-
公开(公告)号：CN104849647A
公开(公告)日：2015-08-19
申请号：CN201410052000.6
申请日：2014-02-17
Applicant: 飞思卡尔半导体公司
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G06F17/5036 , G06F2217/76
Abstract: 一种用于集成电路可靠性老化仿真的方法，包括：将所述目标时间段划分成N个阶段，包括第一阶段和第二阶段；获取可靠性模型的用于所述第一阶段的第一参数值；对于所述第一阶段，基于所述可靠性模型和所述第一参数值对所述电路进行第一仿真，以获取第一老化结果；获取所述可靠性模型的用于所述第二阶段的第二参数值；以及对于所述第二阶段，基于所述可靠性模型和所述第二参数值对所述电路进行第二仿真，以获取第二老化结果。
Search Results
1
records
(took 0.038 seconds)
筛选
AND
AND
过滤
NOT
NOT
Scan to Join
