在金刚石衬底上制备GaN薄膜的方法

    公开(公告)号:CN114284132A

    公开(公告)日:2022-04-05

    申请号:CN202111548864.3

    申请日:2021-12-17

    Applicant: 南京大学

    Abstract: 本发明公开了一种在金刚石衬底上制备GaN薄膜的方法,在常规衬底上生长GaN纳米柱,在GaN纳米柱上生长多晶金刚石薄膜,除去常规衬底,以多晶金刚石薄膜为衬底,以多晶金刚石薄膜上的GaN纳米柱为成核层,在其上生长GaN薄膜。本发明利用了基于金刚石衬底的GaN纳米柱形成成核层,以生长后的金刚石薄膜作为衬底,去除硅后,金刚石薄膜上集成了GaN纳米柱,以GaN纳米柱作为中间层生长GaN薄膜,由于GaN纳米柱能够极大的缓解GaN和金刚石衬底之间的晶格失配产生的应力,可以避免金刚石衬底直接外延GaN薄膜的应力和晶格取向问题,有利于金刚石薄膜的均匀性,提高形核密度。从而获得高质量的GaN薄膜。

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