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公开(公告)号：CN114268319B
公开(公告)日：2024-04-02
申请号：CN202111164047.8
申请日：2021-09-30
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号： H03M1/10
摘要： 本发明涉及一种自检测模数转换器误码率测试方法及测试系统，该系统采用电源分析仪为待测模数转换器芯片以及其他器件提供电源信号；工控机通过配置模块将待测模数转换器芯片配置指令按照待测模数转换器芯片所要求的配置时序写入待测模数转换器芯片中；UPS运行监控模块，监测测试评估板上待测模数转换器芯片各供电电源电压，如果任一供电电源电压的抖动大于预设阈值，反馈电源“无效”状态信息给工控机；反之，反馈电源“有效”状态信息给工控机；工控机，当电源处于“有效”状态时，则根据采集运算模块上传的数据进行误码率统计，否则，丢弃采集运算模块上传的数据，直到参与误码率统计的总数据量达到要求或误码率已超出阈值后，停止误码率测试。
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公开(公告)号：CN115356616A
公开(公告)日：2022-11-18
申请号：CN202210901130.7
申请日：2022-07-28
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
摘要： 一种高速高精度模数转换器片间同步性能检测系统及方法，核心在于FPGA模块接收上位机的采集控制信号，控制四片ADC同时采集同步输入的模拟正弦信号，波形数据上传上位机进行FFT及相位计算，记录信噪比参数值及其与校准ADC之间的相位差并使之与芯片编号对应，待整批次芯片测试完后，对二维数据点集合聚类分析，确定二维数据点集合的最终聚类中心K1与K2，再根据工程实际需求确定相位差距离值D和SNR最小值，计算筛选出与最终聚类中心K1距离小于D且SNR高于最小值要求的二维数据点,通过二维数据点与芯片编号一一对应的关系从整个批次中进行分拣，最终获得两个子批次，每个子批次内的芯片同步性能及SNR指标均能满足指定的工程实际需求，至此完成检测。
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公开(公告)号：CN109120264A
公开(公告)日：2019-01-01
申请号：CN201810847080.2
申请日：2018-07-27
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号： H03M1/10
摘要： 一种吉赫兹模数转换器自动测试系统及方法，该测试系统主要包括：直流电源分析仪、两个信号源、信号源、时钟源、开关滤波器组、逻辑分析仪、SPI控制模块、测试评估板、交换机、测试服务器、显示器、机柜。通过USB线将SPI控制模块连接至测试服务器，通过LAN总线将各虚拟仪器、测试服务器连接至交换机后放置于机柜中。基于TestStand和LabView编写上位机软件完成对虚拟仪器、模块的控制及转换器全参数特性评估，将测试结果保存并显示至显示器上，最终实现吉赫兹模数转换器的自动测试。本发明能够简化测试流程，增加吉赫兹模数转换器可测参数的数量，提高测试效率，减少测试系统软件维护成本，同时，该测试系统具有良好的兼容性和灵活性。
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公开(公告)号：CN110995215B
公开(公告)日：2023-08-29
申请号：CN201911295939.4
申请日：2019-12-16
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号： H03K5/24
摘要： 本发明公开了一种可调增益的高速高精度比较器电路，包括偏置电路、前置预放大器、两级再放大器、Latch锁存器、FUSE电路、偏置电路和时钟电路。前置放大器将差分模拟微小信号识别并放大，得到初次放大的模拟电压信号输出给两级再放大器进行放大；Latch锁存器将两级再放大器的输出信号锁存；时钟电路为Latch锁存器提供时钟信号；FUSE电路可调整偏置电路的静态工作状态，改变输出电流，调整偏置电路的输出电压，进而调整前置放大器和两级再放大器的增益、带宽。本发明采用FUSE修调技术，可以根据实际情况，调整高速高精度比较器的性能指标，提高比较器电路的灵活性，实现了自适应带宽和增益调整。
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公开(公告)号：CN111158280A
公开(公告)日：2020-05-15
申请号：CN201911371005.4
申请日：2019-12-26
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号： G05B19/042
