电路基板及半导体装置
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107408538A

    公开(公告)日:2017-11-28

    申请号:CN201680012836.0

    申请日:2016-08-01

    IPC分类号: H01L23/13 H05K1/02

    摘要: 本发明提高电路基板的TCT特性。电路基板具备具有第1、2面的陶瓷基板和介由第1、2接合层与第1、2面接合的第1、2金属板。陶瓷基板的3点弯曲强度为500MPa以上。第1接合层的第1伸出部的L1/H1、及第2接合层的第2伸出部的L2/H2中的至少一者为0.5以上且3.0以下。第1伸出部的10处的第1维氏硬度的平均值及第2伸出部的10处的第2维氏硬度的平均值中的至少一者为250以下。

    电路基板及半导体装置
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110690187A

    公开(公告)日:2020-01-14

    申请号:CN201911132791.2

    申请日:2016-08-01

    摘要: 本发明提高电路基板的TCT特性。电路基板具备具有第1、2面的陶瓷基板和介由第1、2接合层与第1、2面接合的第1、2金属板。陶瓷基板的3点弯曲强度为500MPa以上。第1接合层的第1伸出部的L1/H1、及第2接合层的第2伸出部的L2/H2中的至少一者为0.5以上且3.0以下。第1伸出部的10处的第1维氏硬度的平均值及第2伸出部的10处的第2维氏硬度的平均值中的至少一者为250以下。

    电路基板及半导体装置
    6.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107408538B

    公开(公告)日:2019-12-20

    申请号:CN201680012836.0

    申请日:2016-08-01

    IPC分类号: H01L23/13 H05K1/02

    摘要: 本发明提高电路基板的TCT特性。电路基板具备具有第1、2面的陶瓷基板和介由第1、2接合层与第1、2面接合的第1、2金属板。陶瓷基板的3点弯曲强度为500MPa以上。第1接合层的第1伸出部的L1/H1、及第2接合层的第2伸出部的L2/H2中的至少一者为0.5以上且3.0以下。第1伸出部的10处的第1维氏硬度的平均值及第2伸出部的10处的第2维氏硬度的平均值中的至少一者为250以下。

    陶瓷电路基板及采用其的半导体装置

    公开(公告)号:CN116830813A

    公开(公告)日:2023-09-29

    申请号:CN202280012540.4

    申请日:2022-02-10

    IPC分类号: H05K3/38

    摘要: 本发明提供一种经由接合层将陶瓷基板与金属板接合的陶瓷电路基板,当在由陶瓷电路基板的厚度方向和侧方向形成的剖面上观察陶瓷电路基板时,金属板的侧面具有倾斜形状,接合层具有从金属板的侧面和接合层相接的端部突出来20[μm]以上且150[μm]以下的接合层突出部。此外,控制金属板的侧面的形状及维氏硬度。此外,陶瓷基板优选为氮化硅基板。