公开(公告)号：CN109923372B

公开(公告)日：2021-12-21

申请号：CN201780065812.6

申请日：2017-10-24

Applicant: 特里纳米克斯股份有限公司

Inventor： S·瓦鲁施 ,  R·森德 ,  I·布鲁德 ,  W·赫尔梅斯

IPC: G01C3/00 ,  G01S7/481 ,  H01L27/30

Abstract: 本发明涉及一种光学检测器(110)，用于光学检测，特别是红外光谱范围内的辐射的光学检测，具体地说，涉及感测对象(112)的至少一种光学可设想的特性。更具体地，光学检测器(110)可以用于确定至少一个对象(112)的透射率、吸收、发射、反射率和/或位置。此外，本发明涉及用于制造光学检测器(110)的方法以及光学检测器(110)的各种用途。光学检测器(110)包括：具有至少第一表面(116)和第二表面(118)的光学滤波器(114)，第二表面(118)相对于第一表面(116)相对设置，其中光学滤波器(114)被设计用于允许由第一表面(116)接收的入射光束(120)穿过光学滤波器(114)到达第二表面(118)，从而通过修改入射光束(120)的光谱成分来生成修改光束(122)；‑传感器层(128)，其包括沉积在光学滤波器(114)的第二表面(118)上的光敏材料(130)，其中传感器层(128)设计成以取决于修改光束(122)对于传感器层(128)的照射的方式来生成至少一个传感器信号；以及‑评估设备(140)，其被设计为通过评估传感器信号来生成由入射光束(120)提供的至少一信息项。光学检测器(110)构成改进的简单、成本有效且仍然可靠的检测器，该检测器用于检测光学辐射，特别是在红外光谱范围内，特别是关于感测透射率、吸收、发射和反射率中的至少一个。因此，光学检测器(110)能够尽可能有效地去除杂散光。

公开(公告)号：CN112105897A

公开(公告)日：2020-12-18

申请号：CN201980031385.9

申请日：2019-05-10

Applicant: 特里纳米克斯股份有限公司

Inventor： S·瓦鲁施 ,  W·赫尔梅斯 ,  R·森德 ,  R·古斯特 ,  B·福伊尔施泰因 ,  I·布鲁德

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/12 ,  G01J1/02

Abstract: 公开了光谱仪装置(110)。光谱仪装置(110)包括：至少一个滤波元件(114)，其适于将至少一个入射光束分离成组分波长的光谱；至少一个传感器元件(140)，其具有光学传感器(116、142)的矩阵，每个光学传感器(116、142)具有光敏区域，其中每个光学传感器(116、142)被配置为响应于从至少一个对象(112)传播到光谱仪的至少一个光束对光敏区域的照射而产生至少一个传感器信号，其中光学传感器(116、142)中的至少一个第一光学传感器适于响应于被第一组分波长照射而产生第一传感器信号，并且其中光学传感器(116、142)中的至少一个第二光学传感器适于响应于被第一组分波长照射而产生第二传感器信号；至少一个评估装置(120)，其被配置为通过评估第一传感器信号和第二传感器信号的组合信号Q，确定对象(112)的至少一个纵向坐标z，其中评估装置(120)被配置为通过在考虑所确定的纵向坐标z的情况下执行至少一种光谱分析来评估由光学传感器矩阵中的光学传感器(116、142)产生的至少一个传感器信号。

