等离子体腔室阵列成像监测装置及空间不均匀性校准方法

    公开(公告)号:CN117457467A

    公开(公告)日:2024-01-26

    申请号:CN202311743459.6

    申请日:2023-12-19

    IPC分类号: H01J37/32

    摘要: 一种等离子体腔室阵列成像监测装置及空间不均匀性校准方法,涉及半导体刻蚀技术领域,解决的技术问题为“开发一种实时监测等离子体放电状态的装置,并对其空间不均匀性进行评估校准”,装置包括:腔室、第一成像监测模块和第二成像监测模块,所述第二成像监测模块与所述第一成像监测模块的轴线垂直;方法包括:通过所述等离子体腔室阵列成像监测装置采集积分光强;基于所述积分光强计算腔室内视线交点光强;通过所述视线交点光强与所述先验分布拟合求解最优分布系数,得到等离子体二维空间分布;评估所述等离子体二维空间分布的不均匀性并校准;该装置及方法通过设置两组相互垂直的光纤形成视线交点,对等离子体不均匀性进行精确的评估校准。

    霍尔推力器通道壁面在轨沉积监测方法及装置

    公开(公告)号:CN118443162A

    公开(公告)日:2024-08-06

    申请号:CN202410923850.2

    申请日:2024-07-11

    摘要: 霍尔推力器通道壁面在轨沉积监测方法及装置,涉及航天器设备监测技术领域。为解决现有技术中存在的,现有的实时监测霍尔推力器通道壁面侵蚀的方法,只能间接监测通道壁面的侵蚀情况,无法直接观测到壁面的沉积状态的技术问题,本发明提供的技术方案为:方法包括:采集霍尔推力器通道壁面的图像信息的步骤;得到图像信息中各个预设点的温度的步骤;根据各个预设点的温度,得到霍尔推力器通道壁面的热辐射功率的步骤;采集霍尔推力器通道壁面的热传导功率的步骤;根据霍尔推力器通道壁面的热辐射功率和热传导功率,得到霍尔推力器通道壁面因沉积获得的热量的功率的步骤。可以应用于监测霍尔推力器通道壁面的沉积状态。

    霍尔推力器通道壁面在轨沉积监测方法及装置

    公开(公告)号:CN118443162B

    公开(公告)日:2024-09-03

    申请号:CN202410923850.2

    申请日:2024-07-11

    摘要: 霍尔推力器通道壁面在轨沉积监测方法及装置,涉及航天器设备监测技术领域。为解决现有技术中存在的,现有的实时监测霍尔推力器通道壁面侵蚀的方法,只能间接监测通道壁面的侵蚀情况,无法直接观测到壁面的沉积状态的技术问题,本发明提供的技术方案为:方法包括:采集霍尔推力器通道壁面的图像信息的步骤;得到图像信息中各个预设点的温度的步骤;根据各个预设点的温度,得到霍尔推力器通道壁面的热辐射功率的步骤;采集霍尔推力器通道壁面的热传导功率的步骤;根据霍尔推力器通道壁面的热辐射功率和热传导功率,得到霍尔推力器通道壁面因沉积获得的热量的功率的步骤。可以应用于监测霍尔推力器通道壁面的沉积状态。

    等离子体腔室阵列成像监测装置及空间不均匀性校准方法

    公开(公告)号:CN117457467B

    公开(公告)日:2024-04-19

    申请号:CN202311743459.6

    申请日:2023-12-19

    IPC分类号: H01J37/32

    摘要: 一种等离子体腔室阵列成像监测装置及空间不均匀性校准方法,涉及半导体刻蚀技术领域,解决的技术问题为“开发一种实时监测等离子体放电状态的装置,并对其空间不均匀性进行评估校准”,装置包括:腔室、第一成像监测模块和第二成像监测模块,所述第二成像监测模块与所述第一成像监测模块的轴线垂直;方法包括:通过所述等离子体腔室阵列成像监测装置采集积分光强;基于所述积分光强计算腔室内视线交点光强;通过所述视线交点光强与所述先验分布拟合求解最优分布系数,得到等离子体二维空间分布;评估所述等离子体二维空间分布的不均匀性并校准;该装置及方法通过设置两组相互垂直的光纤形成视线交点,对等离子体不均匀性进行精确的评估校准。

