勒
IPC分类号： G01R31/302 , G01R31/26 , G01R31/02 , G01R1/00 , G01R31/308 , G01R1/02
CPC分类号： G01R1/0491 , G01R1/07 , G01R1/07378 , G01R31/3025
摘要： 接口器件从测试器接收测试数据。表示测试数据的信号通过接口器件和受测器件上的电磁耦合结构传送到受测器件。受测器件处理测试数据并生成响应数据。表示响应数据的信号通过受测器件和接口器件上的电磁耦合结构传送到接口器件。
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公开(公告)号：CN101115998B
公开(公告)日：2011-01-05
申请号：CN200580029701.7
申请日：2005-09-08
申请人： 佛姆法克特股份有限公司
发明人： C·A·米勒
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/3008
摘要： 提供了一种使得泄漏电流测量或参数测试可用设置在通道线路中的隔离缓冲器来执行的系统。多个这种隔离缓冲器被用来将单个信号通道连接到多个线路。通过设置在每一个缓冲器的输入和输出之间的缓冲器旁路元件，诸如电阻器或传输门，来提供泄漏电流测量。通过使用TDR测量来基于通过缓冲器旁路元件的反射脉冲确定缓冲器延迟，缓冲器旁路元件可被用来校准消除测试系统中的缓冲器延迟。通过比较测量缓冲和非缓冲通道线路或者通过测量具有已知延迟的设备，同样可校准消除缓冲器延迟。
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