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公开(公告)号:CN108133891A
公开(公告)日:2018-06-08
申请号:CN201611086000.3
申请日:2016-12-01
申请人: 全球能源互联网研究院 , 国网山东省电力公司电力科学研究院 , 国家电网公司
IPC分类号: H01L21/331 , H01L21/265 , H01L29/739 , H01L29/06
CPC分类号: H01L29/66348 , H01L21/265 , H01L29/0607 , H01L29/0684 , H01L29/7397
摘要: 本发明提供了一种沟槽型IGBT及其制备方法,所述制备方法包括向N型衬底中与沟槽栅结构正下方对应的N-漂移区注入P型离子,形成浮置P区;分别在N型衬底的正面和背面淀积金属层,形成发射极和集电极;所述沟槽型IGBT采用上述制备方法制造。与现有技术相比,本发明提供的一种沟槽型IGBT及其制备方法,浮置P区的空穴可以复合掉部分沟槽型IGBT导通过程中的电子,降低沟槽型IGBT的饱和电流,改善沟槽型IGBT的短路特性,改善沟槽下方电场分布,减小沟槽下方电场的集中,从而增强其电压耐受能力。
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公开(公告)号:CN106098572A
公开(公告)日:2016-11-09
申请号:CN201610704091.6
申请日:2016-08-23
申请人: 全球能源互联网研究院 , 国家电网公司 , 国网河北省电力公司
CPC分类号: H01L21/56 , H01L23/291 , H01L23/293 , H01L23/3171
摘要: 本发明提供了一种钝化层制造方法及高压半导体功率器件,所述方法包括通过丝网印刷在高压半导体功率器件上涂覆聚酰亚胺胶;对聚酰亚胺胶进行前烘和固化形成聚酰亚胺保护层;高压半导体功率器件采用上述方法制造。与现有技术相比,本发明提供的一种钝化层制造方法及高压半导体功率器件,不仅提高了半导体功率器件钝化层制造的工作效率并降低了工作成本,还提高了高压半导体功率器件的工作稳定性。
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公开(公告)号:CN106816463A
公开(公告)日:2017-06-09
申请号:CN201710029590.4
申请日:2017-01-16
申请人: 全球能源互联网研究院 , 国家电网公司
CPC分类号: H01L29/404 , H01L29/0623
摘要: 本发明提供了一种终端结构、半导体器件及其制备方法,所述终端结构包括正面终端结构,其设置在衬底的正面;正面终端结构包括多个具有第一导电类型的第一场环、多个具有第二导电类型的第二场环和多个场板;背面终端结构,其设置在衬底的背面;背面终端结构包括多个具有第一导电类型的第三场环和多个具有第二导电类型的第四场环。与现有技术相比,本发明提供的一种终端结构、半导体器件及其制备方法,可以在不改变半导体器件的芯片面积的情况下提高终端结构的击穿电压耐受能力。
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公开(公告)号:CN106298512B
公开(公告)日:2024-05-14
申请号:CN201610842716.5
申请日:2016-09-22
申请人: 全球能源互联网研究院 , 国家电网公司 , 国网浙江省电力公司
IPC分类号: H01L21/329 , H01L29/868 , H01L29/06
摘要: 本发明提供了一种快恢复二极管及其制备方法,所述方法包括向硅衬底的背面注入P型离子形成P型掺杂区,并在背面形成外延层;在硅衬底的正面形成有源区和终端区;对终端区的边缘掺杂N型离子形成截止环,对外延层掺杂N型离子形成N+阴极区;分别对硅衬底的正面和背面淀积金属层,形成金属电极;在硅衬底的背面形成N型缓冲层;所述快恢复二极管采用上述方法制备。与现有技术相比,本发明提供的一种快恢复二极管及其制备方法,可以依据快恢复二极管的性能需求设定P岛和缓冲层之间的位置关系和各个P型掺杂区所占各区域的面积比例,使其具备良好的反向恢复软度和高的可靠性。
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公开(公告)号:CN106783984B
公开(公告)日:2021-12-03
申请号:CN201611026227.9
申请日:2016-11-22
申请人: 全球能源互联网研究院 , 国网上海市电力公司 , 国家电网公司
IPC分类号: H01L29/739 , H01L29/06 , H01L21/331
摘要: 本发明提供了一种双面终端结构、逆导型半导体器件及其制备方法,所述双面终端结构包括衬底、设置在衬底上表面的正面终端区和设置在衬底下表面的背面终端区,该背面终端区包括多个间断的第一导电离子掺杂区;所述逆导型半导体器件包括上述双面终端结构。与现有技术相比,本发明提供的一种双面终端结构、逆导型半导体器件及其制备方法,其终端结构可以在终端面积一定的情况下提高终端的整体耐压,提高终端结构的效率,其背面终端工艺与逆导型IGBT具有一定的兼容性。
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公开(公告)号:CN106783984A
公开(公告)日:2017-05-31
申请号:CN201611026227.9
申请日:2016-11-22