摘要： 一种高精度模数转换器熔丝自动烧录系统及方法，属于数模转换器技术领域。本发明FPGA模块接收上位机通过USB转SPI控制器发送的烧录控制信号及按预设顺序排列的熔丝阵列中每一位熔丝的烧录码流数据，生成控制指令并发送至烧录模块；所述控制指令包括烧录控制信号和熔丝阵列的烧录码流数据，以及工作控制信号；烧录模块包括修调码烧录电路和待烧录ADC芯片；修调码烧录电路接收控制指令，并转发至待烧录ADC芯片；待烧录ADC芯片根据控制指令中的烧录控制信号，进入烧录状态，并将控制指令中的熔丝阵列的烧录码流数据按位发送到待烧录ADC芯片的接收管脚上，待烧录ADC芯片按位烧录每根熔丝，实现整个待烧录ADC芯片熔丝阵列的烧录。
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公开(公告)号：CN114268319A
公开(公告)日：2022-04-01
申请号：CN202111164047.8
申请日：2021-09-30
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号： H03M1/10
摘要： 本发明涉及一种自检测模数转换器误码率测试方法及测试系统，该系统采用电源分析仪为待测模数转换器芯片以及其他器件提供电源信号；工控机通过配置模块将待测模数转换器芯片配置指令按照待测模数转换器芯片所要求的配置时序写入待测模数转换器芯片中；UPS运行监控模块，监测测试评估板上待测模数转换器芯片各供电电源电压，如果任一供电电源电压的抖动大于预设阈值，反馈电源“无效”状态信息给工控机；反之，反馈电源“有效”状态信息给工控机；工控机，当电源处于“有效”状态时，则根据采集运算模块上传的数据进行误码率统计，否则，丢弃采集运算模块上传的数据，直到参与误码率统计的总数据量达到要求或误码率已超出阈值后，停止误码率测试。
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公开(公告)号：CN111158280B
公开(公告)日：2021-09-21
申请号：CN201911371005.4
申请日：2019-12-26
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号： G05B19/042
摘要： 一种高精度模数转换器熔丝自动烧录系统及方法，属于数模转换器技术领域。本发明FPGA模块接收上位机通过USB转SPI控制器发送的烧录控制信号及按预设顺序排列的熔丝阵列中每一位熔丝的烧录码流数据，生成控制指令并发送至烧录模块；所述控制指令包括烧录控制信号和熔丝阵列的烧录码流数据，以及工作控制信号；烧录模块包括修调码烧录电路和待烧录ADC芯片；修调码烧录电路接收控制指令，并转发至待烧录ADC芯片；待烧录ADC芯片根据控制指令中的烧录控制信号，进入烧录状态，并将控制指令中的熔丝阵列的烧录码流数据按位发送到待烧录ADC芯片的接收管脚上，待烧录ADC芯片按位烧录每根熔丝，实现整个待烧录ADC芯片熔丝阵列的烧录。
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公开(公告)号：CN110995215A
公开(公告)日：2020-04-10
申请号：CN201911295939.4
申请日：2019-12-16
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号： H03K5/24
摘要： 本发明公开了一种可调增益的高速高精度比较器电路，包括偏置电路、前置预放大器、两级再放大器、Latch锁存器、FUSE电路、偏置电路和时钟电路。前置放大器将差分模拟微小信号识别并放大，得到初次放大的模拟电压信号输出给两级再放大器进行放大；Latch锁存器将两级再放大器的输出信号锁存；时钟电路为Latch锁存器提供时钟信号；FUSE电路可调整偏置电路的静态工作状态，改变输出电流，调整偏置电路的输出电压，进而调整前置放大器和两级再放大器的增益、带宽。本发明采用FUSE修调技术，可以根据实际情况，调整高速高精度比较器的性能指标，提高比较器电路的灵活性，实现了自适应带宽和增益调整。
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公开(公告)号：CN116625534A
公开(公告)日：2023-08-22
申请号：CN202310417073.X
申请日：2023-04-18
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
摘要： 一种具有失调调节功能的温度传感器电路，包括感温核电路、10位SAR ADC、一级转换寄存器、二级输出寄存器、上下限寄存器、失调校准寄存器、加法器、比较器。感温核电路用于感知温度对应的电压值，经10位SAR ADC进行数字化转换，所得10位二进制数字码储存在一级转换寄存器中；10位二进制数字码与失调校准寄存器中存储的8位数字码通过加法器修正温度转换值，校准后的10位数字码储存在二级输出寄存器中并向外输出，通过比较器将二级输出寄存器中的数据和上下限寄存器中的数据进行比较，得到温度指示端INT的输出信号，防止芯片过热烧毁或低温损坏。本发明解决当前温度传感器温度失调调节困难、工作范围窄、体积大、功耗高等难题。
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