    低温温度传感器校准的制冷装置
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115900129A

    公开(公告)日:2023-04-04

    申请号:CN202310017762.1

    申请日:2023-01-06

    IPC分类号: F25B21/00 G01K15/00

    摘要: 本发明涉及一种低温温度传感器校准的制冷装置,包括低温冷源,冷量分配器、真空绝热系统和柔性冷链,真空绝热系统设置有多层真空腔,低温冷源依次穿过多层真空腔的外层筒体、中层筒体并通过冷量分配器与内层筒体连接;柔性冷链连接冷量分配器和内层筒体的顶端;低温冷源为电制冷机。本发明,采用电制冷机作为主要的制冷源,通过合理设计冷量分配器,抑制了电制冷机冷源的温度波动,同时实现了对冷量的动态分配,与柔性冷链相结合,分配部分冷量直接传导到校准区的上部,实现了恒温器上部和底部同时降温的效果,克服了制冷机处于下部,只能通过热传导由下而上传递冷量,减小了上下的温度梯度,提高了温度均匀度。

    基于差分法的真空计校准装置及校准方法

    公开(公告)号:CN118129979A

    公开(公告)日:2024-06-04

    申请号:CN202410457443.7

    申请日:2024-04-16

    IPC分类号: G01L27/00

    摘要: 本发明涉及一种基于差分法的真空计校准装置及校准方法,校准装置包括校准室、第一流导元件、第一真空计、被校准真空计、差分管道、差分组件和供气检测组件,差分管道的三个端口分别用于与校准室、抽气管道和供气管道连接,差分组件设置在抽气管道上,包括第二真空计和第二流导元件,供气检测组件设置在供气管道上,包括供气检测真空计和第三流导元件。本发明,通过设置在校准室抽进气口上的差分组件,实现对进气流量的有效差分,将校准下限延伸到10‑7Pa,简化了校准装置的结构和操作方法,减小了装置的体积和重量。

    高真空泵抽速测试装置及其使用方法

    公开(公告)号:CN116398421B

    公开(公告)日:2023-12-19

    申请号:CN202310603958.9

    申请日:2023-05-26

    IPC分类号: F04B51/00 F04B37/14

    摘要: 本发明涉及一种高真空泵抽速测试装置及其使用方法,高真空泵抽速测试装置包括进气管路、测试管路和对比管路,测试管路包括顺序连接的第三阀门、第一测试罩、待测高真空泵、第一前级泵,第一测试罩还连接有第二真空计;对比管路包括顺序连接的第四阀门、第二测试罩、标准流导元件、流导抽气机组,第二测试罩还连接有第三真空计;第一测试罩通过第一阀门、第二阀门与第二测试罩连接,第一阀门与第二阀门之间连接有第一真空计;第一测试罩与第二测试罩为相同的真空容器。本发明,克服了传统测量抽速等效氮气的不足,提高测试精度,减小测量不确定度,提高测试效率,降低测试成本,避免校准真空计和给出等效氮气抽速的结果。

    高真空泵抽速测试装置及其使用方法

    公开(公告)号:CN116398421A

    公开(公告)日:2023-07-07

    申请号:CN202310603958.9

    申请日:2023-05-26

    IPC分类号: F04B51/00 F04B37/14

    摘要: 本发明涉及一种高真空泵抽速测试装置及其使用方法,高真空泵抽速测试装置包括进气管路、测试管路和对比管路,测试管路包括顺序连接的第三阀门、第一测试罩、待测高真空泵、第一前级泵,第一测试罩还连接有第二真空计;对比管路包括顺序连接的第四阀门、第二测试罩、标准流导元件、流导抽气机组,第二测试罩还连接有第三真空计;第一测试罩通过第一阀门、第二阀门与第二测试罩连接,第一阀门与第二阀门之间连接有第一真空计;第一测试罩与第二测试罩为相同的真空容器。本发明,克服了传统测量抽速等效氮气的不足,提高测试精度,减小测量不确定度,提高测试效率,降低测试成本,避免校准真空计和给出等效氮气抽速的结果。