一种高真空下绝缘材料表面电位控制方法

    公开(公告)号:CN115996506A

    公开(公告)日:2023-04-21

    申请号:CN202211464993.9

    申请日:2022-11-22

    摘要: 本发明公开了一种高真空下绝缘材料表面电位控制方法,采用紫外光源辐照绝缘材料试样,使其产生辐射诱导电导率,通过电荷对地泄放的方式将电荷排出。本发明中,采用紫外光源辐照绝缘材料试样,使其产生辐射诱导电导率,通过电荷对地泄放的方式将电荷排出,可有效消除绝缘材料试样表面积累电荷形成的表面电位,无需另外配备电子枪、离子源等价格昂贵的设备,降低了电位控制的成本,无复杂的外部电路设计,增加了测试可靠性;利用紫外辐照方式实现高真空条件下绝缘材料表面电位控制,无需接触样品表面即可完成中和表面电位操作,避免破坏样品表面形貌进而影响其二次电子发射特性,增加了测试稳定性,提高二次电子发射系数测量的准确性。

    适用于微纳卫星的轻小型电离层光度计

    公开(公告)号:CN108613739A

    公开(公告)日:2018-10-02

    申请号:CN201810349603.0

    申请日:2018-04-18

    IPC分类号: G01J1/42

    摘要: 本发明公开了一种适用于微纳卫星平台的电离层光度计,包括中空抛物面反射镜、MCP型抗振探测器及电路板,反射镜与探测器依次设置在电路板上并使入射到反射板上的光线汇聚进探测器中,探测器包括支撑框架以及框架内的BaF2晶体窗口,微通道板,探测器阳极和高压电源,光线经BaF2晶体窗口滤除杂散光后通过微通道板进行光电转换及电子倍增,并经由探测器阳极接收倍增电荷云信号。本发明将现有光度计的重量由5Kg以上减轻为1Kg以下,体积减小50%以上且减少了光子滤光片损失,使仪器灵敏度提高30%以上,适用于批量加工,降低批量化生产成本。

    一种宽范围等离子体密度调节装置

    公开(公告)号:CN101453821B

    公开(公告)日:2011-12-21

    申请号:CN200710195516.6

    申请日:2007-12-04

    IPC分类号: H05H1/24 H05H1/34

    摘要: 本发明是通过在等离子体源出口处增加一套调节装置,来实现等离子体源参数不变的情况下改变输出的等离子体密度。其原理是:等离子体扩散到达密度调节装置的多孔圆盘处,多孔圆盘有对应不同密度的孔栏,只有通过正对孔栏位置的等离子体可以通过。通过调整圆盘正对等离子体源的孔栏,就可控制使不同的孔栏档在等离子体源输出出口处,从而进行等离子体密度的控制。本发明在不改变等离子体源参数的情况下改变输出的等离子体密度。改变的趋势可由使用者在最高不超过等离子体源所达到最大等离子体密度的范围内预先设定,并且可以迅速进行1~2个数量级大小的密度改变。

    光电子发射系数的确定方法及装置

    公开(公告)号:CN116858869A

    公开(公告)日:2023-10-10

    申请号:CN202310821399.9

    申请日:2023-07-05

    IPC分类号: G01N23/22

    摘要: 本申请公开了一种光电子发射系数的确定方法及装置,该方法包括:确定太阳光源在第一辐射能量下的第一全光谱能量值以及紫外光源在第二辐射能量下的第二全光谱能量值;全光谱能量值包括多个不同波长下的辐射能量;根据第一全光谱能量值和第二全光谱能量值确定太阳光源和紫外光源的等效参数;等效参数用于表征太阳光源和紫外光源的辐射能量大小的等效关系;根据等效参数,确定样品材料在紫外光源照射下的发射光电子数量和入射光子数量,根据发射光电子数量和入射光子数量确定样品材料的光电子发射系数。利用与太阳光源等效后的紫外光源照射样品材料,提高了空间材料的光电子发射系数的测量结果的准确性。

    一种航天材料二次电子发射系数测试系统及使用方法

    公开(公告)号:CN116840277A

    公开(公告)日:2023-10-03

    申请号:CN202310734362.2

    申请日:2023-06-20

    IPC分类号: G01N23/2208

    摘要: 一种航天材料二次电子发射系数测试系统,包括进样室、进样室样品台、过渡通道超高真空插板阀、低能电子中和枪、低能电子入射枪、紫外中和光源、分析室、多层栅网探测器模块、离子泵超高真空插板阀、控制系统、离子泵、钛升华泵、可控温多维移动样品台、分子泵、涡旋泵、分子泵超高真空插板阀、安装台座以及磁力耦合传输杆。进样室和分析室均为超高真空工艺制造而成的真空容器,其上预留观察窗、真空测量、抽气泵组、腔室复压、线缆穿舱等各类接口,二者通过过渡通道超高真空插板阀实现通断连接,进样室和分析室均安装于安装台座上,并在旁边设置控制系统,实现对所有部件的控制与数据采集。本发明的系统具有性能指标高、测试功能全等优点。