公开(公告)号：CN109923372A

公开(公告)日：2019-06-21

申请号：CN201780065812.6

申请日：2017-10-24

Applicant: 特里纳米克斯股份有限公司

Inventor： S·瓦鲁施 ,  R·森德 ,  I·布鲁德 ,  W·赫尔梅斯

IPC: G01C3/00 ,  G01S7/481 ,  H01L27/30

Abstract: 本发明涉及一种光学检测器(110)，用于光学检测，特别是红外光谱范围内的辐射的光学检测，具体地说，涉及感测对象(112)的至少一种光学可设想的特性。更具体地，光学检测器(110)可以用于确定至少一个对象(112)的透射率、吸收、发射、反射率和/或位置。此外，本发明涉及用于制造光学检测器(110)的方法以及光学检测器(110)的各种用途。光学检测器(110)包括：具有至少第一表面(116)和第二表面(118)的光学滤波器(114)，第二表面(118)相对于第一表面(116)相对设置，其中光学滤波器(114)被设计用于允许由第一表面(116)接收的入射光束(120)穿过光学滤波器(114)到达第二表面(118)，从而通过修改入射光束(120)的光谱成分来生成修改光束(122)；-传感器层(128)，其包括沉积在光学滤波器(114)的第二表面(118)上的光敏材料(130)，其中传感器层(128)设计成以取决于修改光束(122)对于传感器层(128)的照射的方式来生成至少一个传感器信号；以及-评估设备(140)，其被设计为通过评估传感器信号来生成由入射光束(120)提供的至少一信息项。光学检测器(110)构成改进的简单、成本有效且仍然可靠的检测器，该检测器用于检测光学辐射，特别是在红外光谱范围内，特别是关于感测透射率、吸收、发射和反射率中的至少一个。因此，光学检测器(110)能够尽可能有效地去除杂散光。

公开(公告)号：CN107438775A

公开(公告)日：2017-12-05

申请号：CN201680019688.5

申请日：2016-01-28

Applicant: 特里纳米克斯股份有限公司

Inventor： S·瓦鲁施 ,  I·布鲁德 ,  R·森德 ,  C·朗根施密德 ,  W·赫尔梅斯 ,  E·蒂尔 ,  S·伊尔勒

IPC: G01S7/481 ,  H01L27/146 ,  H01L27/30

CPC classification number: G01S17/66 ,  A63F13/213 ,  A63F13/30 ,  A63F13/655 ,  G01S7/4816 ,  G01S17/06 ,  H01L27/14601 ,  H01L27/14665 ,  H01L27/307 ,  H01L31/0224 ,  H01L31/09 ,  H01L51/0036 ,  H01L51/4253

Abstract: 提出了一种用于至少一个对象(112)的光学检测的检测器(110)。该检测器(110)包括：‑至少一个纵向光学传感器(114)，其中纵向光学传感器(114)具有至少一个传感器区域(130)，其中纵向光学传感器(114)被设计成以取决于由光束(132)对传感器区域(130)的照射的方式生成至少一个纵向传感器信号，其中给定照射的相同总功率，纵向传感器信号取决于传感器区域(130)中光束(132)的束横截面(174)，其中传感器区域(130)包括至少一种光导材料(134)，其中给定照射的相同总功率，光导材料(134)的电导率取决于传感器区域(130)中光束(132)的束横截面(174)，其中纵向传感器信号取决于电导率；以及‑至少一个评估装置(140)，其中评估装置(140)被设计成通过评估纵向光学传感器(114)的纵向传感器信号来生成关于对象(112)的纵向位置的至少一个信息项。由此，提供了用于准确地确定空间中的至少一个对象(112)的位置的简单且仍然有效的检测器(110)。

公开(公告)号：CN109564927B

公开(公告)日：2023-06-20

申请号：CN201780046664.3

申请日：2017-07-27

Applicant: 特里纳米克斯股份有限公司

Inventor： W·赫尔梅斯 ,  S·瓦鲁施 ,  R·森德 ,  I·布鲁德 ,  B·福伊尔施泰因

IPC: H01L27/146 ,  H01L31/02 ,  H01L31/0203 ,  H01L31/0216 ,  H01L31/0224 ,  H01L31/032 ,  H01L31/09 ,  H01L31/18 ,  G01S7/481 ,  G01S17/46

Abstract: 本发明涉及光学传感器、光学检测至少一个对象的包括光学传感器的检测器、制造光学传感器的方法以及光学传感器和检测器的各种用途。此外，本发明涉及人机接口、娱乐装置、扫描系统、跟踪系统、立体系统和相机。光学传感器(110)包括至少一个光电导材料(114)的层(112)、接触光电导材料(114)的层(112)的至少两个个体电接触(136、136')、以及沉积在光电导材料(114)的层(112)上的覆盖层(116)，其中覆盖层(116)是包括至少一种包含金属的化合物(120)的非晶层。光学传感器(110)可作为不笨重的气密封装提供，然而，该封装提供高度保护以防止湿气和/或氧气引起的可能劣化。而且，覆盖层(116)能够激活光电导材料(114)，这导致光学传感器(110)的性能提高。此外，光学传感器(110)可容易地制造并集成在电路载体装置上。