申请人: 全球能源互联网研究院 , 国网上海市电力公司 , 国家电网公司
IPC分类号: H01L29/739 , H01L29/06 , H01L21/331
CPC分类号: H01L29/7395 , H01L29/0603 , H01L29/66333
摘要: 本发明提供了一种双面终端结构、逆导型半导体器件及其制备方法,所述双面终端结构包括衬底、设置在衬底上表面的正面终端区和设置在衬底下表面的背面终端区,该背面终端区包括多个间断的第一导电离子掺杂区;所述逆导型半导体器件包括上述双面终端结构。与现有技术相比,本发明提供的一种双面终端结构、逆导型半导体器件及其制备方法,其终端结构可以在终端面积一定的情况下提高终端的整体耐压,提高终端结构的效率,其背面终端工艺与逆导型IGBT具有一定的兼容性。
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公开(公告)号:CN107516681A
公开(公告)日:2017-12-26
申请号:CN201610424393.8
申请日:2016-06-15
申请人: 全球能源互联网研究院有限公司 , 国家电网公司 , 国网浙江省电力公司
IPC分类号: H01L29/861 , H01L21/329 , H01L29/06
CPC分类号: H01L29/861 , H01L29/0607 , H01L29/6609
摘要: 本发明实施例公开了一种快速恢复二极管及其制备方法,该快速恢复二极管包括:第一导电类型半导体层(2);第二导电类型半导体层(4),其底面与所述第一导电类型半导体层(2)接触以形成PN结;局域寿命控制层(5),设置在所述第二导电类型半导体层(4)内,且所述局域寿命控制层(5)的中心距离所述第二导电类型半导体层(4)的所述底面至少3μm,距离所述第二导电类型半导体层(4)的顶面至少7μm。由此实现了减小反向漏电流和减小反向恢复峰值电流之间的平衡,从而保证了二极管的反向阻断性能和反向恢复。
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公开(公告)号:CN106298512A
公开(公告)日:2017-01-04
申请号:CN201610842716.5
申请日:2016-09-22
申请人: 全球能源互联网研究院 , 国家电网公司 , 国网浙江省电力公司
IPC分类号: H01L21/329 , H01L29/868 , H01L29/06
CPC分类号: H01L29/6609 , H01L29/0684 , H01L29/868
摘要: 本发明提供了一种快恢复二极管及其制备方法,所述方法包括向硅衬底的背面注入P型离子形成P型掺杂区,并在背面形成外延层;在硅衬底的正面形成有源区和终端区;对终端区的边缘掺杂N型离子形成截止环,对外延层掺杂N型离子形成N+阴极区;分别对硅衬底的正面和背面淀积金属层,形成金属电极;在硅衬底的背面形成N型缓冲层;所述快恢复二极管采用上述方法制备。与现有技术相比,本发明提供的一种快恢复二极管及其制备方法,可以依据快恢复二极管的性能需求设定P岛和缓冲层之间的位置关系和各个P型掺杂区所占各区域的面积比例,使其具备良好的反向恢复软度和高的可靠性。
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公开(公告)号:CN107256857B
公开(公告)日:2021-09-10
申请号:CN201710329921.6
申请日:2017-05-11
申请人: 全球能源互联网研究院
IPC分类号: H01L23/538 , H01L21/60
摘要: 本发明提供了一种栅金属汇流条芯片结构设计及其制作方法,芯片结构自下而上依次包括金属电极117、衬底111、长条形元胞掺杂区112、长条梯形多晶栅113和绝缘层116;金属汇流条114 T型设于所述绝缘层116中部,其下表面与所述长条梯形多晶栅113电连接;正面金属电极115对称设嵌于所述绝缘层116上部,与n+/p+掺杂区欧姆接触,与长条梯形多晶栅113和金属汇流条114电隔离。本发明提供的技术方案,可以在不增加工艺步骤的前提下,更改版图结构设计,采用高信号传输速率的金属作为栅汇流条替代原有的多晶栅汇流条,一方面提高功率半导体器件单芯片动态一致性,另一方面增加栅控mos沟道区,提高有源区通流能力。
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公开(公告)号:CN109216472A
公开(公告)日:2019-01-15
申请号:CN201810990583.5
申请日:2018-08-28
申请人: 全球能源互联网研究院有限公司 , 国网山西省电力公司晋城供电公司 , 国家电网有限公司
IPC分类号: H01L29/868 , H01L21/324 , H01L21/265 , H01L21/329
摘要: 本发明涉及半导体技术领域,提供一种快恢复二极管及其制备方法,其中快恢复二极管包括:第一导电类型的衬底;第二导电类型的半导体层,形成在衬底上,第二导电类型与第一导电类型相反;掺杂层,形成在衬底内且与衬底的导电类型相同,掺杂层是通过向衬底注入掺杂离子,并以预定温度退火得到的,预定温度小于500℃。该掺杂层同时兼备寿命阻挡以及寿命控制的作用,在反向阻断状态下,掺杂层能够降低其下方空间电荷区整体电场强度(即,掺杂层,与快恢复二极管的阴极之间的空间电荷区域),减少了电子空穴对的分离能量,从而降低二极管反向阻断状态下的漏电流,降低了快恢复二极管的额定反向电压的损耗。
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