    二次电子发射系数确定方法和装置

    公开(公告)号:CN116818819A

    公开(公告)日:2023-09-29

    申请号:CN202310822095.4

    申请日:2023-07-05

    IPC分类号: G01N23/2251

    摘要: 本申请公开了一种二次电子发射系数确定方法和装置。所述方法包括:获取样本材料的多个二次电子参数;二次电子参数用于表征材料样品接受电子辐照后产生的二次电子数量,不同的二次电子参数是基于不同的电荷检测方式确定的;根据多个不同的二次电子参数得到材料样品的多个候选二次电子发射系数;确定多个候选二次电子发射系数之间的偏差值,根据偏差值对多个候选二次电子发射系数的进行有效性判断,并根据判断结果确定目标二次电子发射系数。采用本方法能够实现对二次电子发射系数的准确度和有效性的确定,避免单一方式测量导致的二次电子发射系数准确度不确定的情况。

    一种用于电离层光度计的干扰光消除结构及控制方法

    公开(公告)号:CN111765971B

    公开(公告)日:2022-11-22

    申请号:CN202010646316.3

    申请日:2020-07-07

    IPC分类号: G01J3/28 G01J3/02

    摘要: 本发明涉及一种用于电离层光度计的干扰光消除结构,包括电离层光度计反射镜、短波滤光片、分光滤光片、目标光谱探测器、长波干扰光探测器,所述电离层光度计反射镜汇聚的电离层夜气辉辐射光线,首先通过短波滤光片,再通过分光滤光片分光,通过分光滤光片的一部分反射光汇聚到目标光谱探测器,另一部分透射光汇聚到长波干扰光探测器,形成目标光谱信号及干扰光信号两个独立光路,并能同时获取目标光谱信号能量值和干扰光信号能量值。能代替电离层光度计中转动轮滤光方式的滤光系统,从而消除测量错误,实现电离层夜气辉目标光谱信号的准确探测;同时,电机及转动轮结构的去除,也会减少需要的重量、尺寸、功耗资源,降低控制电路的复杂程度。

    集成化空间远紫外辐射探测器及其量子效率测试系统

    公开(公告)号:CN112484849A

    公开(公告)日:2021-03-12

    申请号:CN202011321959.7

    申请日:2020-11-23

    IPC分类号: G01J1/04 G01J1/42

    摘要: 本申请提供集成化空间远紫外辐射探测器及其量子效率测试系统,包括本体及信号采集电路,本体包括屏蔽壳及固定在屏蔽壳内的微通道板组件;微通道板组件包括三层结构层,分别为依次设置的光学窗层、双极联微通道层及微通道板阳极层;光学窗层的底面镀制光阴极,光学窗层采用BaF2晶体材料;三层结构层之间连接有环形绝缘套管;双极联微通道层的一侧分别设延伸至屏蔽壳外侧的输入端及输出端;微通道板阳极层中部设有延伸至屏蔽壳外侧的微通道板阳极,微通道板阳极与信号采集电路连接。本申请的有益效果是:在远紫外探测波段光学窗层材料的选择可以更好地抑制130nm以下的杂散光,在光学窗层的底面镀制光阴极可提高光子利用率降低能量损耗。

    基于电光调制的旋叶式表面电位测量装置

    公开(公告)号:CN106970273B

    公开(公告)日:2019-10-29

    申请号:CN201710201796.0

    申请日:2017-03-30

    IPC分类号: G01R29/12 G01R15/24

    摘要: 本发明公开了一种基于电光调制的旋叶式表面电位测量装置,包括激光器、光纤、电光调制器、旋转叶片、固定叶片等,当对被测表面进行电位测量时,在被测带电体的作用下,当接地旋转叶片旋转时,周期性地遮盖或打开固定叶片,使固定叶片感应出持续的交流信号,并输出至电光调制系统进行检测,激光器发出的光传输至电光调制器,经由所加载的交流信号调制后传输至光电探测器转换为电信号,最终通过信号显示输出装置将电信号进行输出观测,并通过计算最终获得被测物体表面的电位值。本发明将旋叶式测量方法与集成光波导技术相结合,最终实现高灵敏度、高稳定度和高精度的表面电位测量。