公开(公告)号：CN103123362B

公开(公告)日：2015-07-08

申请号：CN201110373147.1

申请日：2011-11-21

申请人： 中国科学院沈阳自动化研究所

发明人： 王越超 ,  刘连庆 ,  王智博 ,  董再励 ,  袁帅 ,  张常麟

IPC分类号： G01Q10/00

CPC分类号： G01Q30/04 ,  G01Q60/42

摘要： 本发明涉及纳米操作技术领域，更具体是一种面向细胞机械特性检测的AFM探针快速定位方法。本方法通过在细胞边缘图像中实施霍夫变换检测圆形的方式实现细胞的识别，同时获得各个待测细胞的半径以及中心位置信息，并计算出各个待测细胞与探针悬臂梁在工作空间内的实际距离；通过对待测细胞的快速局部扫描，确定探针针尖与待测细胞的相对位置关系；依次实现AFM针尖对各个待测细胞测量点的快速定位，完成各个细胞机械特性的测量。本发明利用了视觉图像处理技术标定待测细胞和探针悬臂梁在工作空间的相对位置关系，可实现探针运动到待测细胞的编程控制，提高了探针操作效率；还利用了快速局部扫描方法，实现了AFM针尖和细胞相对位置的精确标定，提高了细胞机械特性测量的准确性。

公开(公告)号：CN1706002B

公开(公告)日：2012-11-21

申请号：CN200380101491.9

申请日：2003-10-16

申请人： 英特尔公司

发明人： H·奥瑟克 ,  A·伯林 ,  S·陈 ,  E·汉娜 ,  N·孙达拉简 ,  M·山川

IPC分类号： G12B21/00 ,  G01N27/00

CPC分类号： G01Q30/04 ,  B82Y35/00

摘要： 在本发明某些实施方案中，可以使用不同的成像技术诸如不同形式的扫描探针显微技术捕获一个或多个对象的一系列图像。利用已知的分子结构的一种或多种模型，可以由所述的一系列图像估算出参量，以提供基于模型的分析。所述的估算出的参量可以与来自已知的分子结构的物理模型的进一步输入相融合。融合参量可以用来表征对象。这样的表征可以包括检测和/或鉴定特定的分子结构，例如具有已知序列和/或结构的蛋白、肽和/或核酸。在本发明的某些实施方案中，结构表征可以用来鉴定对象分子的先前未知的性质。

公开(公告)号：CN107860944A

公开(公告)日：2018-03-30

申请号：CN201711076575.1

申请日：2014-03-14

申请人： 布鲁克纳米股份有限公司

发明人： 格里高利·安德烈夫 ,  谢尔盖·奥斯钦斯基 ,  斯蒂芬·明尼 ,  苏婵敏

IPC分类号： G01Q20/02 ,  G01Q60/22

CPC分类号： G01Q30/04 ,  G01Q20/02 ,  G01Q60/18 ,  G01Q60/22

摘要： 本发明涉及使用归一化近场光谱对样品的化学纳米识别。实施例涉及对样品进行纳米识别的装置和方法，包括：借助于倏逝波测量在样品与在样品上方的纳米距离处振荡的光学纳米天线之间的近场相互作用的光谱，鉴别对这样近场相互作用不敏感的背景背散射的辐射。鉴别通过在不知道隔开纳米天线与样品的距离的情况下于纳米天线振荡的周期性重复的时刻进行的光学数据采集实现。测量包括对纳米尺度的样品的化学识别，在该测量期间，代表所述相互作用的与近场辐射对应的相位的绝对值被直接测得。装置和测量的校准通过在样品测量之前执行对具有已知的折射率的参考样品的参考测量提供。纳米识别以50nm以内的分辨率来实现，可选地被实现于光谱的中红外部分内。

公开(公告)号：CN107003334A

公开(公告)日：2017-08-01

申请号：CN201480083538.1

申请日：2014-11-21

申请人： 株式会社岛津制作所

发明人： 新井浩 ,  大田昌弘

IPC分类号： G01Q30/04

CPC分类号： G01Q30/04 ,  G06F3/0482 ,  G06F3/04845 ,  G06T11/206

摘要： 扫描型探针显微镜用数据显示处理装置(1)具备：群组信息存储部(37)，针对每个群组，对多个测定数据进行管理存储；指定数据取得单元(32)，从群组信息存储部(37)取得使用者指定的测定数据即指定数据；显示控制单元(34)，将指定数据作为图像显示在显示部的画面；预备图像生成单元(33)，以指定数据的决定为触发，从群组信息存储部(37)取得属于包含指定数据的群组的其他测定数据，生成将其他测定数据显示在画面时的图像即预备图像；以及第1显示切换单元(36)，依照画面显示有指定数据时进行的、使用者的第1规定输入操作，使预备图像在画面规定区域内切换显示，能够不强迫使用者进行烦杂操作而简便地阅览多个测定数据。

公开(公告)号：CN105911311A

公开(公告)日：2016-08-31

申请号：CN201610523453.1

申请日：2016-07-05

申请人： 北京工业大学

发明人： 张跃飞 ,  王晋 ,  马晋遥

IPC分类号： G01Q30/02 ,  G01Q30/04

CPC分类号： G01Q30/02 ,  G01Q30/04

摘要： 本发明提供了一种纳米材料力学性能原位测试系统，包括扫描电子显微镜，扫描探针测试单元，控制单元以及计算机；扫描探针测试单元包括底座，设于底座上表面一侧的调节台，设于底座上表面另一侧的测量机构；扫描电子显微镜包括电镜极靴，调节台上设有样品台，X轴调节装置、Y轴调节装置，Z轴调节装置；测量机构包括激光光路调节装置，设于底座上的探针基座，以及设于探针基座上的探针，探针位于电镜极靴下方，激光光路调节装置用于准直和聚焦激光。本发明真正意义上实现了扫描电子显微镜原位观察测试过程中扫描探针与样品的作用过程以及外场物理力学作用下样品微结构的演变过程，并将系列事件的微观图像和力学性能测试数据传输到计算机的功能。

