半导体器件中的栅极结构的轮廓
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119894048A

    公开(公告)日:2025-04-25

    申请号:CN202411146060.4

    申请日:2024-08-20

    Abstract: 本公开涉及半导体器件中的栅极结构的轮廓。公开了一种半导体器件及制造半导体器件的方法。半导体器件包括衬底、设置在衬底上的半导体层、与半导体层相邻设置的源极/漏极区域、设置在半导体层上的栅极结构、沿栅极结构的侧壁设置的具有三角形横截面轮廓的界面间隔件层、以及栅极间隔件。栅极间隔件包括第一间隔件部分和第二间隔件部分,第一间隔件部分包括设置在半导体层上的具有基本上线性轮廓的第一底表面,第二间隔件部分包括设置在界面间隔件层上的具有倾斜轮廓的第二底表面。

    半导体元件
    5.
    实用新型

    公开(公告)号:CN220963354U

    公开(公告)日:2024-05-14

    申请号:CN202322295534.9

    申请日:2023-08-25

    Abstract: 一种半导体元件,包含第一鳍片以及第一介电结构。第一鳍片于半导体基材上方。第一介电结构于半导体基材上方并相邻于第一鳍片,其中第一介电结构具有带锥角的凸形轮廓,锥角在35度至50度的范围内,第一介电结构具有随着第一介电结构远离半导体基材延伸而变小的宽度。

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