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    采用集成滤波器的红外光学检测器
    1.
    发明授权
    采用集成滤波器的红外光学检测器 有权

    公开(公告)号：CN109923372B

    公开(公告)日：2021-12-21

    申请号：CN201780065812.6

    申请日：2017-10-24

    申请人： 特里纳米克斯股份有限公司

    发明人： S·瓦鲁施 ,  R·森德 ,  I·布鲁德 ,  W·赫尔梅斯

    IPC分类号： G01C3/00 ,  G01S7/481 ,  H01L27/30

    摘要： 本发明涉及一种光学检测器(110)，用于光学检测，特别是红外光谱范围内的辐射的光学检测，具体地说，涉及感测对象(112)的至少一种光学可设想的特性。更具体地，光学检测器(110)可以用于确定至少一个对象(112)的透射率、吸收、发射、反射率和/或位置。此外，本发明涉及用于制造光学检测器(110)的方法以及光学检测器(110)的各种用途。光学检测器(110)包括：具有至少第一表面(116)和第二表面(118)的光学滤波器(114)，第二表面(118)相对于第一表面(116)相对设置，其中光学滤波器(114)被设计用于允许由第一表面(116)接收的入射光束(120)穿过光学滤波器(114)到达第二表面(118)，从而通过修改入射光束(120)的光谱成分来生成修改光束(122)；‑传感器层(128)，其包括沉积在光学滤波器(114)的第二表面(118)上的光敏材料(130)，其中传感器层(128)设计成以取决于修改光束(122)对于传感器层(128)的照射的方式来生成至少一个传感器信号；以及‑评估设备(140)，其被设计为通过评估传感器信号来生成由入射光束(120)提供的至少一信息项。光学检测器(110)构成改进的简单、成本有效且仍然可靠的检测器，该检测器用于检测光学辐射，特别是在红外光谱范围内，特别是关于感测透射率、吸收、发射和反射率中的至少一个。因此，光学检测器(110)能够尽可能有效地去除杂散光。

    光谱仪装置
    2.
    发明公开
    光谱仪装置 审中-公开

    公开(公告)号：CN112105897A

    公开(公告)日：2020-12-18

    申请号：CN201980031385.9

    申请日：2019-05-10

    申请人： 特里纳米克斯股份有限公司

    发明人： S·瓦鲁施 ,  W·赫尔梅斯 ,  R·森德 ,  R·古斯特 ,  B·福伊尔施泰因 ,  I·布鲁德

    IPC分类号： G01J3/28 ,  G01J3/12 ,  G01J1/02

    摘要： 公开了光谱仪装置(110)。光谱仪装置(110)包括：至少一个滤波元件(114)，其适于将至少一个入射光束分离成组分波长的光谱；至少一个传感器元件(140)，其具有光学传感器(116、142)的矩阵，每个光学传感器(116、142)具有光敏区域，其中每个光学传感器(116、142)被配置为响应于从至少一个对象(112)传播到光谱仪的至少一个光束对光敏区域的照射而产生至少一个传感器信号，其中光学传感器(116、142)中的至少一个第一光学传感器适于响应于被第一组分波长照射而产生第一传感器信号，并且其中光学传感器(116、142)中的至少一个第二光学传感器适于响应于被第一组分波长照射而产生第二传感器信号；至少一个评估装置(120)，其被配置为通过评估第一传感器信号和第二传感器信号的组合信号Q，确定对象(112)的至少一个纵向坐标z，其中评估装置(120)被配置为通过在考虑所确定的纵向坐标z的情况下执行至少一种光谱分析来评估由光学传感器矩阵中的光学传感器(116、142)产生的至少一个传感器信号。

    采用集成滤波器的红外光学检测器
    3.
    发明公开
    采用集成滤波器的红外光学检测器 有权

    公开(公告)号：CN109923372A

    公开(公告)日：2019-06-21

    申请号：CN201780065812.6

    申请日：2017-10-24

    申请人： 特里纳米克斯股份有限公司

    发明人： S·瓦鲁施 ,  R·森德 ,  I·布鲁德 ,  W·赫尔梅斯

    IPC分类号： G01C3/00 ,  G01S7/481 ,  H01L27/30

    摘要： 本发明涉及一种光学检测器(110)，用于光学检测，特别是红外光谱范围内的辐射的光学检测，具体地说，涉及感测对象(112)的至少一种光学可设想的特性。更具体地，光学检测器(110)可以用于确定至少一个对象(112)的透射率、吸收、发射、反射率和/或位置。此外，本发明涉及用于制造光学检测器(110)的方法以及光学检测器(110)的各种用途。光学检测器(110)包括：具有至少第一表面(116)和第二表面(118)的光学滤波器(114)，第二表面(118)相对于第一表面(116)相对设置，其中光学滤波器(114)被设计用于允许由第一表面(116)接收的入射光束(120)穿过光学滤波器(114)到达第二表面(118)，从而通过修改入射光束(120)的光谱成分来生成修改光束(122)；-传感器层(128)，其包括沉积在光学滤波器(114)的第二表面(118)上的光敏材料(130)，其中传感器层(128)设计成以取决于修改光束(122)对于传感器层(128)的照射的方式来生成至少一个传感器信号；以及-评估设备(140)，其被设计为通过评估传感器信号来生成由入射光束(120)提供的至少一信息项。光学检测器(110)构成改进的简单、成本有效且仍然可靠的检测器，该检测器用于检测光学辐射，特别是在红外光谱范围内，特别是关于感测透射率、吸收、发射和反射率中的至少一个。因此，光学检测器(110)能够尽可能有效地去除杂散光。