公开(公告)号：CN114127520A

公开(公告)日：2022-03-01

申请号：CN202080051314.8

申请日：2020-07-16

Applicant: 特里纳米克斯股份有限公司

Inventor： W·赫尔梅斯 ,  S·瓦鲁施 ,  R·森德

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/28 ,  G06V10/44 ,  G06V10/56

Abstract: 公开了一种光谱仪装置(110)。光谱仪装置(110)被配置为确定至少一个对象(112)的至少一项光谱或光谱学信息。光谱仪装置(110)被配置为确定从对象(112)传播到光谱仪装置(110)的至少一个光束的组分波长信号的强度。光谱仪装置(110)包括至少一个距离检测器(134)。距离检测器(134)被配置为确定关于至少一个对象(112)与光谱仪装置(110)之间的距离的至少一项距离信息。光谱仪装置(110)包括至少一个像素化成像检测器(121)，该至少一个像素化成像检测器(121)被配置为确定对象(112)的至少一个图像。光谱仪装置(110)包括至少一个评估装置(120)，该至少一个评估装置(120)被配置为通过评估由像素化成像检测器(121)确定的对象(112)的至少一个图像来确定至少一项材料信息。评估装置(120)被配置为在考虑所确定的距离信息和材料信息的情况下，对组分波长信号的所确定的强度执行至少一种光谱分析。

公开(公告)号：CN107438775B

公开(公告)日：2022-01-21

申请号：CN201680019688.5

申请日：2016-01-28

Applicant: 特里纳米克斯股份有限公司

Inventor： S·瓦鲁施 ,  I·布鲁德 ,  R·森德 ,  C·朗根施密德 ,  W·赫尔梅斯 ,  E·蒂尔 ,  S·伊尔勒

IPC: G01S7/481 ,  H01L27/146 ,  H01L27/30

Abstract: 提出了一种用于至少一个对象(112)的光学检测的检测器(110)。该检测器(110)包括：‑至少一个纵向光学传感器(114)，其中纵向光学传感器(114)具有至少一个传感器区域(130)，其中纵向光学传感器(114)被设计成以取决于由光束(132)对传感器区域(130)的照射的方式生成至少一个纵向传感器信号，其中给定照射的相同总功率，纵向传感器信号取决于传感器区域(130)中光束(132)的束横截面(174)，其中传感器区域(130)包括至少一种光导材料(134)，其中给定照射的相同总功率，光导材料(134)的电导率取决于传感器区域(130)中光束(132)的束横截面(174)，其中纵向传感器信号取决于电导率；以及‑至少一个评估装置(140)，其中评估装置(140)被设计成通过评估纵向光学传感器(114)的纵向传感器信号来生成关于对象(112)的纵向位置的至少一个信息项。由此，提供了用于准确地确定空间中的至少一个对象(112)的位置的简单且仍然有效的检测器(110)。

公开(公告)号：CN113491016A

公开(公告)日：2021-10-08

申请号：CN202080017095.1

申请日：2020-02-26

Applicant: 特里纳米克斯股份有限公司

Inventor： W·赫尔梅斯 ,  S·瓦鲁施 ,  S·穆勒 ,  R·赫 ,  H·贝克特尔 ,  T·阿尔腾贝克 ,  F·迪特曼 ,  B·福伊尔施泰因 ,  T·胡普福尔 ,  A·汉德瑞克 ,  R·古斯特 ,  P·P·卡莱塔 ,  D·克尔布莱因 ,  R·森德

