发光装置
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN108963105B

    公开(公告)日:2020-11-24

    申请号:CN201810710610.9

    申请日:2015-02-26

    Abstract: 本公开涉及一种发光装置,该发光装置包括第一柔性衬底、第二柔性衬底、缓冲层、第一裂缝抑制层以及发光元件,第一柔性衬底的第一面和第二柔性衬底的第二面相对,缓冲层及第一裂缝抑制层设置在第一柔性衬底的第一面上,缓冲层和第一裂缝抑制层相互重叠,发光元件设置在第二柔性衬底的第二面上。

    半导体装置
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105702745B

    公开(公告)日:2019-07-23

    申请号:CN201610219709.X

    申请日:2010-03-29

    Abstract: 本公开的发明名称为“半导体装置”。本发明提供半导体装置。在一些情况下,阈值电压在薄膜晶体管的制造过程中沿负或正方向偏移某个未指定因子。如果离0 V的偏移量很大,则驱动电压增加,这引起半导体装置的功耗的增加。因此,具有良好平坦度的树脂层作为覆盖氧化物半导体层的第一保护绝缘膜而形成,然后第二保护绝缘膜通过低功率条件下的溅射方法或者等离子体CVD方法在树脂层之上形成。此外,为了将阈值电压调整到预期值,栅电极设置在氧化物半导体层之上和之下。

    半导体装置
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105789221A

    公开(公告)日:2016-07-20

    申请号:CN201610219710.2

    申请日:2010-03-29

    Abstract: 本公开的发明名称为“半导体装置”。本发明提供半导体装置。在一些情况下,阈值电压在薄膜晶体管的制造过程中沿负或正方向偏移某个未指定因子。如果离0 V的偏移量很大,则驱动电压增加,这引起半导体装置的功耗的增加。因此,具有良好平坦度的树脂层作为覆盖氧化物半导体层的第一保护绝缘膜而形成,然后第二保护绝缘膜通过低功率条件下的溅射方法或者等离子体CVD方法在树脂层之上形成。此外,为了将阈值电压调整到预期值,栅电极设置在氧化物半导体层之上和之下。

    发光装置
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108963105A

    公开(公告)日:2018-12-07

    申请号:CN201810710610.9

    申请日:2015-02-26

    Abstract: 本公开涉及一种发光装置,该发光装置包括第一柔性衬底、第二柔性衬底、缓冲层、第一裂缝抑制层以及发光元件,第一柔性衬底的第一面和第二柔性衬底的第二面相对,缓冲层及第一裂缝抑制层设置在第一柔性衬底的第一面上,缓冲层和第一裂缝抑制层相互重叠,发光元件设置在第二柔性衬底的第二面上。

    半导体装置
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105702745A

    公开(公告)日:2016-06-22

    申请号:CN201610219709.X

    申请日:2010-03-29

    Abstract: 本公开的发明名称为“半导体装置”。本发明提供半导体装置。在一些情况下,阈值电压在薄膜晶体管的制造过程中沿负或正方向偏移某个未指定因子。如果离0 V的偏移量很大,则驱动电压增加,这引起半导体装置的功耗的增加。因此,具有良好平坦度的树脂层作为覆盖氧化物半导体层的第一保护绝缘膜而形成,然后第二保护绝缘膜通过低功率条件下的溅射方法或者等离子体CVD方法在树脂层之上形成。此外,为了将阈值电压调整到预期值,栅电极设置在氧化物半导体层之上和之下。

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