金属沉积方法
    2.
    发明公开
    金属沉积方法 审中-实审

    公开(公告)号:CN115516603A

    公开(公告)日:2022-12-23

    申请号:CN202180033839.3

    申请日:2021-03-09

    发明人: S·马利克

    摘要: 本公开关于一种将导电金属沉积进沟槽或孔洞中的方法,其中,该沟槽或孔洞被介电膜围绕。该方法包括:a)提供介电膜;b)在该介电膜的顶部沉积抗蚀剂层;c)使用光化辐射或电子束或x射线来图案化该抗蚀剂层,以形成沟槽或孔洞;d)通过蚀刻将该抗蚀剂层中所产生的图案转印至下面的介电膜;及e)用导电金属填充该介电膜中所产生的图案,以形成具有填充导电金属的沟槽或填充导电金属的孔洞的介电膜。

    剥离方法
    7.
    发明授权

    公开(公告)号:CN109983560B

    公开(公告)日:2023-06-20

    申请号:CN201780070832.2

    申请日:2017-11-15

    IPC分类号: H01L21/30 H01L21/311 G03F7/42

    摘要: 本发明涉及一种用于剥离图案化半导体衬底上的有机膜的方法。所述方法包括在一个步骤中以水性剥离剂组合物处理所述有机膜以移除所述有机膜。所述有机膜包括至少第一层和第二层,所述第一层在25℃在显影剂中具有至多约0.01μm/分钟的溶解速率,且所述第二层在25℃在所述显影剂中具有大于约0.01μm/分钟的溶解速率。

    剥离方法
    8.
    发明公开
    剥离方法 审中-实审

    公开(公告)号:CN109983560A

    公开(公告)日:2019-07-05

    申请号:CN201780070832.2

    申请日:2017-11-15

    IPC分类号: H01L21/30 H01L21/311 G03F7/42

    摘要: 本发明涉及一种用于剥离图案化半导体衬底上的有机膜的方法。所述方法包括在一个步骤中以水性剥离剂组合物处理所述有机膜以移除所述有机膜。所述有机膜包括至少第一层和第二层,所述第一层在25℃在显影剂中具有至多约0.01μ/分钟的溶解速率,且所述第二层在25℃在所述显影剂中具有大于约0.01μ/分钟的溶解速率。