一种半导体器件的ESD测试系统、测试方法和控制装置

    公开(公告)号:CN115480120A

    公开(公告)日:2022-12-16

    申请号:CN202211232635.5

    申请日:2022-10-10

    IPC分类号: G01R31/00 G01R31/26

    摘要: 一种半导体器件的ESD测试系统、测试方法和控制装置,包括静电发生组和被测管脚端,还包括测试电路,所述测试电路具有继电器和逻辑门电路,所述继电器的一触点端与所述静电发生组的静电释放端连接,另一触点端与所述被测管脚端连接,所述逻辑门电路与所述继电器的信号控制端电性连接以使所述继电器根据所述逻辑门电路的输出信号控制所述静电发生组和所述被测管脚端之间的导通或浮空。本发明通过控制组的各路输出控制高低电平信号输出,进而对测试电路的控制,从而实现静电发生组和被测管脚端之间的导通和断开,达到控制管脚浮空或导通的目的,弥补了传统ESD测试技术人工控制费时费力的缺陷,增强了整体系统的可控性,降低了测试成本。

    一种门极驱动芯片
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114678840A

    公开(公告)日:2022-06-28

    申请号:CN202210374797.6

    申请日:2022-04-11

    摘要: 本发明公开了一种门极驱动芯片,所述门极驱动芯片,包括逻辑输入电路模块和驱动电路模块,所述逻辑输入电路模块的输入端口与主电路的控制信号输出端口连接,用于接收主电路发送的PWM控制信号;所述驱动电路模块的输入端口与逻辑输入电路模块的输出端口连接,所述驱动电路模块的输出端口与待驱动设备连接,所述驱动电路模块用于根据PWM控制信号实现待驱动设备的驱动控制;所述驱动电路模块的门极电阻为第一可编程电阻电路,所述门极驱动芯片设置有门极电阻I/O端口,通过所述门极电阻I/O端口接收第一电阻调节控制信号以对第一可编程电阻电路的阻值进行控制。本发明可使用同一颗门极驱动芯片满足不同型号的待驱动设备的驱动需求,降低材料清单成本。

    一种DBC模块铝线焊接过程中用于引线框架的压合装置

    公开(公告)号:CN115415724A

    公开(公告)日:2022-12-02

    申请号:CN202211273271.5

    申请日:2022-10-18

    IPC分类号: B23K37/04

    摘要: 本发明公开了一种DBC模块铝线焊接过程中用于引线框架的压合装置,包括引线框架和用于压紧引线框架的压板组装套件,所述压板组装套件设有左压板和右压板,所述左压板和右压板上均开设有与引线框架待焊接部位适配的焊接口,所述焊接口的开口处设有压爪组件,所述引线框架的下方位置设有垫块,所述垫块的顶部可拆卸安装有沿引线框架方向上下伸缩的弹性件。本发明上方压板组装套件和下方垫块的组合,能够对平整度较好的框架、平整度较差的框架或同一框架不同基岛存在高度差时,从上面进行良好压合再做铝线焊接,解决IGBT/FRD芯片基岛无法准确压到位而导致可能虚焊的问题,提高焊接质量。

    一种智能功率模块及其制作方法
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114695327A

    公开(公告)日:2022-07-01

    申请号:CN202210373567.8

    申请日:2022-04-11

    摘要: 本发明公开了一种智能功率模块及其制作方法,智能功率模块包括设置于基板上的引线框架,在基板上对应引线框架的贴片位置设置有贴片区域;设置在对应贴片区域的上、下桥驱动芯片以及与上、下桥驱动芯片连接的功率开关器件;上、下桥驱动芯片内集成有输入逻辑电路模块和驱动电路模块,以接收主电路发送的PWM控制信号,并根据PWM控制信号实现待驱动功率芯片的驱动控制,驱动电路模块的门极电阻采用第一可编程电阻电路实现,上、下桥驱动芯片均设有门极电阻I/O端口,以通过门极电阻I/O端口控制各自对应的第一可编程电阻电路的阻值,实现门极电阻的阻值设置,满足不同型号功率开关器件的驱动需求及应用端需求,拓宽了智能功率模块的应用范围。

    一种DBC模块铝线焊接过程中用于引线框架的压合装置

    公开(公告)号:CN218284330U

    公开(公告)日:2023-01-13

    申请号:CN202222739265.6

    申请日:2022-10-18

    IPC分类号: B23K37/04

    摘要: 本实用新型公开了一种DBC模块铝线焊接过程中用于引线框架的压合装置,包括引线框架和用于压紧引线框架的压板组装套件,所述压板组装套件设有左压板和右压板,所述左压板和右压板上均开设有与引线框架待焊接部位适配的焊接口,所述焊接口的开口处设有压爪组件,所述引线框架的下方位置设有垫块,所述垫块的顶部可拆卸安装有沿引线框架方向上下伸缩的弹性件。本实用新型上方压板组装套件和下方垫块的组合,能够对平整度较好的框架、平整度较差的框架或同一框架不同基岛存在高度差时,从上面进行良好压合再做铝线焊接,解决IGBT/FRD芯片基岛无法准确压到位而导致可能虚焊的问题,提高焊接质量。

    一种新型IPM模块封装使用双排引线框架

    公开(公告)号:CN219575630U

    公开(公告)日:2023-08-22

    申请号:CN202223440862.5

    申请日:2022-12-22

    IPC分类号: H01L23/495

    摘要: 本实用新型公开了一种新型IPM模块封装使用双排引线框架,包括引线框架本体和若干沿引线框架本体长度方向阵列设置的产品单元,任一所述产品单元的中部设置有第一引线区,所述第一引线区上下两侧连接有第一基岛和第二基岛,所述第一基岛远离第一引线区的一侧连接有第二引线区,所述第二基岛远离第一引线区的一侧连接有第三引线区,所述第一基岛和第二基岛的正面设置有粗化结构,相邻的所述产品单元之间设置有树脂流道。本实用新型提供的新型IPM模块封装使用双排引线框架,其框架单元体积小、密度高,方便制造,节省材料,降低成本,塑封时不易分层开裂,产品质量高,能有效满足客户越来越高的使用需求。

    一种半导体器件的ESD测试系统

    公开(公告)号:CN218824509U

    公开(公告)日:2023-04-07

    申请号:CN202222655557.1

    申请日:2022-10-10

    IPC分类号: G01R31/00 G01R31/26

    摘要: 一种半导体器件的ESD测试系统,包括静电发生组和被测管脚端,还包括测试电路,所述测试电路具有继电器和逻辑门电路,所述继电器的一触点端与所述静电发生组的静电释放端连接,另一触点端与所述被测管脚端连接,所述逻辑门电路与所述继电器的信号控制端电性连接以使所述继电器根据所述逻辑门电路的输出信号控制所述静电发生组和所述被测管脚端之间的导通或浮空。本实用新型通过控制组的各路输出控制高低电平信号输出,进而对测试电路的控制,从而实现静电发生组和被测管脚端之间的导通和断开,达到控制管脚浮空或导通的目的,弥补了传统ESD测试技术人工控制费时费力的缺陷,增强了整体系统的可控性,降低了测试成本。