一种基于多芯片封装技术的微型可编程片上计算机

    公开(公告)号:CN111209246B

    公开(公告)日:2023-10-10

    申请号:CN201911360795.6

    申请日:2019-12-25

    IPC分类号: G06F15/78 H01L25/18 H10B80/00

    摘要: 一种基于多芯片封装技术的微型可编程片上计算机,包括核心处理器、SRAM、SDRAM、FLASH、FPGA、多层有机基板和塑封体。FLASH内存储事先编写好或调试好的程序,在系统上电后,由自主引导程序读入到SRAM或SDRAM中;核心处理器进行计算和处理,并通过接口与外部通信;FPGA实现定制化或特殊的需求;核心处理器、SRAM、SDRAM、FLASH和FPGA都是集成电路裸芯,集成电路裸芯与多层有机基板通过引线键合方式或倒装焊方式连接,各个集成电路裸芯根据功能设计互连关系,互连关系在多层有机基板上通过布线实现,最后用塑封体灌封。本发明将原有单板级嵌入式计算机缩减至一个传统芯片的大小实现,大大减小了体积和重量,降低了功耗,提高了集成度和通用性。

    一种基于多芯片封装技术的微型可编程片上计算机

    公开(公告)号:CN111209246A

    公开(公告)日:2020-05-29

    申请号:CN201911360795.6

    申请日:2019-12-25

    IPC分类号: G06F15/78 H01L25/18

    摘要: 一种基于多芯片封装技术的微型可编程片上计算机,包括核心处理器、SRAM、SDRAM、FLASH、FPGA、多层有机基板和塑封体。FLASH内存储事先编写好或调试好的程序,在系统上电后,由自主引导程序读入到SRAM或SDRAM中;核心处理器进行计算和处理,并通过接口与外部通信;FPGA实现定制化或特殊的需求;核心处理器、SRAM、SDRAM、FLASH和FPGA都是集成电路裸芯,集成电路裸芯与多层有机基板通过引线键合方式或倒装焊方式连接,各个集成电路裸芯根据功能设计互连关系,互连关系在多层有机基板上通过布线实现,最后用塑封体灌封。本发明将原有单板级嵌入式计算机缩减至一个传统芯片的大小实现,大大减小了体积和重量,降低了功耗,提高了集成度和通用性。

    基于片上嵌入式微系统及其内部FPGA资源内建自测试方法

    公开(公告)号:CN108319526B

    公开(公告)日:2021-09-21

    申请号:CN201711363686.0

    申请日:2017-12-18

    IPC分类号: G06F11/22

    摘要: 一种基于片上嵌入式微系统及其内部FPGA资源内建自测试方法,针对微系统芯片内部FPGA资源进行测试。考虑单片FPGA资源利用率的限制,每种待测资源分别对应多个测试文件,所有测试文件存储于嵌入式微系统存储器中。依据测试顺序,通过嵌入式微系统内部处理器模拟SelectMAP时序将测试文件分时加载。测试文件还可通过内部处理器实现在线更新。测试过程中对应的FPGA输入输出信号亦由微系统内部处理器提供或检测。本发明方法依靠微系统芯片自身资源实现对微系统内部FPGA的功能测试,无需外部复杂的控制和存储器件,亦不需要大型测试设备,极大简化了系统设计。采用SelectMap模式加载,测试效率得到大幅提高。测试文件还可在线更新,使得测试系统更加灵活。

    一种基于SIP模块的老炼方法

    公开(公告)号:CN103823139B

    公开(公告)日:2016-04-20

    申请号:CN201410067879.1

    申请日:2014-02-27

    IPC分类号: G01R31/00

    摘要: 本发明涉及一种基于SIP模块的老炼方法,在老炼箱中实现,本发明基于含处理器模块CPU、程序运行空间模块、FPGA、非易失性存储器FLASH的SIP模块,设计了一种将老炼程序烧写入SIP模块,上电程序自动运行,并自动对FPGA模块配置,老炼过程中通过各个模块的运行、访问、控制均在被测的SIP模块内部执行的老炼方法,其中SIP模块与老炼箱之间连接电路简单,本发明方法充分利用SIP模块自身功能实现了SIP模块的老炼,大大减小了SIP模块与老炼系统之间连接电路的复杂性,降低老炼过程中外围电路对SIP模块的影响,同时也方便了故障分析。

    一种基于片上嵌入式微系统及其内部FPGA资源内建自测试方法

    公开(公告)号:CN108319526A

    公开(公告)日:2018-07-24

    申请号:CN201711363686.0

    申请日:2017-12-18

    IPC分类号: G06F11/22

    摘要: 一种基于片上嵌入式微系统及其内部FPGA资源内建自测试方法,针对微系统芯片内部FPGA资源进行测试。考虑单片FPGA资源利用率的限制,每种待测资源分别对应多个测试文件,所有测试文件存储于嵌入式微系统存储器中。依据测试顺序,通过嵌入式微系统内部处理器模拟SelectMAP时序将测试文件分时加载。测试文件还可通过内部处理器实现在线更新。测试过程中对应的FPGA输入输出信号亦由微系统内部处理器提供或检测。本发明方法依靠微系统芯片自身资源实现对微系统内部FPGA的功能测试,无需外部复杂的控制和存储器件,亦不需要大型测试设备,极大简化了系统设计。采用SelectMap模式加载,测试效率得到大幅提高。测试文件还可在线更新,使得测试系统更加灵活。