集成电路及其制作与操作方法

    公开(公告)号:CN106298786A

    公开(公告)日:2017-01-04

    申请号:CN201510317842.4

    申请日:2015-06-11

    IPC分类号: H01L27/115 G11C16/10

    摘要: 一种集成电路包括含有记忆晶体管的立体NAND存储器阵列、多条位线,不同的位线耦接至立体NAND存储器阵列的不同部位,以及位于半导体叠层中的多个晶体管对。半导体叠层中的不同层包括多个晶体管对中的不同的晶体管对。每一个晶体管对包含第一晶体管和第二晶体管。其中,第一晶体管包括第一和第三源极/漏极端点;第二晶体管包括第二和第三源极/漏极端点。第一源极/漏极端点电性耦接至一擦除电压线。第二源极/漏极端点电性耦接至多条写入/读取电压线中相对应的一条。第三源极/漏极端点电性耦接至多条位线中相对应的一条。

    与式闪存存储器
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN112530495B

    公开(公告)日:2024-02-09

    申请号:CN201910916453.1

    申请日:2019-09-26

    IPC分类号: G11C16/10 G11C16/14 G11C16/24

    摘要: 本发明公开了一种与式闪存存储器,该与式闪存存储器包括存储单元阵列、多个页缓冲器以及多个电压偏移电路。存储单元阵列耦接多条位线以及源极线。页缓冲器分别通过多个开关以耦接至位线,并分别提供多个控制信号。其中,控制信号在第一电压与参考电压之间转态。电压偏移电路分别接收控制信号并偏移控制信号的电压值以产生多个驱动信号,并分别提供驱动信号至位线。其中,驱动信号在第二电压与参考电压之间转态,第二电压大于第一电压。

    与式闪存存储器
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112530495A

    公开(公告)日:2021-03-19

    申请号:CN201910916453.1

    申请日:2019-09-26

    IPC分类号: G11C16/10 G11C16/14 G11C16/24

    摘要: 本发明公开了一种与式闪存存储器,该与式闪存存储器包括存储单元阵列、多个页缓冲器以及多个电压偏移电路。存储单元阵列耦接多条位线以及源极线。页缓冲器分别通过多个开关以耦接至位线,并分别提供多个控制信号。其中,控制信号在第一电压与参考电压之间转态。电压偏移电路分别接收控制信号并偏移控制信号的电压值以产生多个驱动信号,并分别提供驱动信号至位线。其中,驱动信号在第二电压与参考电压之间转态,第二电压大于第一电压。

    集成电路及其制作与操作方法

    公开(公告)号:CN106298786B

    公开(公告)日:2019-05-07

    申请号:CN201510317842.4

    申请日:2015-06-11

    摘要: 一种集成电路包括含有记忆晶体管的立体NAND存储器阵列、多条位线,不同的位线耦接至立体NAND存储器阵列的不同部位,以及位于半导体叠层中的多个晶体管对。半导体叠层中的不同层包括多个晶体管对中的不同的晶体管对。每一个晶体管对包含第一晶体管和第二晶体管。其中,第一晶体管包括第一和第三源极/漏极端点;第二晶体管包括第二和第三源极/漏极端点。第一源极/漏极端点电性耦接至一擦除电压线。第二源极/漏极端点电性耦接至多条写入/读取电压线中相对应的一条。第三源极/漏极端点电性耦接至多条位线中相对应的一条。