一种SRAM型FPGA单粒子辐照试验测试系统及方法

    公开(公告)号:CN103744014B

    公开(公告)日:2016-07-06

    申请号:CN201310724722.7

    申请日:2013-12-24

    IPC分类号: G01R31/3181

    摘要: 本发明提供了一种SRAM型FPGA单粒子辐照试验测试系统及方法,该试验系统包括上位机、电流监测采集板和测试板;电流监控采集板包括电流监控采集FPGA、电流采集单元、供电模块和第一通信接口;测试板包括控制处理FPGA、刷新芯片、SRAM、配置PROM、存储PROM、第二通信接口及被测FPGA;上位机负责流程控制和数据处理;电流监控采集板负责测试板的上电、断电和监测测试FPGA电流;测试板负责处理上位机发送的命令并进行单粒子翻转、单粒子功能中断检测等工作。本发明使用刷新芯片代替现有辐照试验系统中的部分重配模块,可以更方便可靠地对被测芯片进行刷新;且本发明能够实现对触发器进行静态和动态翻转测试,结合两种方法可以得到更可靠的触发器翻转数据。

    一种SRAM型FPGA单粒子辐照试验测试系统及方法

    公开(公告)号:CN103744014A

    公开(公告)日:2014-04-23

    申请号:CN201310724722.7

    申请日:2013-12-24

    IPC分类号: G01R31/3181

    摘要: 本发明提供了一种SRAM型FPGA单粒子辐照试验测试系统及方法,该试验系统包括上位机、电流监测采集板和测试板;电流监控采集板包括电流监控采集FPGA、电流采集单元、供电模块和第一通信接口;测试板包括控制处理FPGA、刷新芯片、SRAM、配置PROM、存储PROM、第二通信接口及被测FPGA;上位机负责流程控制和数据处理;电流监控采集板负责测试板的上电、断电和监测测试FPGA电流;测试板负责处理上位机发送的命令并进行单粒子翻转、单粒子功能中断检测等工作。本发明使用刷新芯片代替现有辐照试验系统中的部分重配模块,可以更方便可靠地对被测芯片进行刷新;且本发明能够实现对触发器进行静态和动态翻转测试,结合两种方法可以得到更可靠的触发器翻转数据。

    基于时间窗口的再入飞行器安全控制方法

    公开(公告)号:CN110764402A

    公开(公告)日:2020-02-07

    申请号:CN201910964678.4

    申请日:2019-10-11

    IPC分类号: G05B9/02

    摘要: 基于时间窗口的再入飞行器安全控制方法,控制器能够对外部输入的多源信号进行可靠采集和灵活应用,按照再入飞行器的实际工作需求,结合轴向过载、气压和法向过载三种外部输入环境信号以及其他系统通过通讯接口传送过来的通讯指令,实现不同状态再入飞行器的安全和解保控制。既能适应传统的两道保险的再入飞行器安全控制需求,也能适应扩展后的三道或四道保险的再入飞行器安全控制需求。同时不同状态的再入飞行器通过设计多路状态识别电路实现辨别。根据不同的再入飞行器状态,兼容实现不同的自毁操作。通过上述两方面实际实现了再入飞行器安全控制系统的通用化和兼容性。