    用于对至少一个对象进行光学检测的检测器
    7.
    发明公开
    用于对至少一个对象进行光学检测的检测器 无效

    公开(公告)号：CN110352493A

    公开(公告)日：2019-10-18

    申请号：CN201880010577.7

    申请日：2018-02-07

    申请人： 特里纳米克斯股份有限公司

    发明人： S·瓦鲁施 ,  W·赫尔梅斯 ,  I·布鲁德 ,  R·森德 ,  C·朗根施密德

    IPC分类号： H01L27/30 ,  G01C3/06 ,  G01S17/46 ,  H01L27/146 ,  G01S7/481 ,  H01L31/0224 ,  H01L51/44

    摘要： 提出了一种用于至少一个对象(112)的光学检测的检测器(110)。所述检测器(110)包括：至少一个横向光学传感器(114)，其适于确定从所述对象(112)向所述检测器(110)行进的光束(136)的横向位置，其中所述横向位置是在垂直于所述检测器(110)的光轴(116)的至少一个维度上的位置，其中所述横向光学传感器(114)具有嵌入在至少两个导电层(132、132’)之间的至少一个光敏层(130)，其中所述导电层中的至少一个(132)包括在至少部分透明基板(135)上的至少部分透明的石墨烯层(134)，从而来允许所述光束(136)行进到所述光敏层(130)，其中所述横向光学传感器(114)还适于生成指示所述光束(136)在所述光敏层(130)中的所述横向位置的至少一个横向传感器信号；以及至少一个评估装置(140)，其中所述评估装置(140)被设计成通过评估所述至少一个横向传感器信号来生成与所述对象(112)的横向位置相关的信息中的至少一项。因此，提供了一种简单且仍然有效的检测器(110)，用于精确确定至少一个物体(112)的横向位置，尤其是在可见光谱范围和/或红外光谱范围的分区中，特别是对于380nm至3000nm的波长。

    用于光学检测至少一个对象的检测器
    9.
    发明公开
    用于光学检测至少一个对象的检测器 审中-实审

    公开(公告)号：CN109891265A

    公开(公告)日：2019-06-14

    申请号：CN201780066208.5

    申请日：2017-10-24

    申请人： 特里纳米克斯股份有限公司

    发明人： S·瓦鲁施 ,  W·赫尔梅斯 ,  S·亨根 ,  R·森德 ,  I·布鲁德

    IPC分类号： G01S17/46 ,  G01S7/481 ,  H01L31/02

    摘要： 提出了光学检测至少一个对象(112)的检测器(110)。此外本发明涉及光学检测至少一个对象(112)的方法和检测器(110)的各种用途。检测器(110)包括：至少一个光学传感器(114)，光学传感器(114)具有至少一个传感器区域(114)，传感器区域(114)包括至少一个弯曲基板(142)和具有光电导材料(136)的至少一个膜(134)，其中膜(134)被置于弯曲基板(142)的至少一个表面(140,172)上，其中光学传感器(114)被设计为以依赖于光束(124)对传感器区域(114)的照射的方式生成至少一个传感器信号；至少一个传送装置(120)，传送装置(120)适于将光束(124)从对象(112)传送到光学传感器(114)，从而适于将光束(124)引导到位于弯曲基板(142)上的膜(134)；以及至少一个评估装置(154)，其中评估装置(154)被设计为通过评估光学传感器(114)的传感器信号来生成关于对象(112)的位置的至少一个信息项。从而，提供了用于准确地确定至少一个对象(112)在空间中的位置的简单、成本有效且仍可靠的检测器(110)。

    光学传感器和用于光学检测的检测器
    10.
    发明授权
    光学传感器和用于光学检测的检测器 有权

    公开(公告)号：CN109564927B

    公开(公告)日：2023-06-20

    申请号：CN201780046664.3

    申请日：2017-07-27

    申请人： 特里纳米克斯股份有限公司

    发明人： W·赫尔梅斯 ,  S·瓦鲁施 ,  R·森德 ,  I·布鲁德 ,  B·福伊尔施泰因

    IPC分类号： H01L27/146 ,  H01L31/02 ,  H01L31/0203 ,  H01L31/0216 ,  H01L31/0224 ,  H01L31/032 ,  H01L31/09 ,  H01L31/18 ,  G01S7/481 ,  G01S17/46

    摘要： 本发明涉及光学传感器、光学检测至少一个对象的包括光学传感器的检测器、制造光学传感器的方法以及光学传感器和检测器的各种用途。此外，本发明涉及人机接口、娱乐装置、扫描系统、跟踪系统、立体系统和相机。光学传感器(110)包括至少一个光电导材料(114)的层(112)、接触光电导材料(114)的层(112)的至少两个个体电接触(136、136')、以及沉积在光电导材料(114)的层(112)上的覆盖层(116)，其中覆盖层(116)是包括至少一种包含金属的化合物(120)的非晶层。光学传感器(110)可作为不笨重的气密封装提供，然而，该封装提供高度保护以防止湿气和/或氧气引起的可能劣化。而且，覆盖层(116)能够激活光电导材料(114)，这导致光学传感器(110)的性能提高。此外，光学传感器(110)可容易地制造并集成在电路载体装置上。