一种基于正弦、余弦信号移相的损耗标准器及其控制方法

    公开(公告)号:CN118980863A

    公开(公告)日:2024-11-19

    申请号:CN202411064395.1

    申请日:2024-08-05

    IPC分类号: G01R27/26 G08C17/02

    摘要: 本申请为一种基于正弦、余弦信号移相的损耗标准器及其控制方法,属于介质损耗测量领域,针对现有常用的高压介质损耗标准器存在测试局限性的问题,一种基于正弦、余弦信号移相的损耗标准器,包括基于正弦、余弦信号的移相电路,移相电路包括高压电阻、第一低压电阻、第二低压电阻、高压标准电容器、第一放大器、第二放大器、电阻器和第三放大器,高压电阻连接在第二放大器与待取样电压之间,第一低压电阻连接在高压电阻和第二放大器之间,第二低压电阻连接在高压标准电容器与第二放大器之间,第一放大器、第二放大器均连接电阻器,第三放大器与电阻器相连。测量范围广、模拟精度、稳定性高,采用总控单元控制,整个测量简便、安全。

    一种紫外成像仪灵敏度的检测系统及方法

    公开(公告)号:CN110987372B

    公开(公告)日:2021-09-21

    申请号:CN201911155987.3

    申请日:2019-11-22

    IPC分类号: G01M11/02

    摘要: 本发明公开了一种紫外成像仪灵敏度的检测系统及方法。本发明的检测系统包括光源、衰减片、积分球和光功率计;所述的光源为光强可调紫外光源;所述的衰减片与积分球组成衰减系统;所述的积分球设有入光孔、第一出光孔和第二出光孔,所述的入光孔处放置光源,第二出光孔处放置光功率计;所述的入光孔上放置第一衰减片,第一出光孔上放置第二衰减片;光源信号通过第一衰减片后进入积分球,在积分球内再次衰减后射出,经第二衰减片后进入待测设备。本发明实现了紫外成像仪最低探测灵敏度的精确检测。本发明利用积分球均匀光源的特性,可以避免衰减片叠加使用过程中造成的光衰减不定量、衰减后光强分布不均匀等问题。

    一种紫外成像仪灵敏度的检测系统及方法

    公开(公告)号:CN110987372A

    公开(公告)日:2020-04-10

    申请号:CN201911155987.3

    申请日:2019-11-22

    IPC分类号: G01M11/02

    摘要: 本发明公开了一种紫外成像仪灵敏度的检测系统及方法。本发明的检测系统包括光源、衰减片、积分球和光功率计;所述的光源为光强可调紫外光源;所述的衰减片与积分球组成衰减系统;所述的积分球设有入光孔、第一出光孔和第二出光孔,所述的入光孔处放置光源,第二出光孔处放置光功率计;所述的入光孔上放置第一衰减片,第一出光孔上放置第二衰减片;光源信号通过第一衰减片后进入积分球,在积分球内再次衰减后射出,经第二衰减片后进入待测设备。本发明实现了紫外成像仪最低探测灵敏度的精确检测。本发明利用积分球均匀光源的特性,可以避免衰减片叠加使用过程中造成的光衰减不定量、衰减后光强分布不均匀等问题。

    一种功率模块液冷散热封装结构

    公开(公告)号:CN117497497B

    公开(公告)日:2024-05-10

    申请号:CN202311842265.1

    申请日:2023-12-29

    摘要: 本发明属于半导体器件技术领域,具体涉及一种功率模块液冷散热封装结构。针对现有碳化硅功率模块散热效率较低的不足,本发明采用如下技术方案:一种功率模块液冷散热封装结构,包括DBC陶瓷基板;功率芯片;内铜层,形成流经功率芯片的内冷却通道;外铜层,形成外冷却通道;冷却液,在内冷却通道和外冷却通道流动;引线,一端连接功率芯片,另一端经内铜层、DBC陶瓷基板引出;DBC陶瓷基板、内铜层、功率芯片、外铜层沿厚度方向层叠分布并连接为一个整体。本发明的有益效果是:提高了散热效率,降低了不同面的温度差,提升功率芯片工作可靠性;相比现有的双面水冷散热结构,外铜层可以直接形成封装结构的外表面。