IPC: H01L31/09 ,  H01L31/0224 ,  H01L31/032 ,  H01L31/02 ,  H01L31/0203

Abstract: 光学传感器、包括用于光学检测至少一个对象的光学传感器的检测器，以及用于制造该光学传感器的方法。光学传感器(110)包括基板(120)、具有至少一种光电导材料(114)的光电导层(112)和至少一个电极层(124)。除了电极层的第一边缘部分(128)之外的电极层呈现厚度d0。电极层的第一边缘部分(128)以电极‑光电导体界面(132)被形成在电极层的表面(134)的方式被光电导层(112)的边缘部分(130)覆盖。电极‑光电导体界面(132)包括第一、第二和第三段(138、140、142)。电极层的在第一段(138)内的厚度d1等于厚度d0，电极层的在第二段(140)内的厚度d2等于或超过厚度d0，并且电极层的在第三段(142)内的厚度d3在第三段内朝着电极层的边缘(146)连续且单调地减小。根据欧姆定律，光学传感器(110)表现出线性电流‑电压特性。

公开(公告)号：CN110770555A

公开(公告)日：2020-02-07

申请号：CN201880041079.9

申请日：2018-04-19

Applicant: 特里纳米克斯股份有限公司

Inventor： T·阿尔腾贝克 ,  H·贝克特尔 ,  R·赫 ,  F·迪特曼 ,  S·穆勒 ,  T·胡普福尔 ,  P·P·卡莱塔 ,  R·古斯特 ,  B·福伊尔施泰因 ,  W·赫尔梅斯 ,  S·瓦鲁施 ,  R·森德 ,  I·布鲁德

IPC: G01J5/08 ,  G01J5/20 ,  H01L27/14

Abstract: 本发明涉及用于光学检测的检测器(110)，其包含旨在支承至少一个层的电路载体(130)，其中所述电路载体(130)是或包含印刷电路板(132)；反射层(138)，所述反射层(138)布置在电路载体(130)的一部分上，其中所述反射层(138)旨在反射入射光束(120)，由此生成至少一个反射光束(124)；基底层(114)，所述基底层(114)直接或间接毗邻反射层(138)，其中所述基底层(114)对入射光束(120)至少部分透明；传感器层(122)，所述传感器层(122)布置在基底层(114)上，其中所述传感器层(122)旨在以依赖于通过入射光束和反射光束(124)照射传感器层(122)的方式生成至少一个传感器信号；和评估装置(140)，其旨在通过评估传感器信号生成至少一个信息项；和至少两个接触传感器层(122)的独立电触点(148、148’)，其中所述电触点(148、148’)旨在将传感器信号经电路载体(130)传送到评估装置(150)。检测器(110)构成用于检测尤其在红外光谱范围内的光学辐射的检测器，尤其关于透射系数、吸收、发射和反射系数的至少一种，其能够避免入射光的损失。

公开(公告)号：CN109564286A

公开(公告)日：2019-04-02

申请号：CN201780047340.1

申请日：2017-07-27

Applicant: 特里纳米克斯股份有限公司

Inventor： W·赫尔梅斯 ,  C·朗根施密德 ,  S·瓦鲁施 ,  R·森德 ,  I·布鲁德

IPC: G01S17/06

Abstract: 公开了用于光学检测至少一个对象(112)的检测器(110)，其中检测器(110)包括：至少一个纵向光学传感器(114)，其中纵向光学传感器(114)具有至少一个传感器区域(130)，其中纵向光学传感器(114)被设计为以依赖于光束(132)对传感器区域(130)的照射的方式生成至少一个纵向传感器信号，其中给定相同的照射总功率，纵向传感器信号取决于传感器区域(130)中的光束(132)的束横截面(158)，其中传感器区域(130)是或包括至少一个温差电单元(134)，其中温差电单元(134)被设计为在光束(132)照射传感器区域(130)或其一部分时，由于温差电单元(134)中的温度的空间变化或时间变化中的至少一者生成纵向传感器信号；以及至少一个评估装置(142)，其中评估装置(142)被设计为通过评估纵向传感器信号来生成关于对象(112)的纵向位置的至少一个信息项。从而，提供了通过使用从紫外到远红外光谱范围的宽光谱范围，特别是中红外光谱范围内的光束(132)准确地确定空间中的至少一个对象(112)的位置的简单但有效的检测器(110)。