公开(公告)号：CN105527461A

公开(公告)日：2016-04-27

申请号：CN201610029398.0

申请日：2016-01-16

申请人： 北京工业大学

发明人： 韩晓东 ,  张斌 ,  陈永金 ,  刘显强 ,  邓青松

IPC分类号： G01Q30/04

CPC分类号： G01Q30/04

摘要： 本发明提供一种基于透射电镜HAADF图像的材料结构定量化分析方法。通过图像处理技术获取透射电镜高分辨图像中各原子点阵的坐标位置，得到各原子的积分强度及其邻域归一化强度，并充分结合HAADF成像原理与强度信息的关系，而在HAADF图像定性研究的基础上获得一些定量化的信息。通过原子点阵坐标，归一化强度等数据可分析出多种的定量化结构信息。在本方法中，原子点阵坐标的确定与强度积分科学合理；而邻域归一化强度的应用避免了材料(尤其是多晶纳米材料)中存在的较大范围内的结构波动和缺陷带来的影响；且能快速的对结构信息进行统计分析，避免了人为测量的巨大工作量及误差。该方法具有结果准确、适用范围广、可操作性强等特点。

公开(公告)号：CN101855534A

公开(公告)日：2010-10-06

申请号：CN200880115559.1

申请日：2008-09-12

申请人： 威科仪器公司

发明人： 苏全民 ,  谢尔盖·别利科夫

IPC分类号： G01N13/10 ,  H01J37/26

CPC分类号： G01Q30/04 ,  G01Q10/06 ,  Y10S977/85

摘要： 一种操作扫描探针显微镜(SPM)(10)的方法，包括在所述SPM(10)的探针(14)与样品(22)相互作用时扫描所述样品(22)，以及收集响应于所述扫描步骤(36)的样品表面数据。所述方法从所述样品表面数据识别(38)所述样品(22)的特征，并且基于所述识别步骤(38)以自动执行所述特征的放大扫描(42)。所述方法操作为快速识别和确认目的特征如纳米微刺(asperity)的位置，以有助于执行所述特征的定向高分辨率成像。

公开(公告)号：CN101313196A

公开(公告)日：2008-11-26

申请号：CN200680043642.3

申请日：2006-10-17

申请人： 阿而利克斯公司

发明人： O·阿卡基

IPC分类号： G01B9/02

CPC分类号： G01Q20/02 ,  G01N21/6456 ,  G01Q30/04 ,  G01Q60/20 ,  G03H2001/0077

摘要： 本发明采用空间调制的光学力显微术(SMOFM)产生探针光束作为作用力探针来干扰黏附于或置于某表面上的物体，因而随后可定量检测所述物体的变形情况，所述显微术具有单光束光学力检测能力或装有能进行多光束光学力检测并与显微镜物镜耦合的全息光肼系统。利用计算机控制的空间光调制器使图像的一系列四(4)张相移复制品成像并采用现有算法通过像素光程长计算像素来定量测定。如果所述物体是细胞，光程长的变化以及随后引发的粘弹性或弹性反应表明损伤或疾病。在另一实施方式中，可检测细胞的光学变形性，并使之与细胞骨架/结构蛋白质表达的测量值相关联。

公开(公告)号：CN1900688A

公开(公告)日：2007-01-24

申请号：CN200610088968.X

申请日：2006-07-27

申请人： 北京大学

发明人： 刘争晖 ,  张朝晖

IPC分类号： G01N13/10 ,  G12B21/20

CPC分类号： G01Q10/065 ,  G01Q30/04

摘要： 本发明提供一种扫描探针显微镜的全数字化控制方法及系统，由单个中央处理器多任务并行地进行反馈控制、扫描控制、接受输入和数据处理。该控制方法为：将扫描探针显微镜的针尖和样品相互作用大小转换成为电压值连接到A/D卡，A/D卡周期性定时地进行A/D转换并在每次转换完成后通过中断信号通知中央处理器，中央处理器暂停当前的接受输入和数据处理的任务，转而进行反馈控制和扫描控制：对A/D卡转换得到的数字量进行负反馈计算得到探针和样片之间的距离，然后根据设定的扫描轨迹计算出针尖所要移动到的位置，最后这些控制量通过D/A卡转换成电压，使探针发生移动。本发明控制系统结构简单，全数字化的负反馈计算精度高。

公开(公告)号：CN1666312A

公开(公告)日：2005-09-07

申请号：CN03816140.0

申请日：2003-07-07

申请人： 马尔蒂普罗布公司

发明人： 凯西·帕特里克·黑尔 ,  安德鲁·诺曼·埃里克森

IPC分类号： H01J37/00 ,  H01J3/14 ,  G01B5/28

CPC分类号： G01Q10/06 ,  G01Q30/04 ,  G01Q70/06 ,  Y10S977/85 ,  Y10S977/874

摘要： 本发明涉及一种近距离扫描多探针扫描显微镜的方法及装置，其可同时对多个重叠扫描区域进行扫描并避免碰撞，其使用一控制系统(130)向一第一原子力显微镜(AFM)(148a)提供驱动信号，并依据第一驱动信号及其他AFM距该第一AFM的相对位置向其他AFM(148b及148c)提供计算出的驱动信号，以使其在移动中保持恒定间隔。使用多个AFM对多个目标形貌进行扫描及故障分析(FA)探测可减少勘定FA形貌及建立测量值所需时间。